[發明專利]一種雙工位IC測試分選機

有效

• 申請號: 202110619989.4
• 申請日: 2021-06-03
• 公開（公告）號: CN113333310B
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 謝國清;曹國光;曹皇東;羅奕真
• 申請（專利權）人: 東莞市華越自動化設備有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張建

1.一種雙工位IC測試分選機，其特征在于，包括底座(10)和安裝于所述底座(10)的分度裝置(11)；

所述底座(10)上沿所述分度裝置(11)的旋轉方向依次安裝有上料裝置(20)、引腳位置檢測裝置(30)、轉向裝置(40)、測試裝置(50)、NG下料裝置(60)和封裝裝置(70)；所述分度裝置(11)用于流轉IC芯片；

所述轉向裝置(40)包括轉向底座(401)，所述轉向底座(401)上安裝有一轉向電機(402)和轉向傳動組件(403)，所述轉向傳動組件(403)的一端與所述轉向電機(402)的動子固定連接，所述轉向傳動組件(403)的另一端固定連接有兩轉動臺(404)，所述轉動臺(404)上安裝有用于固定IC芯片的轉向固定模塊；

當所述引腳位置檢測裝置(30)檢測到兩個IC芯片均引腳位置錯位時，所述轉向傳動組件(403)用于帶動兩個所述轉動臺(404)轉動預設的角度；

當所述引腳位置檢測裝置(30)檢測到其中一個IC芯片引腳位置錯位時，所述轉向傳動組件(403)用于帶動對應的所述轉動臺(404)轉動預設的角度；

所述引腳位置檢測裝置(30)包括引腳檢測第一工位(301)、引腳檢測第二工位(302)和引腳檢測第三工位(303)；

所述引腳檢測第一工位(301)和所述引腳檢測第二工位(302)之間設置有用于傳送IC芯片的傳送組件(304)；所述傳送組件(304)能在所述引腳檢測第一工位(301)和所述引腳檢測第二工位(302)之間移動；

所述引腳檢測第二工位(302)上設置有阻光帶組件(305)，所述阻光帶組件(305)內設置有涂有不透光涂料的阻光帶(3051)；

所述引腳檢測第二工位(302)和所述引腳檢測第三工位(303)之間設置有用于透光帶組件(306)，所述透光帶組件(306)內設置有透光的透光帶(3061)且所述透光帶組件(306)能在所述引腳檢測第二工位(302)和所述引腳檢測第三工位(303)之間移動；

當所述傳送組件(304)及所述透光帶組件(306)均位于所述引腳檢測第二工位(302)時，所述傳送組件(304)還用于使IC芯片、阻光帶(3051)及透光帶(3061)相疊合；

所述引腳檢測第三工位(303)上設置有感光組件(307)，所述感光組件(307)用于檢測所述透光帶(3061)的透光率。

2.根據權利要求1所述的雙工位IC測試分選機，其特征在于，所述轉向傳動組件(403)包括第一主動齒輪(4031)、第二從動齒輪(4032)、電磁離合器(4033)、第一從動軸(4034)和第二從動軸(4035)；

所述第一主動齒輪(4031)與所述轉向電機(402)的動子固定連接；

所述第一從動軸(4034)的數量為兩根，且分別設置于所述第一主動齒輪(4031)的兩側，所述第一從動軸(4034)的一端設置于所述轉向底座(401)內，并與所述轉向底座(401)轉動連接，所述第一從動軸(4034)的另一端與所述電磁離合器(4033)的第一端固定連接；

所述電磁離合器(4033)的第二端與所述第二從動軸(4035)固定連接，所述第二從動軸(4035)遠離所述電磁離合器(4033)的一端與所述轉動臺(404)固定連接；

所述第二從動齒輪(4032)套設于所述第一從動軸(4034)上，且與所述第一主動齒輪(4031)嚙合連接。

3.根據權利要求2所述的雙工位IC測試分選機，其特征在于，所述傳送組件(304)包括安裝于底座(10)上的兩個第一導軌(3041)；

所述第一導軌(3041)上分別滑動連接有傳送座(3042)；所述傳送座(3042)的內部設置有伸縮裝置(3043)；所述伸縮裝置(3043)的伸縮端安裝有凸臺(3044)，所述凸臺(3044)上嵌設有用于吸附固定IC芯片的負壓裝置。