[發明專利]一種測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 202110634078.9
• 申請日: 2021-06-03
• 公開（公告）號: CN113406181B
• 公開（公告）日: 2022-10-28
• 發明（設計）人: 趙軍;孫翠枝
• 申請（專利權）人: 中山大學
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 陳志明

本申請涉及化學電離質譜技術領域，公開了一種測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質，通過在化學電離源上施加脈沖電壓信號，產生主離子，獲取所述主離子的質譜TTL反饋信號，再獲取信號隨時間變化的序列圖，所述信號包括所述脈沖電壓信號及所述質譜TTL反饋信號，最后，根據所述序列圖中的所述質譜TTL反饋信號的半高處對應的時間與所述脈沖電壓信號起始對應的時間，計算得到化學電離反應時間。本發明根據脈沖電壓信號與質譜TTL反饋信號的譜圖之間的特征確定化學電離反應時間，可以提高化學電離反應時間測量的準確性，且方法簡單易行。

技術領域

本發明涉及化學電離質譜技術領域，尤其涉及一種測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質。

背景技術

質譜技術(Mass Spectrometry)廣泛應用于物質分子組成的定性及定量檢測，按照電離的方式可以分為電子轟擊(Electron Impact)、電噴電離(ElectrosprayIonization)及化學電離(Chemical Ionization)等，而化學電離質譜則是近年來被廣泛應用的一種軟電離質譜技術，化學電離可在真空狀態下，也可在大氣壓條件下進行。化學電離質譜的原理是通過主離子與待測物質分子的化學電離反應產生待測離子，根據待測離子的譜圖特征進行定性分析，根據待測離子與主離子的相對豐度及其反應速率常數、反應時間等信息進行定量分析。因此，在化學電離質譜的定量分析中，化學電離反應時間是濃度定量方程中一個重要的指標，特別是對于無標準純樣而無法進行準確校正的物質分子而言，只能通過定量方程估算濃度，因而準確測量化學電離反應時間非常重要。

目前關于化學電離反應時間的測量方法的報道非常有限，常見的估算方法主要有以下幾種：一是通過流動長度及流速進行估算，假設在層流條件之下，平均反應時間通常為氣流通過的距離除以其流動速度；另外一種方法是在流動管中使用漂移技術，那么反應時間計算公式中使用的速度則由離子的流動速度與漂移速度共同決定。然而，對應反應時間很短的情形，以上兩種估算方式存在著較大的誤差，因為氣流流動可能存在湍流，即使是層流，也可能存在其徑向速度均勻而氣流流動不均勻的情況，導致反應時間估算不準。除此之外，離子受到電場的影響比較大，不同的電壓設置可能會導致反應時間不同，估算不準確。

發明內容

為解決上述背景技術中存在的不足，本發明提供一種測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質，通過在化學電離源上施加脈沖電壓信號產生主離子，并將其送入質譜儀，再通過TTL信號反饋到示波器，從脈沖電壓信號及離子的反饋信號特征確定化學電離反應時間，從而對待測物進行定量分析。

一方面，提供一種測量化學電離反應時間的方法，包括以下步驟:

一種測量化學電離反應時間的方法，其特征在于，包括以下步驟:

在化學電離源上施加脈沖電壓信號，產生主離子；

獲取所述主離子的質譜TTL反饋信號；

獲取信號隨時間變化的序列圖，所述信號包括所述脈沖電壓信號及所述質譜TTL反饋信號；

根據所述序列圖中的所述質譜TTL反饋信號的半高處對應的時間與所述脈沖電壓信號起始對應的時間，計算得到化學電離反應時間。

進一步地，所述脈沖電壓信號的產生包括以下步驟：

將起始電壓設置為+200伏直流電壓；

控制電壓轉換到-400伏直流電壓，產生一個脈沖電壓信號。

進一步地，所述脈沖電壓信號的脈沖寬度在40-50毫秒之間。

進一步地，還包括：

在一個脈沖寬度之后，將所述直流電壓降至-330伏，并保持該電壓值。

進一步地，還包括：