[發(fā)明專利]測試系統(tǒng)、測試方法、電子設備及存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110622015.1
• 申請日: 2021-06-04
• 公開（公告）號: CN113359331B
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發(fā)明（設計）人: 陳弈星;胡健
• 申請（專利權）人: 南京芯視元電子有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 王思楠

1.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，應用于硅基微顯示模組，所述硅基微顯示模組包括：硅基微顯示芯片和芯片驅動電路，所述測試系統(tǒng)包括：光源、準直擴束系統(tǒng)、起偏器、偏振分光棱鏡、控制器以及光功率計，所述光功率計與控制器通信連接；

其中，所述準直擴束系統(tǒng)設于所述光源出射光的光路上，所述起偏器設于所述準直擴束系統(tǒng)準直后光的光路上；

所述偏振分光棱鏡設于所述起偏器偏振后光的光路上，所述硅基微顯示模組設于所述偏振分光棱鏡的反射路徑上，所述偏振分光棱鏡用于將偏振后的偏振光反射至所述硅基微顯示模組，并將所述硅基微顯示模組反射的所述偏振光透射至所述光功率計，以通過所述光功率計，探測獲取待測灰階點對應的待測試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對應的測試反射率參數；

所述硅基微顯示模組與所述控制器通信連接，所述控制器用于向所述硅基微顯示模組傳輸待測灰階點對應的待測試灰階圖像和校正參數，以使所述芯片驅動電路根據所述校正參數對所述待測灰階點對應的初始驅動電壓進行校正，所述校正參數由所述控制器根據所述待測試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對應的測試反射率參數和預設理想反射率參數生成；

所述測試系統(tǒng)還包括：相位延遲片，所述相位延遲片設于所述偏振分光棱鏡的反射路徑上，并設于所述偏振分光棱鏡和所述硅基微顯示模組之間。

2.根據權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：檢偏器，所述硅基微顯示模組反射的偏振光透射至所述檢偏器，并經所述檢偏器傳輸至所述光功率計。

3.一種測試方法，其特征在于，應用于權利要求1或2所述測試系統(tǒng)中的控制器，所述測試方法包括：

加載待測灰階點對應的待測試灰階圖像，并向所述硅基微顯示模組傳輸所述待測試灰階圖像；

通過所述光功率計，探測獲取所述待測試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對應的測試反射率參數；

根據所述待測試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對應的測試反射率參數和預設理想反射率參數，生成校正參數；

向所述硅基微顯示模組發(fā)送所述校正參數，以使所述芯片驅動電路根據所述校正參數對所述待測灰階點對應的初始驅動電壓進行校正。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述待測試灰階圖像下所述硅基微顯示模組對應的反射率參數和預設理想反射率參數，生成校正參數，包括：

分別對所述測試反射率參數、所述預設理想反射率參數進行歸一化處理；

根據歸一化后的所述測試反射率參數、歸一化后的所述預設理想反射率參數以及灰階點與初始驅動電壓之間的初始映射關系，計算生成校正參數。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據歸一化后的所述測試反射率參數、歸一化后的所述預設理想反射率參數以及灰階點與初始驅動電壓之間的初始映射關系，計算生成校正參數，包括：

根據歸一化后的所述測試反射率參數、灰階點與初始驅動電壓之間的初始映射關系，獲取歸一化后的所述測試反射率參數與初始驅動電壓之間的測試映射關系；

根據所述測試映射關系和歸一化后的所述預設理想反射率參數，計算獲取所述待測試灰階圖像對應的理想驅動電壓；

根據所述待測試灰階圖像的初始驅動電壓和待測試灰階圖像對應的理想驅動電壓，計算獲取校正電壓。

6.根據權利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述對所述測試反射率參數進行歸一化處理，包括：

分別獲取預設灰階點范圍內最大反射率參數和最小反射率參數；

根據所述最大反射率參數、最小反射率參數以及所述待測試灰階圖像對應的灰階點，對所述測試反射率參數進行歸一化處理。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述加載待測灰階點對應的待測試灰階圖像，包括：

根據所述最大反射率參數和最小反射率參數，計算獲取所述硅基微顯示模組的對比度參數；

若確定所述對比度參數小于預設閾值，則加載待測灰階點對應的待測試灰階圖像。