[發明專利]一種按鍵檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110678156.5
• 申請日: 2021-06-18
• 公開（公告）號: CN113422610B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發明（設計）人: 何永正;張杰;李洪志;王楊;李兆瑜
• 申請（專利權）人: 河南翔宇醫療設備股份有限公司
• 主分類號: H03M11/02
• 分類號: H03M11/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 牛亭亭

本申請公開了一種按鍵檢測方法，包括：按照預設周期對各個按鍵各自的狀態檢測電平進行更新，并在每次更新之后，按照預設規則構建出用于反映各個按鍵各自的狀態檢測電平的目標數據；根據目標數據，確定出各個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值，以完成對各個按鍵的檢測。應用本申請的方案，可以快速，有效地進行按鍵檢測，實現消抖，使用便捷性高。本申請還提供了一種按鍵檢測裝置，設備及存儲介質，具有相應技術效果。

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，特別是涉及一種按鍵檢測方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

目前，由于使用按鍵的設備越來越多，每個設備的按鍵數量也越來越多，使得按鍵檢測處理流程也越來越復雜。

在傳統方案中，進行按鍵檢測時，通常是依次進行各個按鍵的狀態判斷，即依次檢測各個按鍵對應的GPIO口狀態，從而分別做出反應。由于是依次進行各個按鍵的狀態判斷，隨著按鍵數量的增多，會不斷增加程序代碼量，并且，MCU判斷出各個按鍵狀態的總耗時也會越來越長。此外，為了進行按鍵消抖，目前的方案通常是設置延時函數來實現消抖，操作復雜，并且也不利于降低程序運行時間，即其他程序需要利用到按鍵狀態檢測結果時，需要等待延時函數執行完畢才能得到按鍵狀態檢測結果。

綜上所述，如何快速，有效地進行按鍵檢測，實現按鍵消抖，是目前本領域技術人員急需解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種按鍵檢測方法、裝置、設備及存儲介質，以快速，有效地進行按鍵檢測，且實現按鍵消抖。

為解決上述技術問題，本發明提供如下技術方案：

一種按鍵檢測方法，包括：

按照預設周期對各個按鍵各自的狀態檢測電平進行更新，并在每次更新之后，按照預設規則構建出用于反映各個按鍵各自的狀態檢測電平的目標數據；

根據所述目標數據，確定出各個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值，以完成對各個按鍵的檢測；

其中，任一按鍵的所述觸發變量值為用于表示該按鍵是否在當前周期從默認狀態變為被按下狀態的數值；任一按鍵的所述釋放變量值為用于表示該按鍵是否在當前周期從被按下狀態恢復為默認狀態的數值；任一按鍵的所述長按變量值為用于表示該按鍵在當前周期是否處于被按下狀態的數值。

優選的，所述目標數據至少具有N個bit，以依次反映出N個按鍵各自的狀態檢測電平；所述N為不小于2的正整數。

優選的，根據所述目標數據，確定出各個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值，包括：

根據所述目標數據，按照確定出N個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值；

其中，GPIO_Read表示所述目標數據，X為預設值且X的第1bit至第Nbit均為1，Trag的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的觸發變量值，Rel的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的釋放變量值，Count的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的長按變量值，Read_Data為預設的中間變量；表示與操作，∧表示異或操作；

N個按鍵在默認狀態下的狀態檢測電平均為高電平，所述目標數據至少具有N個bit，且第1bit至第Nbit的數值依次為N個按鍵各自的狀態檢測電平的電平值。

優選的，根據所述目標數據，確定出各個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值，包括：

根據所述目標數據，按照確定出N個按鍵各自的觸發變量值，釋放變量值以及長按變量值；