[發(fā)明專利]一種同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法及計算機(jī)設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110673335.X | 申請日: | 2021-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN113419024A | 公開(公告)日: | 2021-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉占濤;朱永劍;王杰 | 申請(專利權(quán))人: | 恒天益科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01N31/00 | 分類號: | G01N31/00 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 謝松;徐凱凱 |
| 地址: | 518100 廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 同位素 溯源 排污 企業(yè) 方法 計算機(jī) 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了一種同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法及計算機(jī)設(shè)備,方法包括步驟:獲取排污的待測水樣,并檢測待測水樣中各同位素的豐度;針對每一種同位素,根據(jù)待測水樣中該同位素的豐度以及與該同位素對應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值,確定該同位素的同位素偏差值;根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定待測水樣對應(yīng)的同位素指紋數(shù)據(jù);根據(jù)同位素指紋數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)同位素指紋數(shù)據(jù),確定待測水樣對應(yīng)的排污企業(yè)。通過對待測水樣進(jìn)行同位素的豐度檢測,并確定同位素偏差值,再根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定同位素指紋數(shù)據(jù),從而根據(jù)同位素指紋數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)同位素指紋數(shù)據(jù),確定待測水樣對應(yīng)的排污企業(yè),從而實現(xiàn)對排污企業(yè)的溯源。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及同位素檢測領(lǐng)域,尤其涉及的是一種同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法及計算機(jī)設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著環(huán)保意識的增強(qiáng),企業(yè)排污問題逐漸受到重視?,F(xiàn)有技術(shù)中,雖然河流等水體中的污染超標(biāo),但是無法快速追溯排污企業(yè),也就是說,企業(yè)污染無法快速溯源。
因此,現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于,針對現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,提供一種同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法及計算機(jī)設(shè)備,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中企業(yè)污染無法快速溯源的問題。
本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下:
一種同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法,其中,包括步驟:
獲取排污的待測水樣,并檢測所述待測水樣中各同位素的豐度;
針對每一種同位素,根據(jù)所述待測水樣中該同位素的豐度以及與該同位素對應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值,確定該同位素的同位素偏差值;
根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的同位素指紋數(shù)據(jù);
根據(jù)所述同位素指紋數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)同位素指紋數(shù)據(jù),確定所述待測水樣對應(yīng)的排污企業(yè)。
所述的同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法,其中,所述同位素包括:13C、32P、15N、34S、26Mg、67Zn、129I、202Hg以及208Pb;所述根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的同位素指紋數(shù)據(jù),包括:
根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的特征同位素;其中,所述特征同位素為所述同位素中的至少一種;
根據(jù)所有特征同位素對應(yīng)的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的同位素指紋數(shù)據(jù)。
所述的同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法,其中,所述根據(jù)所有同位素的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的特征同位素,包括:
針對每一種同位素,當(dāng)該同位素的同位素偏差值與預(yù)設(shè)同位素偏差值不相等時,將該同位素作為所述待測水樣對應(yīng)的特征同位素。
所述的同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法,其中,所述同位素指紋數(shù)據(jù)為同位素雷達(dá)圖數(shù)據(jù);
所述根據(jù)所有特征同位素對應(yīng)的同位素偏差值,確定所述待測水樣對應(yīng)的同位素指紋數(shù)據(jù),包括:
將所有特征同位素對應(yīng)的同位素偏差值按照預(yù)設(shè)順序排列形成同位素雷達(dá)圖數(shù)據(jù);其中,所述預(yù)設(shè)順序為特征同位素的原子序數(shù)。
所述的同位素豐度溯源排污企業(yè)的方法,其中,所述預(yù)設(shè)閾值為背景樣品中同一同位素的同位素比值,所述同位素比值為同位素的豐度以及與該同位素對應(yīng)元素的豐度的比值;
所述針對每一種同位素,根據(jù)所述待測水樣中該同位素的豐度以及與該同位素對應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值,確定該同位素的同位素偏差值,包括:
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