[發明專利]一種測試裝置有效
| 申請號: | 202110635211.2 | 申請日: | 2021-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN113447754B | 公開(公告)日: | 2023-02-24 |
| 發明(設計)人: | 趙平;胡淳;廖良生;武啟飛;趙鵬鵬 | 申請(專利權)人: | 蘇州方昇光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/01 | 分類號: | G01R31/01 |
| 代理公司: | 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102 | 代理人: | 蔣慧妮 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 裝置 | ||
1.一種測試裝置,其特征在于,包括恒流電源及與所述恒流電源串聯連接的多個測試切換單元形成的回路,所述測試切換單元包括用于連接待測試器件的測試夾具,延時斷開電路,及延時接通電路;所述延時斷開電路與所述測試夾具串聯,構成測試線路;所述延時接通電路與所述測試線路并聯連接;所述延時斷開電路及所述延時接通電路上設置有用于監測所述待測試器件的檢測元件,所述檢測元件根據待測試器件的工作狀態控制所述延時斷開電路延時斷開所述測試夾具,并控制所述延時接通電路延時接通以短接所述測試線路;或者所述檢測元件根據待測試器件的工作狀態控制所述延時斷開電路保持接通,并控制所述延時接通電路保持斷開;所述延時斷開電路包括第一延時開關,及與所述第一延時開關并聯的第一光電開關;
所述延時接通電路包括第二延時開關,及與所述第二延時開關串聯的第二光電開關;
所述第一延時開關觸點常閉,所述第一光電開關觸點常開;
所述第二延時開關觸點常開,第二光電開關觸點常閉;所述延時接通電路的延時時間不大于所述延時斷開電路的延時時間。
2.如權利要求1所述的一種測試裝置,其特征在于,所述待測試器件為顯示器或燈片,所述檢測元件為光電傳感器。
3.如權利要求2所述的一種測試裝置,其特征在于,所述第一延時開關和第二延時開關均包括延時繼電器和動作開關,所述第一光電開關及第二光電開關均包括光電繼電器和動作開關。
4.如權利要求1所述的一種測試裝置,其特征在于,所述回路上還串聯連接有防短路負載。
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