[發(fā)明專利]Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試方法、裝置及計算機(jī)設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110646879.7 | 申請日: | 2021-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN113377599A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 霍開源;王偉良;李楊;石驍 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/273 | 分類號: | G06F11/273;G06F11/26 |
| 代理公司: | 深圳市精英專利事務(wù)所 44242 | 代理人: | 丁宇龍 |
| 地址: | 518067 廣東省深圳市南山區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | windows 系統(tǒng) 硬盤 功耗 測試 方法 裝置 計算機(jī) 設(shè)備 | ||
本申請涉及一種Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì),其中該方法包括:獲取Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試請求;根據(jù)所述功耗測試請求下載并安裝Windows軟件開發(fā)工具包;利用所述Windows軟件開發(fā)工具包開發(fā)測試接口;調(diào)用開發(fā)好的測試接口對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作,使所述待測固態(tài)硬盤依次進(jìn)入多種不同的低功耗狀態(tài)以進(jìn)行低功耗測試;在所述低功耗測試過程中監(jiān)測是否發(fā)生異常,若監(jiān)測到異常則判定所述待測固態(tài)硬盤測試不通過。本發(fā)明實現(xiàn)了在Windows系統(tǒng)的硬盤系統(tǒng)測試過程中,通過測試接口模擬主機(jī)對固態(tài)硬盤進(jìn)行電源模式的控制使其持續(xù)處于低功耗狀態(tài),實現(xiàn)了對待測設(shè)備的低功耗測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及硬盤測試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,計算機(jī)設(shè)備已經(jīng)成為當(dāng)今人們最具備生成力的實用工具,而其中計算機(jī)設(shè)備的安全性以及穩(wěn)定性是人們在利用計算機(jī)進(jìn)行工作時的必要保障。如今,固態(tài)硬盤因為其具備的快速讀寫、質(zhì)量輕、能耗低以及體積小等特點,應(yīng)用也越來越廣泛。固態(tài)硬盤是計算機(jī)設(shè)備中的核心硬件設(shè)備之一,其穩(wěn)定性和可靠性大大影響整個計算機(jī)設(shè)備的安全性和穩(wěn)定性,因此在計算機(jī)設(shè)備出廠之前,需要對計算機(jī)設(shè)備中的固態(tài)硬盤進(jìn)行系統(tǒng)測試。
目前,傳統(tǒng)技術(shù)中在做Windows系統(tǒng)下的硬盤系統(tǒng)測試時,當(dāng)固態(tài)硬盤用做主盤時,這時對其電源狀態(tài)控制全部是由主機(jī)發(fā)起,所以想要持續(xù)處于低功耗下做測試無法實現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對上述技術(shù)問題,提供一種Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備及存儲介質(zhì)。
一種Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試方法,所述方法包括:
獲取Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試請求;
根據(jù)所述功耗測試請求下載并安裝Windows軟件開發(fā)工具包;
利用所述Windows軟件開發(fā)工具包開發(fā)測試接口;
調(diào)用開發(fā)好的測試接口對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作,使所述待測固態(tài)硬盤依次進(jìn)入多種不同的低功耗狀態(tài)以進(jìn)行低功耗測試;
在所述低功耗測試過程中監(jiān)測是否發(fā)生異常,若監(jiān)測到異常則判定所述待測固態(tài)硬盤測試不通過。
在其中一個實施例中,所述調(diào)用開發(fā)好的測試接口對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作,使所述待測固態(tài)硬盤依次進(jìn)入多種不同的低功耗狀態(tài)以進(jìn)行低功耗測試的步驟還包括:
對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作使所述待測固態(tài)硬盤進(jìn)入PS3狀態(tài);
對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作使所述待測固態(tài)硬盤進(jìn)入PS0狀態(tài);
對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作使所述待測固態(tài)硬盤進(jìn)入PS4狀態(tài);
對待測固態(tài)硬盤進(jìn)行操作使所述待測固態(tài)硬盤再次進(jìn)入PS0狀態(tài)。
在其中一個實施例中,所述在所述低功耗測試過程中監(jiān)測是否發(fā)生異常,若監(jiān)測到異常則判定所述待測固態(tài)硬盤測試不通過的步驟還包括:
若在低功耗測試過程中發(fā)生藍(lán)屏則判定當(dāng)前待測的固態(tài)硬盤測試不通過。
在其中一個實施例中,所述方法還包括:
在進(jìn)行低功耗測試的過程中,根據(jù)低功耗測試請求設(shè)置測試輪數(shù)并進(jìn)行狀態(tài)循環(huán)測試直至滿足測試要求。
一種Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試裝置,所述裝置包括:
獲取模塊,所述獲取模塊用于獲取Windows系統(tǒng)的硬盤低功耗測試請求;
安裝模塊,所述安裝模塊用于根據(jù)所述功耗測試請求下載并安裝Windows軟件開發(fā)工具包;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司,未經(jīng)深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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