[發(fā)明專利]一種產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法及標(biāo)定塊

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110667773.5
• 申請日: 2021-06-16
• 公開（公告）號: CN113376170B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 盧亞賓;陳淼淼;馬行;王聚;唐警特
• 申請（專利權(quán)）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01;H04M1/24
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，包括：

S1、將多個第一標(biāo)定板(2)設(shè)置于特征標(biāo)定塊(1)的各個面上；

S2、通過圖像處理算法計(jì)算得出所述特征標(biāo)定塊(1)每個面上的所述第一標(biāo)定板(2)的平均灰度方差G，調(diào)整設(shè)備的方位使所述平均灰度方差G小于預(yù)設(shè)灰度方差；

S3、通過圖像處理算法提取所述特征標(biāo)定塊(1)上設(shè)置有刻度標(biāo)尺(3)的刻度區(qū)域并測量刻度間的像素間隔；

調(diào)整所述設(shè)備與所述特征標(biāo)定塊(1)之間的間距，使像素間隔處于預(yù)設(shè)像素間隔范圍內(nèi)，以使對應(yīng)的所述特征標(biāo)定塊(1)的實(shí)際長度處于預(yù)設(shè)長度范圍內(nèi)；

S4、獲取設(shè)置在所述特征標(biāo)定塊(1)上的箭頭(4)的頂點(diǎn)所在的圖像像素坐標(biāo)，調(diào)整所述設(shè)備的位置使所述圖像像素坐標(biāo)與預(yù)設(shè)坐標(biāo)的誤差在預(yù)設(shè)誤差值之內(nèi)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S2具體包括：

S21、通過圖像處理算法將所述特征標(biāo)定塊(1)各面中的所述第一標(biāo)定板(2)區(qū)域提取出來；

S22、計(jì)算得出各個所述第一標(biāo)定板(2)的灰度值G_i，計(jì)算得出所述特征標(biāo)定塊(1)中每個面上的所述第一標(biāo)定板(2)的平均灰度值

S23、根據(jù)公式計(jì)算得出所述平均灰度方差G，其中，n為所述特征標(biāo)定塊(1)每個面上的所述第一標(biāo)定板(2)的總個數(shù)，i為當(dāng)前所述第一標(biāo)定板(2)的序號；

S24、調(diào)整所述設(shè)備的方位，使每個面的所述平均灰度方差G小于所述預(yù)設(shè)灰度方差。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S1具體包括：

S11、在所述特征標(biāo)定塊(1)的頂面和側(cè)面上分別開設(shè)預(yù)設(shè)數(shù)量的凹槽(11)；

S12、將多個所述第一標(biāo)定板(2)一一對應(yīng)設(shè)置于多個所述凹槽(11)內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S3中，所述刻度標(biāo)尺(3)上的刻度最小間隔為1mm。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S4中，所述箭頭(4)設(shè)于所述特征標(biāo)定塊(1)的對稱軸上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S4中，通過圖像處理算法將所述特征標(biāo)定塊(1)上的所述箭頭(4)提取出來，再計(jì)算所述箭頭(4)頂點(diǎn)所在的圖像像素坐標(biāo)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，還包括：

S5、將第二標(biāo)定板(6)包覆于灰度標(biāo)定塊(5)上的各面上；

S6、計(jì)算得出所述灰度標(biāo)定塊(5)上每個面的所述第二標(biāo)定板(6)的灰度值；

S7、調(diào)整設(shè)備位置，使所述第二標(biāo)定板(6)的灰度值小于預(yù)設(shè)面灰度值。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述步驟S6中，調(diào)整設(shè)備中的光源強(qiáng)度，計(jì)算得出在不同光源強(qiáng)度下所述灰度標(biāo)定塊(5)上每個面的所述第二標(biāo)定板(6)的灰度值。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，包括一種產(chǎn)品外觀檢測的標(biāo)定塊，所述產(chǎn)品外觀檢測的標(biāo)定塊包括：

特征標(biāo)定塊(1)，

第一標(biāo)定板(2)，設(shè)有多個，多個所述第一標(biāo)定板(2)分別設(shè)置于所述特征標(biāo)定塊(1)的各個面上；

刻度標(biāo)尺(3)，設(shè)置于所述特征標(biāo)定塊(1)上；

箭頭(4)，設(shè)置于所述特征標(biāo)定塊(1)上。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的產(chǎn)品外觀檢測設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述產(chǎn)品外觀檢測的標(biāo)定塊還包括灰度標(biāo)定塊(5)和第二標(biāo)定板(6)，所述第二標(biāo)定板(6)包覆于所述灰度標(biāo)定塊(5)的各個面上。