[發明專利]一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊

有效

• 申請號: 202110667773.5
• 申請日: 2021-06-16
• 公開（公告）號: CN113376170B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 盧亞賓;陳淼淼;馬行;王聚;唐警特
• 申請（專利權）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01;H04M1/24
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，包括：

S1、將多個第一標定板(2)設置于特征標定塊(1)的各個面上；

S2、通過圖像處理算法計算得出所述特征標定塊(1)每個面上的所述第一標定板(2)的平均灰度方差G，調整設備的方位使所述平均灰度方差G小于預設灰度方差；

S3、通過圖像處理算法提取所述特征標定塊(1)上設置有刻度標尺(3)的刻度區域并測量刻度間的像素間隔；

調整所述設備與所述特征標定塊(1)之間的間距，使像素間隔處于預設像素間隔范圍內，以使對應的所述特征標定塊(1)的實際長度處于預設長度范圍內；

S4、獲取設置在所述特征標定塊(1)上的箭頭(4)的頂點所在的圖像像素坐標，調整所述設備的位置使所述圖像像素坐標與預設坐標的誤差在預設誤差值之內。

2.根據權利要求1所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S2具體包括：

S21、通過圖像處理算法將所述特征標定塊(1)各面中的所述第一標定板(2)區域提取出來；

S22、計算得出各個所述第一標定板(2)的灰度值G_i，計算得出所述特征標定塊(1)中每個面上的所述第一標定板(2)的平均灰度值

S23、根據公式計算得出所述平均灰度方差G，其中，n為所述特征標定塊(1)每個面上的所述第一標定板(2)的總個數，i為當前所述第一標定板(2)的序號；

S24、調整所述設備的方位，使每個面的所述平均灰度方差G小于所述預設灰度方差。

3.根據權利要求2所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S1具體包括：

S11、在所述特征標定塊(1)的頂面和側面上分別開設預設數量的凹槽(11)；

S12、將多個所述第一標定板(2)一一對應設置于多個所述凹槽(11)內。

4.根據權利要求3所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S3中，所述刻度標尺(3)上的刻度最小間隔為1mm。

5.根據權利要求1所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S4中，所述箭頭(4)設于所述特征標定塊(1)的對稱軸上。

6.根據權利要求5所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S4中，通過圖像處理算法將所述特征標定塊(1)上的所述箭頭(4)提取出來，再計算所述箭頭(4)頂點所在的圖像像素坐標。

7.根據權利要求1所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，還包括：

S5、將第二標定板(6)包覆于灰度標定塊(5)上的各面上；

S6、計算得出所述灰度標定塊(5)上每個面的所述第二標定板(6)的灰度值；

S7、調整設備位置，使所述第二標定板(6)的灰度值小于預設面灰度值。

8.根據權利要求7所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述步驟S6中，調整設備中的光源強度，計算得出在不同光源強度下所述灰度標定塊(5)上每個面的所述第二標定板(6)的灰度值。

9.根據權利要求1-8任一項所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，包括一種產品外觀檢測的標定塊，所述產品外觀檢測的標定塊包括：

特征標定塊(1)，

第一標定板(2)，設有多個，多個所述第一標定板(2)分別設置于所述特征標定塊(1)的各個面上；

刻度標尺(3)，設置于所述特征標定塊(1)上；

箭頭(4)，設置于所述特征標定塊(1)上。

10.根據權利要求9所述的產品外觀檢測設備的校準方法，其特征在于，所述產品外觀檢測的標定塊還包括灰度標定塊(5)和第二標定板(6)，所述第二標定板(6)包覆于所述灰度標定塊(5)的各個面上。