[發明專利]一種按鍵檢測方法、裝置、設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202110678156.5 | 申請日: | 2021-06-18 |
| 公開(公告)號: | CN113422610B | 公開(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發明(設計)人: | 何永正;張杰;李洪志;王楊;李兆瑜 | 申請(專利權)人: | 河南翔宇醫療設備股份有限公司 |
| 主分類號: | H03M11/02 | 分類號: | H03M11/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 牛亭亭 |
| 地址: | 456300 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 按鍵 檢測 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
1.一種按鍵檢測方法,其特征在于,包括:
按照預設周期對各個按鍵各自的狀態檢測電平進行更新,并在每次更新之后,按照預設規則構建出用于反映各個按鍵各自的狀態檢測電平的目標數據;
根據所述目標數據,確定出各個按鍵各自的觸發變量值,釋放變量值以及長按變量值,以完成對各個按鍵的檢測;
其中,任一按鍵的所述觸發變量值為用于表示該按鍵是否在當前周期從默認狀態變為被按下狀態的數值;任一按鍵的所述釋放變量值為用于表示該按鍵是否在當前周期從被按下狀態恢復為默認狀態的數值;任一按鍵的所述長按變量值為用于表示該按鍵在當前周期是否處于被按下狀態的數值;
所述目標數據至少具有N個bit,以依次反映出N個按鍵各自的狀態檢測電平;所述N為不小于2的正整數;
根據所述目標數據,確定出各個按鍵各自的觸發變量值,釋放變量值以及長按變量值,包括:
根據所述目標數據,按照確定出N個按鍵各自的觸發變量值,釋放變量值以及長按變量值;
其中,GPIO_Read表示所述目標數據,X為預設值且X的第1bit至第Nbit均為1,Trag的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的觸發變量值,Rel的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的釋放變量值,Count的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的長按變量值,Read_Data為預設的中間變量;表示與操作,∧表示異或操作;
N個按鍵在默認狀態下的狀態檢測電平均為高電平,所述目標數據至少具有N個bit,且第1bit至第Nbit的數值依次為N個按鍵各自的狀態檢測電平的電平值。
2.根據權利要求1所述的按鍵檢測方法,其特征在于,根據所述目標數據,確定出各個按鍵各自的觸發變量值,釋放變量值以及長按變量值,包括:
根據所述目標數據,按照確定出N個按鍵各自的觸發變量值,釋放變量值以及長按變量值;
其中,GPIO_Read表示所述目標數據,X為預設值且X的第1bit至第Nbit均為1,Trag的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的觸發變量值,Rel的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的釋放變量值,Count的第1bit至第Nbit依次表示第1按鍵至第N按鍵各自的長按變量值,Read_Data為預設的中間變量;表示與操作,∧表示異或操作;
N個按鍵在默認狀態下的狀態檢測電平均為低電平,所述目標數據至少具有N個bit,且第1bit至第Nbit的數值依次為N個按鍵各自的狀態檢測電平的電平值的相反電平值,其中,1的相反電平值為0,0的相反電平值為1。
3.根據權利要求1所述的按鍵檢測方法,其特征在于,各個按鍵均為超聲波治療儀中的按鍵。
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