[發(fā)明專利]一種測量化學電離反應時間的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110634078.9
• 申請日: 2021-06-03
• 公開（公告）號: CN113406181B
• 公開（公告）日: 2022-10-28
• 發(fā)明（設計）人: 趙軍;孫翠枝
• 申請（專利權）人: 中山大學
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 陳志明

1.一種采用測量化學電離反應時間的系統(tǒng)測量化學電離反應時間的方法，其特征在于，所述測量化學電離反應時間的系統(tǒng)包括：

控制電腦，與化學電離源及示波器連接，用于向化學電離源及示波器發(fā)出脈沖電壓信號；

化學電離源，與控制電腦及采樣管連接，用于接收所述控制電腦發(fā)出的脈沖電壓信號，進而產生主離子；

采樣管，與化學電離源及質譜儀連接，用于將所述主離子傳輸至質譜儀；

質譜儀，與采樣管及示波器連接，用于檢測接收的所述主離子并向示波器發(fā)出所述主離子的質譜TTL反饋信號；

示波器，與控制電腦及質譜儀連接，用于接收所述脈沖電壓信號和質譜TTL反饋信號，并顯示出信號隨時間變化的序列圖；

所述測量化學電離反應時間的方法包括以下步驟:

在化學電離源上施加脈沖電壓信號，產生主離子；

獲取所述主離子的質譜TTL反饋信號；

獲取信號隨時間變化的序列圖，所述信號隨時間變化的序列圖包括所述脈沖電壓信號隨時間變化的序列圖及所述質譜TTL反饋信號隨時間變化的序列圖；

根據所述序列圖中的所述脈沖電壓信號起始對應的時間與質譜TTL反饋信號半高處所對應的時間的差值，計算得到化學電離反應時間，所述半高處指質譜TTL反饋信號的極大值所對應的中點的位置；

所述脈沖電壓信號的產生包括以下步驟：

將起始電壓設置為+200伏直流電壓；

控制電壓轉換到-400伏直流電壓，產生一個脈沖電壓信號；

所述脈沖電壓信號的脈沖寬度在40-50毫秒之間；在一個脈沖寬度之后，將所述直流電壓降至-330伏，并保持該電壓值；

在所述獲取所述主離子的質譜TTL反饋信號之后，對所述質譜TTL反饋信號進行濾波，以獲取脈沖寬度在40-45毫秒之間的脈沖電壓信號所產生的質譜TTL反饋信號。

2.如權利要求1所述的采用測量化學電離反應時間的系統(tǒng)測量化學電離反應時間的方法，其特征在于，還包括：

電阻電容電路，用于對所述質譜TTL反饋信號進行濾波。

3.如權利要求2所述的采用測量化學電離反應時間的系統(tǒng)測量化學電離反應時間的方法，其特征在于，所述示波器至少具有兩個頻道，其中，第一頻道連接控制電腦與化學電離源，在控制電腦發(fā)出脈沖電壓信號至化學電離源且化學電離源電離生成主離子的同時，第一頻道接收并測量所述脈沖電壓信號隨時間的變化；第二頻道接收并檢測質譜儀傳送過來的質譜TTL反饋信號，所述質譜TTL反饋信號經電阻電容電路濾波后由第二頻道接收，并由第二頻道監(jiān)測所述質譜TTL反饋信號隨時間的變化。

4.一種測量化學電離反應時間的裝置，其特征在于，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執(zhí)行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現如權利要求1-3任一項所述的采用測量化學電離反應時間的系統(tǒng)測量化學電離反應時間的方法。

5.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機程序，所述計算機程序被執(zhí)行時實現如權利要求1-3任一項所述的采用測量化學電離反應時間的系統(tǒng)測量化學電離反應時間的方法。