[發明專利]Windows系統的硬盤低功耗測試方法、裝置及計算機設備

在審

• 申請號: 202110646879.7
• 申請日: 2021-06-10
• 公開（公告）號: CN113377599A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發明（設計）人: 霍開源;王偉良;李楊;石驍
• 申請（專利權）人: 深圳憶聯信息系統有限公司
• 主分類號: G06F11/273
• 分類號: G06F11/273;G06F11/26
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 丁宇龍

1.一種Windows系統的硬盤低功耗測試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取Windows系統的硬盤低功耗測試請求；

根據所述功耗測試請求下載并安裝Windows軟件開發工具包；

利用所述Windows軟件開發工具包開發測試接口；

調用開發好的測試接口對待測固態硬盤進行操作，使所述待測固態硬盤依次進入多種不同的低功耗狀態以進行低功耗測試；

在所述低功耗測試過程中監測是否發生異常，若監測到異常則判定所述待測固態硬盤測試不通過。

2.根據權利要求1所述的Windows系統的硬盤低功耗測試方法，其特征在于，所述調用開發好的測試接口對待測固態硬盤進行操作，使所述待測固態硬盤依次進入多種不同的低功耗狀態以進行低功耗測試的步驟還包括：

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS3狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS0狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS4狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤再次進入PS0狀態。

3.根據權利要求2所述的Windows系統的硬盤低功耗測試方法，其特征在于，所述在所述低功耗測試過程中監測是否發生異常，若監測到異常則判定所述待測固態硬盤測試不通過的步驟還包括：

若在低功耗測試過程中發生藍屏則判定當前待測的固態硬盤測試不通過。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的Windows系統的硬盤低功耗測試方法，其特征在于，所述方法還包括：

在進行低功耗測試的過程中，根據低功耗測試請求設置測試輪數并進行狀態循環測試直至滿足測試要求。

5.一種Windows系統的硬盤低功耗測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，所述獲取模塊用于獲取Windows系統的硬盤低功耗測試請求；

安裝模塊，所述安裝模塊用于根據所述功耗測試請求下載并安裝Windows軟件開發工具包；

接口模塊，所述接口模塊用于利用所述Windows軟件開發工具包開發測試接口；

低功耗測試模塊，所述低功耗測試模塊用于調用開發好的測試接口對待測固態硬盤進行操作，使所述待測固態硬盤依次進入多種不同的低功耗狀態以進行低功耗測試；

狀態監測模塊，所述狀態監測模塊用于在所述低功耗測試過程中監測是否發生異常，若監測到異常則判定所述待測固態硬盤測試不通過。

6.根據權利要求5所述的Windows系統的硬盤低功耗測試裝置，其特征在于，所述低功耗測試模塊還用于：

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS3狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS0狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤進入PS4狀態；

對待測固態硬盤進行操作使所述待測固態硬盤再次進入PS0狀態。

7.根據權利要求6所述的Windows系統的硬盤低功耗測試裝置，其特征在于，所述狀態監測模塊還用于：

若在低功耗測試過程中發生藍屏則判定當前待測的固態硬盤測試不通過。

8.根據權利要求5-7中任一項所述的Windows系統的硬盤低功耗測試裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

循環測試模塊，所述循環測試模塊用于在進行低功耗測試的過程中，根據低功耗測試請求設置測試輪數并進行狀態循環測試直至滿足測試要求。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至4中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至4中任一項所述的方法的步驟。