[發明專利]一種激光雷達外殼的制造方法及激光雷達外殼

有效

• 申請號: 202110655313.0
• 申請日: 2021-06-11
• 公開（公告）號: CN113391319B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 林建東;孫亨利;張恒;任玉松;李進強;羅先萍;秦屹
• 申請（專利權）人: 森思泰克河北科技有限公司
• 主分類號: G01S17/06
• 分類號: G01S17/06;G01S17/08;G01S17/89;G01S7/481
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 彭競馳

本發明適用于雷達技術領域，提供了一種激光雷達外殼的制造方法及激光雷達外殼。其中，該方法包括：確定消像散約束條件；確定消像旋約束條件；確定各個掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑，得到激光雷達外殼的表面參數方程，表面參數方程用于制造消除目標激光雷達的像散和像旋的激光雷達外殼。本發明通過制造的激光雷達外殼可以消除激光雷達的像散和像旋，從而提高激光雷達探測數據的準確性。

技術領域

本發明屬于雷達技術領域，尤其涉及一種激光雷達外殼的制造方法及激光雷達外殼。

背景技術

激光雷達是以發射激光束探測目標的位置、速度等特征量的雷達系統。目前的激光雷達大多數采用光束旋轉掃描探測方案，光束旋轉掃描產生的像旋以及激光雷達的固有像散會導致激光雷達的探測結果不夠準確。為了提高激光雷達探測結果的準確性，通常將激光雷達的外殼設計為圓筒狀，以降低光束旋轉掃描產生的像旋，或者在激光雷達內部安裝校正透鏡組，以校正激光雷達的固有像散。

然而，圓筒狀的激光雷達外殼難以校正激光雷達發射光源的固有像散，校正透鏡組又不適用于采用光束旋轉掃描探測方案的激光雷達，這兩種方案均無法有效提高激光雷達探測結果的準確性。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種激光雷達外殼的制造方法及激光雷達外殼，以解決激光雷達探測結果的準確性低下的問題。

本發明實施例的第一方面提供了一種激光雷達外殼的制造方法，包括：

獲取目標激光雷達的發射系統的參數，并根據發射系統的參數確定消像散約束條件；

基于消像散約束條件確定第一掃描角度下發射系統第一平面的第一后焦距和第二平面的第二后焦距；第一掃描角度為發射系統發出光束的任一掃描角度；

基于目標激光雷達的運行方式確定消像旋約束條件；

基于消像旋約束條件、第一后焦距和第二后焦距確定第一掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑；

基于第一掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑，確定各個掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑；

根據各個掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑，得到激光雷達外殼的表面參數方程，表面參數方程用于制造消除目標激光雷達的像散和像旋的激光雷達外殼。

本發明實施例的第二方面提供了一種激光雷達外殼的制造裝置，包括：

第一條件確定模塊，用于獲取目標激光雷達的發射系統的參數，并根據發射系統的參數確定消像散約束條件；

焦距確定模塊，用于基于消像散約束條件確定第一掃描角度下發射系統第一平面的第一后焦距和第二平面的第二后焦距；第一掃描角度為發射系統發出光束的任一掃描角度；

第二條件確定模塊，用于基于目標激光雷達的運行方式確定消像旋約束條件；

第一半徑確定模塊，用于基于消像旋約束條件、第一后焦距和第二后焦距確定發射系統在第一掃描角度下對應的激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑；

第二半徑確定模塊，用于基于第一掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑，確定各個掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑；

表面確定模塊，用于根據各個掃描角度下激光雷達外殼的內壁曲率半徑和外壁曲率半徑，得到激光雷達外殼的表面參數方程，表面參數方程用于制造消除目標激光雷達的像散和像旋的激光雷達外殼。

本發明實施例的第三方面提供了一種激光雷達外殼，激光雷達外殼基于任一項激光雷達外殼的制造方法的步驟制造。