[發明專利]一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊有效
| 申請號: | 202110667773.5 | 申請日: | 2021-06-16 |
| 公開(公告)號: | CN113376170B | 公開(公告)日: | 2023-01-10 |
| 發明(設計)人: | 盧亞賓;陳淼淼;馬行;王聚;唐警特 | 申請(專利權)人: | 博眾精工科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/01;H04M1/24 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 215200 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 產品 外觀 檢測 設備 校準 方法 標定 | ||
本發明公開了一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊,涉及產品外觀缺陷檢測技術領域。該校準方法包括:將多個第一標定板設置于特征標定塊的各面上;通過圖像處理算法計算得出特征標定塊各面的第一標定板的平均灰度方差G,調整設備的方位使平均灰度方差G小于預設灰度方差;通過圖像處理算法提取特征標定塊上設置有刻度標尺的刻度區域并測量刻度間像素間隔,調整設備與特征標定塊間的間距,使像素間隔處于預設像素間隔范圍內,以使對應特征標定塊的實際長度處于預設長度范圍內;獲取設置在特征標定塊上箭頭定點所在的圖像像素坐標,調整設備位置使圖像像素坐標與預設坐標的誤差在預設誤差值內。本發明能提高檢測準確度,可靠性高。
技術領域
本發明涉及產品外觀缺陷檢測技術領域,尤其涉及一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊。
背景技術
目前,全球智能手機行業正處于行業發展的成熟期,手機外觀的檢測作為生產環節中比較重要的一環,其通過相機和光源輔助成像,以發現手機存在的外觀缺陷。
具體地,主要在手機的輸送線上設置多個采集工位,每個工位處設置光源打光,再通過相機拍攝并采集手機外觀圖像,隨后將圖像傳輸至計算機通過缺陷檢測算法進行處理,最后反饋檢測結果,即可得出外觀缺陷情況。實際檢測中,同一批制造生產的多個手機會存在細微差別,不可避免地會導致成像不一致,進一步隨著使用時間的增加,各工位的相機位置和光源設備可能會出現偏差,從而導致拍攝的外觀圖像的成像角度、灰度等參數不一致,導致檢測結果不準確,因而,如何消除因設備偏差導致成像不一致的缺陷變得十分緊要。
基于此,亟需一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊,用以解決如上提到的問題。
發明內容
本發明的目的在于提供一種產品外觀檢測設備的校準方法及標定塊,能夠校準設備成像灰度、設備拍攝視野、拍攝位置等是否符合要求,提高外觀檢測準確度,可靠性高。
為達此目的,本發明采用以下技術方案:
本發明提供了一種產品外觀檢測設備的校準方法,其包括:
S1、將多個第一標定板設置于特征標定塊的各個面上;
S2、通過圖像處理算法計算得出所述特征標定塊每個面上的所述第一標定板的平均灰度方差G,調整設備的方位使所述平均灰度方差G小于預設灰度方差;
S3、通過圖像處理算法提取所述特征標定塊上設置有刻度標尺的刻度區域并測量刻度間的像素間隔;
調整所述設備與所述特征標定塊之間的間距,使像素間隔處于預設像素間隔范圍內,以使對應的所述特征標定塊的實際長度處于預設長度范圍內;
S4、獲取設置在所述特征標定塊上的箭頭的頂點所在的圖像像素坐標,調整所述設備的位置使所述圖像像素坐標與預設坐標的誤差在預設誤差值之內。
可選地,所述步驟S2具體包括:
S21、通過圖像處理算法將所述特征標定塊各面中的所述第一標定板區域提取出來;
S22、計算得出各個所述第一標定板的灰度值Gi,計算得出所述特征標定塊中每個面上的所述第一標定板的平均灰度值
S23、根據公式計算得出所述平均灰度方差G,其中,n為所述特征標定塊每個面上的所述第一標定板的總個數,i為當前所述第一標定板的序號;
S24、調整所述設備的方位,使每個面的所述平均灰度方差G小于所述預設灰度方差。
可選地,所述步驟S1具體包括:
S11、在所述特征標定塊的頂面和側面上分別開設預設數量的凹槽;
S12、將多個所述第一標定板一一對應設置于多個所述凹槽內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于博眾精工科技股份有限公司,未經博眾精工科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110667773.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





