[發明專利]顯示面板及其測試方法和顯示裝置

有效

• 申請號: 202110602213.1
• 申請日: 2021-05-31
• 公開（公告）號: CN113284443B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 李志明;孫光遠;賈溪洋;朱正勇
• 申請（專利權）人: 云谷（固安）科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3208
• 代理公司: 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659
• 代理人: 范坤坤

本發明實施例公開了一種顯示面板及其測試方法和顯示裝置。顯示面板包括：多個像素單元、多條數據線、多條數據連接線、第一開關、第二開關、第一控制信號線、測試信號線、裂紋檢測線和第一焊盤；測試信號線和裂紋檢測線均連接第一焊盤；第一開關連接于測試信號線和數據連接線之間，第二開關連接于裂紋檢測線和數據連接線之間；第一開關用于響應于第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開測試信號線和數據連接線，第二開關用于響應于第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開裂紋檢測線和數據連接線。本發明實施例的技術方案，有助于減少測試電路占用的下邊框面積，從而提升下邊框區域的布線空間利用率，并提升顯示裝置的良率。

技術領域

本發明實施例涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板及其測試方法和顯示裝置。

背景技術

隨著顯示技術的快速發展，人們對于顯示裝置的性能要求越來越高。為提升產品良率，通常需要在顯示裝置的各制作工藝段對其進行測試。目前，現有技術中的測試電路存在占用布線空間過多的問題，不但降低了顯示面板的布線空間的利用率，而且還不利于窄邊框設計的實現。

發明內容

本發明實施例提供一種顯示面板及其測試方法和顯示裝置，以減少測試電路占用的下邊框面積，從而提升下邊框區域的布線空間利用率。

第一方面，本發明實施例提供了一種顯示面板，包括：

多個像素單元、多條數據線和多條數據連接線，所述像素單元連接對應的所述數據線，所述數據連接線通過對應的所述數據線連接所述像素單元；

第一開關、第二開關、第一控制信號線、測試信號線、裂紋檢測線和第一焊盤；所述第一焊盤位于所述顯示面板的非顯示區，所述測試信號線和所述裂紋檢測線均連接所述第一焊盤；所述第一控制信號線連接所述第一開關和所述第二開關的控制端，所述第一開關連接于所述測試信號線和所述數據連接線之間，所述第二開關連接于所述裂紋檢測線和所述數據連接線之間，不同所述第一開關和所述第二開關連接的所述數據連接線不同；所述第一開關用于響應于所述第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開所述測試信號線和所述數據連接線，所述第二開關用于響應于所述第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開所述裂紋檢測線和所述數據連接線。

可選地，所述測試信號線和所述裂紋檢測線均位于所述非顯示區，所述顯示面板包括兩個所述第二開關，所述裂紋檢測線包括第一裂紋檢測線和第二裂紋檢測線；

所述第一裂紋檢測線的一端連接所述第一焊盤，所述第一裂紋檢測線的另一端連接一個所述第二開關，且所述第一裂紋檢測線圍繞所述顯示面板的顯示區的一側延伸；

所述第二裂紋檢測線的一端連接所述第一焊盤，所述第一裂紋檢測線的另一端連接另一個所述第二開關，且所述第二裂紋檢測線圍繞所述顯示區的另一側延伸。

可選地，所述非顯示區還設置有第二焊盤，所述第一控制信號線連接所述第二焊盤。

可選地，所述第一開關包括第一晶體管，所述第一晶體管的柵極連接所述第一控制信號線，所述第一晶體管的第一極連接所述測試信號線，所述第一晶體管的第二極連接對應的所述數據連接線；

所述第二開關包括第二晶體管，所述第二晶體管的柵極連接所述第一控制信號線，所述第二晶體管的第一極連接所述裂紋檢測線，所述第二晶體管的第二極連接對應的所述數據連接線。

可選地，還包括第三開關、第四開關、第二控制信號線和第三控制信號線，所述第二控制信號線連接所述第三開關的控制端，所述第三控制信號線連接所述第四開關的控制端；

每條所述數據連接線均通過一個所述第三開關連接一條所述數據線，并通過一個所述第四開關連接另一條所述數據線，不同所述數據連接線對應的所述第三開關、所述第四開關和所述數據線均不同；