[發明專利]一種基于變異的FPGA邏輯綜合工具模糊測試方法有效
| 申請號: | 202110687838.2 | 申請日: | 2021-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN113434390B | 公開(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發明(設計)人: | 江賀;張漪;施重陽;劉輝 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京正陽理工知識產權代理事務所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 張利萍 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 變異 fpga 邏輯 綜合 工具 模糊 測試 方法 | ||
1.一種基于變異的FPGA邏輯綜合工具模糊測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:構建FPGA邏輯綜合工具初始測試用例種子集Q;
采用隨機生成器,得到初始測試用例程序種子集;
步驟2:依次從步驟1中構建的初始測試用例集中選取用例,然后進行步驟3;
步驟3:判斷測試用例變異的數量是否已達到設定值;
若未達到,則執行步驟4,對步驟2所選取用例進行變異操作;若已達到,則進行步驟5;
步驟4:執行變異操作,變異初始測試用例程序,得到新的測試用例程序變體集合Q′;
步驟5:從集合Q′中選取測試用例q′,作為待測FPGA邏輯綜合器的測試輸入,并對其進行已使用標記;
步驟6:收集保存FPGA工具測試的輸出結果,判斷檢測待測工具是否正常運行,或運行后的綜合結果與輸入的測試用例程序是否具有等價性;
具體為:
對于測試用例程序集Q′中的每一個測試用例程序q′,若其中一個測試用例程序令需要測試的FPGA邏輯綜合工具不能正常運行,或者工具正常運行后輸出的綜合網表與輸入不具有等價性,則認為該測試用例程序導致FPGA工具出現故障;此時,將導致FPGA綜合工具產生故障的測試用例程序進行保存,用于后續分析和約簡故障信息;
步驟7:判斷是否達到測試終止條件;
如果達到了測試終止條件,則終止測試,進行步驟8;否則,轉到步驟1,繼續執行測試;
整個FPGA測試的終止條件根據具體測試需求進行設定,包括設定測試迭代次數和測試時間;
步驟8:對引發待測邏輯綜合器產生故障的測試用例程序進行約減;
步驟9:將約簡的測試用例程序寫入bug報告,提交給FPGA邏輯綜合工具發者。
2.如權利要求1所述的一種基于變異的FPGA邏輯綜合工具模糊測試方法,其特征在于,步驟1中,對于初始測試用例程序,利用Verilog代碼隨機生成器進行構建。
3.如權利要求1所述的一種基于變異的FPGA邏輯綜合工具模糊測試方法,其特征在于,步驟6中,使用等價性價檢查工具判斷分析FPGA正常運行綜合后的綜合網表netlist與輸入是否有等價性。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京理工大學,未經北京理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110687838.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





