[發明專利]X線圖像的散射修正方法、裝置、電子設備、存儲介質

在審

• 申請號: 202110637485.5
• 申請日: 2021-06-08
• 公開（公告）號: CN113409414A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 唐寅
• 申請（專利權）人: 江蘇一影醫療設備有限公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 楊東明;林嵩

本發明公開了X線圖像的散射修正方法、裝置、電子設備、存儲介質。該方法包括：獲取采用目標曝光參數對掃描對象進行X線束掃描得到的投影圖像數據；根據曝光參數與散射核函數的映射關系，確定對應于所述目標曝光參數的目標散射核函數；根據所述目標散射核函數計算所述投影圖像數據包含的散射分布數據；根據所述散射分布數據對所述投影圖像數據進行修正，得到對應于所述投影圖像數據的修正圖像數據。從而能夠減小因散射核函數不適合曝光參數導致的散射分布計算誤差，提高散射校正的精確度以及有效性。

技術領域

本發明涉及醫療技術領域，尤其涉及X線圖像的散射修正方法、裝置、電子設備、存儲介質。

背景技術

X射線成像技術廣泛應用在醫療成像領域。應用X射線成像技術的X線設備可以拍攝到掃描對象的X線圖像，X線圖像是X射線束穿透被檢體某一部位的不同密度和厚度組織結構后的投影數據總和，是該穿透路徑上各層X射線束投影相互疊加在一起的影像。由于X射線成像過程中存在散射干擾，會使X線圖像產生杯狀、遮擋、條狀、不均勻和數值不精確等問題，降低X線圖像的質量。因此需要對X線圖像進行散射校正。

現有技術中，實現散射校正的一種方式是采用散射反卷積算法對X線圖像進行散射校正，其基本原理就是利用事先計算出的筆形束的點擴散函數，也稱散射核函數，確定投影圖像中的散射分布，進而進行散射校正，但該方式中不同曝光參數采用相同的散射核函數，導致一些曝光參數下散射分布計算誤差較大，經過散射校正的X線圖像的質量較低，影響臨床使用。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中散射分布計算誤差較大，經過散射校正的X線圖像的質量較低的缺陷，提供一種X線圖像的散射修正方法、裝置、電子設備、存儲介質。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題：

第一方面，提供一種X線圖像的散射修正方法，包括：

獲取采用目標曝光參數對掃描對象進行X線束掃描得到的投影圖像數據；

根據曝光參數與散射核函數的映射關系，確定對應于所述目標曝光參數的目標散射核函數；

根據所述目標散射核函數計算所述投影圖像數據包含的散射分布數據；

根據所述散射分布數據對所述投影圖像數據進行修正，得到對應于所述投影圖像數據的修正圖像數據。

可選地，根據曝光參數與散射核的映射關系，確定對應于所述目標曝光參數的目標散射核函數，包括：

根據亮場圖像數據和所述投影圖像數據估計所述掃描對象的厚度，所述亮場圖像數據和所述投影圖像數據采用相同的目標曝光參數得到；

根據與所述厚度相關的曝光參數與散射核的映射關系，確定所述目標散射核函數。

可選地，還包括：

根據所述散射分布數據判斷是否符合收斂條件，其中，所述收斂條件為以下至少之一：本輪迭代計算得到的散射分布數據與上輪迭代計算得到的散射分布數據的差異達到差異閾值、所述散射分布數據的計算次數達到次數閾值；

在判斷結果為不符合所述收斂條件的情況下，根據所述亮場圖像數據和所述修正圖像數據重新估計所述掃描對象的厚度。

可選地，估計所述掃描對象的厚度之前，還包括：

對所述亮場圖像數據進行高斯低通濾波處理；

和/或，對所述投影圖像數據進行高斯低通濾波處理。

可選地，還包括：

降采樣所述亮場圖像數據；

和/或，降采樣所述投影圖像數據。

可選地，還包括：