[發明專利]一種測試裝置

有效

• 申請號: 202110635211.2
• 申請日: 2021-06-08
• 公開（公告）號: CN113447754B
• 公開（公告）日: 2023-02-24
• 發明（設計）人: 趙平;胡淳;廖良生;武啟飛;趙鵬鵬
• 申請（專利權）人: 蘇州方昇光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 蔣慧妮

本發明提供了一種測試裝置，包括恒流電源及與其串聯連接的多個測試切換單元形成的回路，測試切換單元包括測試夾具，延時斷開電路，及延時接通電路；延時斷開電路與測試夾具串聯構成測試線路；延時接通電路與測試線路并聯；延時斷開電路及延時接通電路上設置有檢測元件，檢測元件根據待測試器件工作狀態控制延時斷開電路延時斷開測試夾具，并控制延時接通電路延時接通以短接測試線路；或檢測元件根據待測試器件工作狀態控制延時斷開電路保持接通，控制延時接通電路保持斷開。本發明的有益效果體現在：可以實現多路待檢測器件均工作在恒電流模式中，采用一套恒流電源即實現了同時檢測多路產品的需求，可靠性高，大大降低了成本。

技術領域

本發明屬于器件測試技術領域，尤其涉及一種測試裝置。

背景技術

當半導體器件制作完成后，一般都需要對其進行性能的測試，其中包括對半導體器件是否可以正常工作，例如點亮、啟閉等的測試。業界通常采用的是通過恒流電源進行點亮測試，使產品在恒電流模式下工作，以查看發光情況和參數。

但當產線上的產品數量眾多時，如果通過產品與恒流電源采用一一對應配套使用，不僅需要足夠大的安裝控件，還會導致最終硬件接線電路復雜。同時，由于可靠的恒流電源往往價格較高，一一對應更會帶來高昂的成本。當然，也有采用手動將恒流電源進行間隔使用，通過分時間段測試產品，但此種方式，可靠性不高。因此，開發一種可靠測試裝置以方便快速的進行眾多產品的檢測顯得尤為重要。

發明內容

為了解決現有技術的不足，本發明提供了一種測試裝置及其測試方法。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：

一種測試裝置，包括恒流電源及與所述恒流電源串聯連接的多個測試切換單元形成的回路，所述測試切換單元包括用于連接待測試器件的測試夾具，延時斷開電路，及延時接通電路；所述延時斷開電路與所述測試夾具串聯，構成測試線路；所述延時接通電路與所述測試線路并聯連接；所述延時斷開電路及所述延時接通電路上設置有用于監測所述待測試器件的檢測元件，所述檢測元件根據待測試器件的工作狀態控制所述延時斷開電路延時斷開所述測試夾具，并控制所述延時接通電路延時接通以短接所述測試線路；或者所述檢測元件根據待測試器件的工作狀態控制所述延時斷開電路保持接通，并控制所述延時接通電路保持斷開。

優選地，所述待測試器件為顯示器或燈片，所述檢測元件為光電傳感器。

優選地，所述延時斷開電路包括第一延時開關，及與所述第一延時開關并聯的第一光電開關。

優選地，所述延時接通電路包括第二延時開關，及與所述第二延時開關串聯的第二光電開關。

優選地，所述第一延時開關觸點常閉，所述第一光電開關觸點常開。

優選地，所述第二延時開關觸點常開，第二光電開關觸點常閉。

優選地，所述第一延時開關和第二延時開關均包括延時繼電器和動作開關，所述第一光電開關及第二光電開關均包括光電繼電器和動作開關。

優選地，所述延時接通電路的延時時間不大于所述延時斷開電路的延時時間。

優選地，所述回路上還串聯連接有防短路負載。

本發明的有益效果體現在：本裝置可以實現多路待檢測器件均工作在恒電流模式中，采用一套恒流電源即實現了同時檢測多路產品的需求，可靠性高，大大降低了成本。

附圖說明

圖1：本發明電路示意圖。

具體實施方式

以下結合實施例具體闡述本發明的技術方案，本發明揭示了一種測試裝置，結合圖1所示，包括恒流電源及根據所述恒流電源的不同功率按需與所述恒流電源進行串聯連接的多個測試切換單元形成的回路。所述恒流電源能在恒電流模式下工作，其電壓隨負載改變而變化，但電流保持為設定值。