[發(fā)明專(zhuān)利]待切割顯示基板、顯示基板及其顯示裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110665438.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113380656A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于子陽(yáng);王世龍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/66 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/66;H01L27/32;G09F9/33 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 切割 顯示 及其 顯示裝置 | ||
1.一種顯示基板,其特征在于,包括:
襯底基板,包括顯示區(qū)和至少部分圍繞所述顯示區(qū)的周邊區(qū);
多個(gè)子像素,位于所述顯示區(qū);
多條數(shù)據(jù)線(xiàn),位于所述顯示區(qū),且與所述多個(gè)子像素電連接;
至少一個(gè)綁定部,位于所述周邊區(qū),所述綁定部包括沿第一方向排列的多個(gè)綁定焊盤(pán),所述至少一個(gè)綁定部被配置為與電路板綁定,所述多個(gè)綁定焊盤(pán)包括多個(gè)數(shù)據(jù)焊盤(pán);
多條數(shù)據(jù)連接線(xiàn),位于所述周邊區(qū),所述數(shù)據(jù)連接線(xiàn)與所述數(shù)據(jù)焊盤(pán)和所述數(shù)據(jù)線(xiàn)電連接;
至少一個(gè)測(cè)試部,位于所述至少一個(gè)綁定部沿所述第一方向的至少一側(cè),所述測(cè)試部包括沿所述第一方向排列的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán),所述測(cè)試焊盤(pán)被配置為在測(cè)試階段,接收外接電路傳輸?shù)臏y(cè)試信號(hào);
多條殘留測(cè)試引線(xiàn),位于所述至少一個(gè)測(cè)試部遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的一側(cè),且所述殘留測(cè)試引線(xiàn)與所述測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條殘留綁定引線(xiàn),位于所述至少一個(gè)綁定部遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的一側(cè),且所述殘留綁定引線(xiàn)與至少部分所述綁定焊盤(pán)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板,其特征在于,所述至少一個(gè)測(cè)試部包括第一測(cè)試部和第二測(cè)試部,所述第一測(cè)試部和所述第二測(cè)試部設(shè)置于所述至少一個(gè)綁定部沿所述第一方向的兩側(cè);
所述多條殘留測(cè)試引線(xiàn)包括:
多條第一殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第一測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條第二殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第二測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示基板,其特征在于,所述至少一個(gè)綁定部包括第一綁定部和第二綁定部;所述至少一個(gè)測(cè)試部還包括第三測(cè)試部和第四測(cè)試部;
其中,所述第一測(cè)試部、所述第一綁定部、所述第三測(cè)試部、所述第四測(cè)試部、所述第二綁定部、所述第二測(cè)試部沿所述第一方向依次排列;
所述多條殘留測(cè)試引線(xiàn)還包括:
多條第三殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第三測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條第四殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第四測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示基板,其特征在于,還包括:
多條第一連接導(dǎo)線(xiàn),設(shè)置于所述第三測(cè)試部和所述第四測(cè)試部靠近所述顯示區(qū)的一側(cè),所述第一連接導(dǎo)線(xiàn)與所述第三測(cè)試部的測(cè)試焊盤(pán)和所述第四測(cè)試部的測(cè)試焊盤(pán)電連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示基板,其特征在于,所述至少一個(gè)綁定部還包括第三綁定部和第四綁定部,所述至少一個(gè)測(cè)試部還包括第五測(cè)試部、第六測(cè)試部、第七測(cè)試部和第八測(cè)試部;
其中,所述第一測(cè)試部、所述第一綁定部、所述第三測(cè)試部、所述第四測(cè)試部、所述第三綁定部、所述第五測(cè)試部、所述第六測(cè)試部、所述第四綁定部、所述第七測(cè)試部、所述第八測(cè)試部、所述第二綁定部、所述第二測(cè)試部沿所述第一方向依次排列;
所述多條殘留測(cè)試引線(xiàn)還包括:
多條第五殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第五測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條第六殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第六測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條第七殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第七測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接;
多條第八殘留測(cè)試引線(xiàn),與所述第八測(cè)試部的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示基板,其特征在于,還包括:
多條第二連接導(dǎo)線(xiàn),設(shè)置于所述第七測(cè)試部和所述第八測(cè)試部靠近所述顯示區(qū)的一側(cè),所述第二連接導(dǎo)線(xiàn)與所述第七測(cè)試部的測(cè)試焊盤(pán)和所述第八測(cè)試部的測(cè)試焊盤(pán)電連接。
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H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





