[發(fā)明專利]一種異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110603501.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-05-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113052272B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 易存道 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京寶蘭德軟件股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06K9/62 | 分類號(hào): | G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 王慶龍 |
| 地址: | 100020 北京市朝*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 異常 檢測(cè) 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本發(fā)明提供一種異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),包括:獲取待檢測(cè)目標(biāo)的待處理時(shí)序數(shù)據(jù),其中,所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)是從所述待檢測(cè)目標(biāo)中定時(shí)采集得到的;對(duì)所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的每個(gè)時(shí)序子集進(jìn)行計(jì)算處理,獲取所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)中的每個(gè)時(shí)序子集的各個(gè)參數(shù)值;根據(jù)所述每個(gè)時(shí)序子集的各個(gè)參數(shù)值,通過預(yù)設(shè)的中間變量和全量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算公式,獲取所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差;根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)差,確認(rèn)所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的離散程度;若所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的離散程度大于預(yù)設(shè)的閾值,則檢測(cè)到異常。該方法能夠快速計(jì)算海量數(shù)據(jù)中的標(biāo)準(zhǔn)差,提高了實(shí)時(shí)異常檢測(cè)的速度,保證了生產(chǎn)過程中的安全。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,涉及一種異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著人工智能的不斷應(yīng)用,實(shí)時(shí)地監(jiān)測(cè)各項(xiàng)指標(biāo)的變化趨勢(shì)對(duì)提高企業(yè)生產(chǎn)中的異常檢測(cè)速度和產(chǎn)品質(zhì)量均具有重要的意義。
現(xiàn)有技術(shù)中,例如汽車和軌道車輛的生產(chǎn)過程中,需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)各個(gè)生產(chǎn)步驟中的數(shù)據(jù)來判斷產(chǎn)品是否合格,若是通過基于常規(guī)的統(tǒng)計(jì)學(xué)來計(jì)算每個(gè)指標(biāo)下采集的時(shí)序數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差,來判斷生產(chǎn)過程中是否存在異常,則需要遍歷時(shí)序數(shù)據(jù)的每個(gè)原始值,計(jì)算特別耗時(shí),同時(shí),對(duì)CPU和內(nèi)存的壓力都非常大,因此,當(dāng)面對(duì)海量數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)異常檢測(cè)的時(shí)候,常規(guī)的統(tǒng)計(jì)學(xué)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差的方法明顯不能勝任。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),用以解決常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算方法不能夠處理海量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)異常檢測(cè)的技術(shù)問題,以實(shí)現(xiàn)快速、高效計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差和提高實(shí)時(shí)異常檢測(cè)速度的目的。
第一方面,本發(fā)明提供一種異常檢測(cè)方法,包括:
獲取待檢測(cè)目標(biāo)的待處理時(shí)序數(shù)據(jù),其中,所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)是從所述待檢測(cè)目標(biāo)中定時(shí)采集得到的;
對(duì)所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理,獲取所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)中的每個(gè)時(shí)序子集的各個(gè)參數(shù)值;
根據(jù)所述每個(gè)時(shí)序子集的各個(gè)參數(shù)值,通過預(yù)設(shè)的中間變量和全量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算公式,獲取所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差;
根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)差,確認(rèn)所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的離散程度;
若所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的離散程度大于預(yù)設(shè)的閾值,則檢測(cè)到異常。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種異常檢測(cè)方法,該方法還包括:
若所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的離散程度小于或等于預(yù)設(shè)的閾值,則未檢測(cè)到異常。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種異常檢測(cè)方法,所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)是從所述待檢測(cè)目標(biāo)中定時(shí)采集得到的,具體包括:
基于代理技術(shù)從所述待檢測(cè)目標(biāo)中定時(shí)采集各個(gè)實(shí)例的運(yùn)行數(shù)據(jù);
將所述運(yùn)行數(shù)據(jù)以增量的形式存儲(chǔ),定時(shí)對(duì)所述運(yùn)行數(shù)據(jù)進(jìn)行加工匯聚處理,生成所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種異常檢測(cè)方法,所述獲取所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)中的每個(gè)時(shí)序子集的各個(gè)參數(shù)值,具體包括:
對(duì)所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)中的每個(gè)時(shí)序子集中時(shí)序數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算,獲取所述每個(gè)時(shí)序子集中的每個(gè)時(shí)序數(shù)據(jù)的平方之和、總條數(shù)和所有時(shí)序數(shù)據(jù)的相加之和。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種異常檢測(cè)方法,所述全量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算公式,具體表征公式為:
其中, C、N和T為預(yù)設(shè)的中間變量,S表示所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差,C表示所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的平方值之和,T表示所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的原始值之和,N表示所述待處理時(shí)序數(shù)據(jù)的原始值的總條數(shù)。
第二方面,本發(fā)明提供一種異常檢測(cè)裝置,包括:
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- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書寫字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫組成的,而且每個(gè)筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法
- 異常檢測(cè)方法、異常檢測(cè)裝置及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常探測(cè)裝置、異常探測(cè)方法以及計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及記錄介質(zhì)
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- 異常檢測(cè)系統(tǒng)、異常檢測(cè)裝置和異常檢測(cè)方法
- 異常檢測(cè)方法、異常檢測(cè)裝置及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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