[發明專利]一種同位素豐度溯源排污企業的方法及計算機設備

在審

• 申請號: 202110673335.X
• 申請日: 2021-06-17
• 公開（公告）號: CN113419024A
• 公開（公告）日: 2021-09-21
• 發明（設計）人: 劉占濤;朱永劍;王杰
• 申請（專利權）人: 恒天益科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01N31/00
• 分類號: G01N31/00
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 謝松;徐凱凱

1.一種同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，包括步驟：

獲取排污的待測水樣，并檢測所述待測水樣中各同位素的豐度；

針對每一種同位素，根據所述待測水樣中該同位素的豐度以及與該同位素對應的預設閾值，確定該同位素的同位素偏差值；

根據所有同位素的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的同位素指紋數據；

根據所述同位素指紋數據與預設同位素指紋數據，確定所述待測水樣對應的排污企業。

2.根據權利要求1所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述同位素包括：¹³C、³²P、¹⁵N、³⁴S、²⁶Mg、⁶⁷Zn、¹²⁹I、²⁰²Hg以及²⁰⁸Pb；所述根據所有同位素的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的同位素指紋數據，包括：

根據所有同位素的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的特征同位素；其中，所述特征同位素為所述同位素中的至少一種；

根據所有特征同位素對應的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的同位素指紋數據。

3.根據權利要求2所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述根據所有同位素的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的特征同位素，包括：

針對每一種同位素，當該同位素的同位素偏差值與預設同位素偏差值不相等時，將該同位素作為所述待測水樣對應的特征同位素。

4.根據權利要求2所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述同位素指紋數據為同位素雷達圖數據；

所述根據所有特征同位素對應的同位素偏差值，確定所述待測水樣對應的同位素指紋數據，包括：

將所有特征同位素對應的同位素偏差值按照預設順序排列形成同位素雷達圖數據；其中，所述預設順序為特征同位素的原子序數。

5.根據權利要求1所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述預設閾值為背景樣品中同一同位素的同位素比值，所述同位素比值為同位素的豐度以及與該同位素對應元素的豐度的比值；

所述針對每一種同位素，根據所述待測水樣中該同位素的豐度以及與該同位素對應的預設閾值，確定該同位素的同位素偏差值，包括：

針對每一種同位素，根據所述待測水樣中該同位素的豐度，確定該同位素的同位素比值；

根據該同位素的同位素比值以及背景樣品中同一同位素的同位素比值，確定該同位素的同位素偏差值。

6.根據權利要求5所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述同位素偏差值為：

其中，δ表示同位素的同位素偏差值，R_樣表示同位素的同位素比值，R_參表示背景樣品中同一同位素的同位素比值。

7.根據權利要求1所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，所述根據所述同位素指紋數據與預設同位素指紋數據，確定所述待測水樣對應的排污企業，包括：

確定所述同位素指紋數據與預設同位素指紋數據之間的相似度；

當所述相似度滿足預設條件時，將所述預設同位素指紋數據對應的企業類型作為所述待測水樣對應的排污企業。

8.根據權利要求1-7任意一項所述的同位素豐度溯源排污企業的方法，其特征在于，應用于監控系統，所述監控系統包括：通信連接的終端和云服務器；所述根據所述同位素指紋數據與預設同位素指紋數據，確定所述待測水樣對應的排污企業，包括：

所述終端將所述同位素指紋數據發送至所述云服務器；

所述云服務器接收所述同位素指紋數據，并根據所述同位素指紋數據，確定所述待測水樣對應的預設指紋數據庫；所述預設指紋數據庫按照產業領域或企業分類，所述預設指紋數據庫包括預設同位素指紋數據；

所述云服務器根據所述同位素指紋數據與預設同位素指紋數據，確定所述待測水樣對應的排污企業，并將所述排污企業發送給所述終端。