[發(fā)明專利]測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110622015.1
• 申請(qǐng)日: 2021-06-04
• 公開（公告）號(hào): CN113359331B
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳弈星;胡健
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京芯視元電子有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13;G09G3/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 王思楠

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域。其中，準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)設(shè)于光源出射光的光路上，起偏器設(shè)于準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)準(zhǔn)直后光的光路上；偏振分光棱鏡設(shè)于起偏器偏振后光的光路上，硅基微顯示模組設(shè)于偏振分光棱鏡的反射路徑上，偏振分光棱鏡用于將偏振后的偏振光反射至硅基微顯示模組，并將硅基微顯示模組反射的偏振光透射至光功率計(jì)；硅基微顯示模組與控制器通信連接，控制器用于向硅基微顯示模組傳輸待測(cè)灰階點(diǎn)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試灰階圖像和校正參數(shù)，實(shí)現(xiàn)了可以通過校正參數(shù)對(duì)硅基微顯示模組中待測(cè)灰階點(diǎn)對(duì)應(yīng)的初始驅(qū)動(dòng)電壓進(jìn)行校正，可以提高硅基微顯示模組的顯示特性，進(jìn)而在顯示圖像時(shí)，可以減少圖像失真。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

硅基液晶(Liquid Crystal on Silicon，LCoS)是一種反射式液晶顯示技術(shù)，基于LCoS技術(shù)發(fā)展的硅基微顯示器，主要的制備工藝是在硅片上，利用半導(dǎo)體制程制作驅(qū)動(dòng)面板，形成CMOS基板，然后在基底上制作液晶顯示屏；CMOS基板中，每個(gè)顯示器的像素電路由若干個(gè)金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(Metallic Oxide Semiconductor Field EffectTransistor，MOSFET)和若干個(gè)電容組成。

現(xiàn)有的通過硅基微顯示器顯示圖像時(shí)，由于液晶板固有的電光非線性特性會(huì)導(dǎo)致顯示圖像還原性差，因此，一般需要通過伽馬校正電路對(duì)顯示圖像進(jìn)行伽馬校正，以得到更好的圖像顯示結(jié)果。

但由于現(xiàn)有的伽馬校正電路的校正能力有限，因此，現(xiàn)有的硅基微顯示器顯示圖像時(shí)仍然存在較為嚴(yán)重的圖像失真問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)的目的在于，針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，可以提高硅基微顯示器的顯示特性，減少圖像失真。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下：

第一方面，本發(fā)明提供一種測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于硅基微顯示模組，所述硅基微顯示模組包括：硅基微顯示芯片和芯片驅(qū)動(dòng)電路，所述測(cè)試系統(tǒng)包括：光源、準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)、起偏器、偏振分光棱鏡、控制器以及光功率計(jì)，所述光功率計(jì)與控制器通信連接；

其中，所述準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)設(shè)于所述光源出射光的光路上，所述起偏器設(shè)于所述準(zhǔn)直擴(kuò)束系統(tǒng)準(zhǔn)直后光的光路上；

所述偏振分光棱鏡設(shè)于所述起偏器偏振后光的光路上，所述硅基微顯示模組設(shè)于所述偏振分光棱鏡的反射路徑上，所述偏振分光棱鏡用于將偏振后的偏振光反射至所述硅基微顯示模組，并將所述硅基微顯示模組反射的所述偏振光透射至所述光功率計(jì)；

所述硅基微顯示模組與所述控制器通信連接，所述控制器用于向所述硅基微顯示模組傳輸待測(cè)灰階點(diǎn)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試灰階圖像和校正參數(shù)，以使所述芯片驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)所述校正參數(shù)對(duì)所述待測(cè)灰階點(diǎn)對(duì)應(yīng)的初始驅(qū)動(dòng)電壓進(jìn)行校正。

在可選的實(shí)施方式中，還包括：相位延遲片，所述相位延遲片設(shè)于所述偏振分光棱鏡的反射路徑上，并設(shè)于所述偏振分光棱鏡和所述硅基微顯示模組之間。

在可選的實(shí)施方式中，還包括：檢偏器，所述硅基微顯示模組反射的偏振光透射至所述檢偏器，并經(jīng)所述檢偏器傳輸至所述光功率計(jì)。

第二方面，本發(fā)明提供一種測(cè)試方法，應(yīng)用于前述實(shí)施方式任一項(xiàng)所述測(cè)試系統(tǒng)中的控制器，所述測(cè)試方法包括：

加載待測(cè)灰階點(diǎn)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試灰階圖像，并向所述硅基微顯示模組傳輸所述待測(cè)試灰階圖像；

通過所述光功率計(jì)，探測(cè)獲取所述待測(cè)試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對(duì)應(yīng)的測(cè)試反射率參數(shù)；

根據(jù)所述待測(cè)試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對(duì)應(yīng)的測(cè)試反射率參數(shù)和預(yù)設(shè)理想反射率參數(shù)，生成校正參數(shù)；