[發(fā)明專利]閥基電子設(shè)備測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110650201.6 | 申請日: | 2021-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN113391150B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周春陽;王晨濤;王雨晨;劉飛;高奇;王小強;王健林;廖名洋;胡忠山;梁秉崗;鄧光武;石健;楊洋;梁梓賢;張朝輝;曾海濤;梁家豪;陶敏;盧嵩;李晨;陳文超 | 申請(專利權(quán))人: | 中國南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司廣州局 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉羚 |
| 地址: | 510700 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子設(shè)備 測試 方法 裝置 | ||
本申請涉及一種閥基電子設(shè)備測試方法及裝置,將待測器件設(shè)置于測試箱體,在接收到測試指令后,發(fā)送運行控制信號至閥基電子設(shè)備中對應(yīng)的待測器件,以控制待測器件按照標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)運行,標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)與待測器件在閥基電子設(shè)備中的工作狀態(tài)相對應(yīng),然后接收待測器件在接收到運行控制信號后返回的反饋信號,再根據(jù)反饋信號得到所述待測器件的故障測試結(jié)果。不會影響到高壓輸電系統(tǒng)的穩(wěn)定性,可以模擬與復(fù)現(xiàn)閥基電子設(shè)備的各種工況,獲得與實際工況下對應(yīng)的待測器件的關(guān)鍵信號,實現(xiàn)快速對待測器件的故障檢測,提高故障測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,從而提高閥基電子設(shè)備的使用可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及直流輸電技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種閥基電子設(shè)備測試方法及裝置。
背景技術(shù)
直流輸電工程可用于電力系統(tǒng)非同步聯(lián)網(wǎng),特高壓直流輸電工程具有輸送容量大、輸電距離長、功率損耗低等優(yōu)點。特高壓直流輸電核心技術(shù)集中于換流站設(shè)備,換流站實現(xiàn)了直流輸電工程中直流和交流相互能量轉(zhuǎn)換,換流閥是換流站中的核心設(shè)備之一,控制保護(hù)系統(tǒng)通過對換流閥的觸發(fā)控制完成交直流功率的轉(zhuǎn)換。閥基電子設(shè)備為換流閥和控制保護(hù)系統(tǒng)的接口轉(zhuǎn)換設(shè)備,可以完成對換流閥的觸發(fā)和換流閥狀態(tài)的監(jiān)測。閥基電子設(shè)備的性能對保障直流輸電工程的正常運行具有重要的意義,若在直流輸電工程中使用發(fā)生故障的閥基電子設(shè)備,會對系統(tǒng)運行造成較大的影響。
傳統(tǒng)的測試閥基電子設(shè)備的方法包括停電檢修測試法。停電檢修測試法是在閥基電子設(shè)備未在直流輸電工程中工作時,檢測閥基電子設(shè)備是否發(fā)生故障。這種方法能夠保證高壓直流系統(tǒng)的安全穩(wěn)定,但無法捕捉閥基電子設(shè)備的正常運行時的工況,測試結(jié)果不準(zhǔn)確,導(dǎo)致閥基電子設(shè)備運行不可靠。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對傳統(tǒng)的閥基電子設(shè)備運行不可靠的問題,提供一種閥基電子設(shè)備測試方法及裝置。
一種閥基電子設(shè)備測試方法,包括以下步驟:
接收測試指令;
發(fā)送運行控制信號至閥基電子設(shè)備中對應(yīng)的待測器件;所述待測器件設(shè)置于測試箱體,所述運行控制信號用于控制所述待測器件按照標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)運行,所述標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)與所述待測器件在閥基電子設(shè)備中的工作狀態(tài)相對應(yīng);
接收所述待測器件在接收到所述運行控制信號后返回的反饋信號;
根據(jù)所述反饋信號得到所述待測器件的故障測試結(jié)果。
一種閥基電子設(shè)備測試裝置,包括測試主控板和測試箱體,所述測試箱體設(shè)置有測試槽位,所述測試槽位用于插入閥基電子設(shè)備中的待測器件,所述測試主控板用于與插入了測試槽位的所述待測器件連接,還用于根據(jù)上述的方法進(jìn)行閥基電子設(shè)備測試。
上述閥基電子設(shè)備測試方法及裝置,將待測器件設(shè)置于測試箱體,在接收到測試指令后,發(fā)送運行控制信號至閥基電子設(shè)備中對應(yīng)的待測器件,以控制待測器件按照標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)運行,標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)與待測器件在閥基電子設(shè)備中的工作狀態(tài)相對應(yīng),然后接收待測器件在接收到運行控制信號后返回的反饋信號,再根據(jù)反饋信號得到所述待測器件的故障測試結(jié)果。將閥基電子設(shè)備中的待測器件設(shè)置于測試箱體內(nèi)進(jìn)行檢測,不會影響到高壓輸電系統(tǒng)的穩(wěn)定性,通過發(fā)送運行控制信號再接收反饋信號實現(xiàn)對待測器件的檢測,運行控制信號用于控制待測器件按照標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)運行,標(biāo)準(zhǔn)工作狀態(tài)與待測器件在閥基電子設(shè)備中的工作狀態(tài)相對應(yīng),可以模擬與復(fù)現(xiàn)閥基電子設(shè)備的各種工況,獲得與實際工況下對應(yīng)的待測器件的關(guān)鍵信號,實現(xiàn)快速對待測器件的故障檢測,提高故障測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,從而提高閥基電子設(shè)備的使用可靠性。
在其中一個實施例中,所述待測器件包括光發(fā)射板、光接收板和微控制板中的至少一種;
當(dāng)所述待測器件包括所述光發(fā)射板時,所述發(fā)送運行控制信號至閥基電子設(shè)備中對應(yīng)的待測器件,包括:發(fā)送模擬光發(fā)射板邏輯指令至所述光發(fā)射板;
當(dāng)所述待測器件包括所述光接收板時,所述發(fā)送運行控制信號至閥基電子設(shè)備中對應(yīng)的待測器件,包括:發(fā)送模擬接收板邏輯指令至所述光接收板;
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