[發(fā)明專利]具自測試功能的眾核計算電路、及其測試方法、裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110604968.5
• 申請日: 2021-05-31
• 公開（公告）號: CN115480960A
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發(fā)明（設計）人: 左豐國;劉琦;王玉冰
• 申請（專利權）人: 西安紫光國芯半導體有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 吳瑩

本發(fā)明公開一種具自測試功能的眾核計算電路、及其測試方法、裝置，所述眾核計算電路包括：處理引擎模塊，包括N個處理引擎單元，其中，N為正整數(shù)；存儲模塊，包括M個第一存儲單元，其中，M為正整數(shù)；片上總線，所述片上總線包括L個通道，其中，L＝M*N；自測試模塊，包括：至少一個內建自測試單元；第一選擇器，所述內建自測試單元通過所述第一選擇器可選擇性地連接至所述片上總線；M個第二存儲單元；及M個第二選擇器，每個所述第二存儲單元通過一個所述第二選擇器與一個第一存儲單元并行地、可選擇性地連接至所述片上總線。本發(fā)明可定位并標記出眾核計算電路的失效單元，以便及時對失效單元進行修復。

技術領域

本發(fā)明涉及眾核計算技術領域，具體涉及一種具自測試功能的眾核計算電路、及其測試方法、裝置。

背景技術

眾核計算電路一般包括多個PE(process engine，處理引擎)，所述多個PE通過NOC(network on chip，片上總線)訪問不同的存儲單元，完成運算。然而，當眾核計算電路的任意單元失效，導致芯片不能正常工作時，現(xiàn)有技術中缺乏有效的方法定位失效單元，以便及時對失效單元進行修復。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種具自測試功能的眾核計算電路、及對應的測試方法、裝置，可定位并標記出眾核計算電路的失效單元，以便及時對失效單元進行修復。

本發(fā)明實施例提供了以下方案：

第一方面，本發(fā)明實施例提供一種具自測試功能的眾核計算電路，所述眾核計算電路包括：

處理引擎模塊，包括N個處理引擎單元，其中，N為正整數(shù)；

存儲模塊，包括M個第一存儲單元，其中，M為正整數(shù)；

片上總線，所述片上總線包括L個通道，其中，L＝M*N；

自測試模塊，包括：

至少一個內建自測試單元；

第一選擇器，所述內建自測試單元通過所述第一選擇器可選擇性地連接至所述片上總線；

M個第二存儲單元；及

M個第二選擇器，每個所述第二存儲單元通過一個所述第二選擇器與一個第一存儲單元并行地、可選擇性地連接至所述片上總線，當所述內建自測試單元及所述第二存儲單元與所述片上總線相連時，所述內建自測試單元可依次通過所述通道訪問所述第二存儲單元，定位并標記失效通道；當所述內建自測試單元及所述第一存儲單元與所述片上總線相連時，所述內建自測試單元可依次通過所述通道訪問所述第一存儲單元，定位并標記失效第一存儲單元；當所述處理引擎單元及所述第一存儲單元與所述片上總線相連時，所述處理引擎單元可依次通過所述通道訪問所述第一存儲單元，定位并標記失效處理引擎單元。

第二方面，本發(fā)明實施例提供一種測試方法，用于測試上述具自測試功能的眾核計算電路，所述測試方法包括：

啟動所述內建自測試單元依次通過所述通道訪問所述第二存儲單元，以定位并標記失效通道；

啟動所述內建自測試單元依次通過所述通道訪問所述第一存儲單元，以定位并標記失效第一存儲單元；以及

啟動所述處理引擎單元依次通過所述通道訪問所述第一存儲單元，以定位并標記失效處理引擎單元。

第三方面，本發(fā)明實施例提供一種測試裝置，所述測試裝置包括主控芯片及上述具自測試功能的眾核計算電路，所述主控芯片控制所述具自測試功能的眾核計算電路進行自測試。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比，具有如下的優(yōu)點和有益效果：

本發(fā)明實施例提供的具自測試功能的眾核計算電路、及對應的測試方法、裝置，可準確定位并標記出眾核計算電路的失效單元，以便及時對失效單元進行修復。

附圖說明