[發明專利]一種異常檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202110603501.9 | 申請日: | 2021-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN113052272B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發明(設計)人: | 易存道 | 申請(專利權)人: | 北京寶蘭德軟件股份有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 王慶龍 |
| 地址: | 100020 北京市朝*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 異常 檢測 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種異常檢測方法,其特征在于,包括:
獲取待檢測目標的待處理時序數據,其中,所述待處理時序數據是從所述待檢測目標中定時采集各個實例運行數據得到的;所述各個實例運行數據是指車輛生產過程中,根據各個生產指標采集得到的數據;
對所述待處理時序數據的每個時序子集進行計算處理,獲取所述待處理時序數據中的每個時序子集的各個參數值;
根據所述每個時序子集的各個參數值,通過預設的中間變量和全量數據標準差計算公式,獲取所述待處理時序數據的標準差,具體包括:對所述待處理時序數據中的每個時序子集中時序數據進行計算,獲取所述每個時序子集中的每個時序數據的平方之和、總條數和所有時序數據的相加之和;
其中,所述全量數據標準差計算公式為:
其中,C、N和T為預設的中間變量,S表示所述待處理時序數據的標準差,C表示所述待處理時序數據的平方值之和,T表示所述待處理時序數據的原始值之和,N表示所述待處理時序數據的原始值的總條數;
通過預處理階段提前提取并計算存儲所述每個時序子集的用于計算中間變量的參數,以空間換時間的方式,將原始迭代計算的方式精簡為以子集求全局的方式,通過所述全量數據標準差計算公式計算出所述待處理時序數據的標準差;
根據所述標準差,確認所述待處理時序數據的離散程度;
若所述待處理時序數據的離散程度大于預設的閾值,則檢測到異常。
2.根據權利要求1所述的異常檢測方法,其特征在于,該方法還包括:
若所述待處理時序數據的離散程度小于或等于預設的閾值,則未檢測到異常。
3.根據權利要求1所述的異常檢測方法,其特征在于,所述待處理時序數據是從所述待檢測目標中定時采集得到的,具體包括:
基于代理技術從所述待檢測目標中定時采集各個實例的運行數據;
將所述運行數據以增量的形式存儲,定時對所述運行數據進行加工匯聚處理,生成所述待處理時序數據。
4.一種異常檢測裝置,其特征在于,包括:
第一獲取模塊,用于獲取待檢測目標的待處理時序數據,其中,所述待處理時序數據是從所述待檢測目標中定時采集各個實例運行數據得到的;所述各個實例運行數據是指車輛生產過程中,根據各個生產指標采集得到的數據;
第二獲取模塊,用于對所述待處理時序數據的每個時序子集進行計算處理,獲取所述待處理時序數據中的每個時序子集的各個參數值;
計算模塊,用于根據所述每個時序子集的各個參數值,通過預設的中間變量和全量數據標準差計算公式,獲取所述待處理時序數據的標準差;具體包括:對所述待處理時序數據中的每個時序子集中時序數據進行計算,獲取所述每個時序子集中的每個時序數據的平方之和、總條數和所有時序數據的相加之和;
其中,所述全量數據標準差計算公式為:
其中,C、N和T為預設的中間變量,S表示所述待處理時序數據的標準差,C表示所述待處理時序數據的平方值之和,T表示所述待處理時序數據的原始值之和,N表示所述待處理時序數據的原始值的總條數;
通過預處理階段提前提取并計算存儲所述每個時序子集的用于計算中間變量的參數,以空間換時間的方式,將原始迭代計算的方式精簡為以子集求全局的方式,通過所述全量數據標準差計算公式計算出所述待處理時序數據的標準差;
確認模塊,用于根據所述標準差,確認所述待處理時序數據的離散程度;
異常檢測模塊,用于若所述待處理時序數據的離散程度大于預設的閾值,則檢測到異常。
5.根據權利要求4所述的異常檢測裝置,其特征在于,所述第一獲取模塊還用于:
基于代理技術從所述待檢測目標中定時采集各個實例的運行數據;
將所述運行數據以增量的形式存儲,定時對所述運行數據進行加工匯聚,生成所述待處理時序數據。
6.一種電子設備,其特征在于,包括:處理器、存儲器和總線,其中,
所述處理器和所述存儲器通過所述總線完成相互間的通信;
所述存儲器存儲有可被所述處理器執行的程序指令,所述處理器調用所述程序指令能夠執行如權利要求1至3中任一所述的方法。
7.一種非暫態計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述非暫態計算機可讀存儲介質存儲計算機指令,所述計算機指令使所述計算機執行如權利要求1至3中任一所述的方法。
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