[發明專利]閥基電子設備測試方法及裝置有效
| 申請號: | 202110650201.6 | 申請日: | 2021-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN113391150B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發明(設計)人: | 周春陽;王晨濤;王雨晨;劉飛;高奇;王小強;王健林;廖名洋;胡忠山;梁秉崗;鄧光武;石健;楊洋;梁梓賢;張朝輝;曾海濤;梁家豪;陶敏;盧嵩;李晨;陳文超 | 申請(專利權)人: | 中國南方電網有限責任公司超高壓輸電公司廣州局 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉羚 |
| 地址: | 510700 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子設備 測試 方法 裝置 | ||
1.一種閥基電子設備測試方法,其特征在于,基于測試主控板實現,包括以下步驟:
通過交互裝置接收測試指令;所述交互裝置為HMI10,所述HMI10內嵌Wincc flexible組態軟件,所述HMI10與所述測試主控板通過MODBUS-RTU進行通訊,通訊的硬件接口采用RS485接口;
發送運行控制信號至閥基電子設備中對應的待測器件;所述待測器件設置于測試箱體,所述運行控制信號用于控制所述待測器件按照標準工作狀態運行,所述標準工作狀態與所述待測器件在閥基電子設備中的工作狀態相對應;所述待測器件包括光發射板、光接收板和微控制板中的至少一種,所述測試箱體設置有測試槽位,所述測試槽位用于插入閥基電子設備中的待測器件,所述測試主控板通過光纜與插入了所述測試槽位的所述待測器件連接,所述測試箱體包括箱蓋,所述箱蓋內設置有用于光纜存儲的獨立存儲空間;
接收所述待測器件在接收到所述運行控制信號后返回的反饋信號;根據所述待測器件的類型不同,所述反饋信號的類型不同;所述測試主控板的數量為兩個,每個測試主控板包括8個光通道;所述HMI10設置有光發射板系統檢測啟動、停止按鈕、光接收板系統檢測啟動、停止按鈕、微控制板檢測啟動、停止按鈕和通道檢測結果顯示狀態指示燈;
根據所述反饋信號得到所述待測器件的故障測試結果。
2.根據權利要求1所述的閥基電子設備測試方法,其特征在于,
當所述待測器件包括所述光發射板時,所述發送運行控制信號至閥基電子設備中對應的待測器件,包括:發送模擬光發射板邏輯指令至所述光發射板;
當所述待測器件包括所述光接收板時,所述發送運行控制信號至閥基電子設備中對應的待測器件,包括:發送模擬光 接收板邏輯指令至所述光接收板;
當所述待測器件包括所述微控制板時,所述發送運行控制信號至閥基電子設備中對應的待測器件,包括:發送模擬反向保護使能邏輯指令至所述微控制板。
3.根據權利要求1所述的閥基電子設備測試方法,其特征在于,所述根據所述反饋信號得到所述待測器件的故障測試結果之后,還包括:
將所述故障測試結果發送至交互裝置進行顯示。
4.一種閥基電子設備測試裝置,其特征在于,包括測試主控板和測試箱體,所述測試箱體設置有測試槽位,所述測試槽位用于插入閥基電子設備中的待測器件,所述測試主控板用于與插入了測試槽位的所述待測器件連接,所述測試主控板通過光纜與插入了所述測試槽位的所述待測器件連接,還用于根據權利要求1-3任意一項所述的方法進行閥基電子設備測試,所述待測器件包括光發射板、光接收板和微控制板中的至少一種,所述測試箱體包括箱蓋,所述箱蓋內設置有用于光纜存儲的獨立存儲空間;所述測試主控板的數量為兩個,每個測試主控板包括8個光通道;
還包括交互裝置,所述交互裝置連接所述測試主控板,所述交互裝置為HMI10,所述HMI10內嵌Wincc flexible組態軟件,所述HMI10與所述測試主控板通過MODBUS-RTU進行通訊,通訊的硬件接口采用RS485接口;所述HMI10設置有光發射板系統檢測啟動、停止按鈕、光接收板系統檢測啟動、停止按鈕、微控制板檢測啟動、停止按鈕和通道檢測結果顯示狀態指示燈。
5.根據權利要求4所述的閥基電子設備測試裝置,其特征在于,所述測試槽位包括光發射板測試槽位、光接收板測試槽位和微控制板測試槽位中的至少一種。
6.根據權利要求4所述的閥基電子設備測試裝置,其特征在于,所述測試主控板包括信號模擬處理器、數據收集處理器和信號通道,所述信號模擬處理器和所述信號通道用于與插入了測試槽位的所述待測器件連接,所述信號通道連接所述數據收集處理器。
7.根據權利要求6所述的閥基電子設備測試裝置,其特征在于,所述信號通道包括光接收通道和光發射通道中的至少一種。
8.根據權利要求4所述的閥基電子設備測試裝置,其特征在于,還包括電源模塊,所述電源模塊連接所述測試主控板。
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