[發明專利]顯示面板及其測試方法和顯示裝置

有效

• 申請號: 202110602213.1
• 申請日: 2021-05-31
• 公開（公告）號: CN113284443B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 李志明;孫光遠;賈溪洋;朱正勇
• 申請（專利權）人: 云谷（固安）科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3208
• 代理公司: 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659
• 代理人: 范坤坤

1.一種顯示面板，其特征在于，包括：

多個像素單元、多條數據線和多條數據連接線，所述像素單元連接對應的所述數據線，所述數據連接線通過對應的所述數據線連接所述像素單元；

第一開關、第二開關、第一控制信號線、測試信號線、裂紋檢測線和第一焊盤；所述第一焊盤位于所述顯示面板的非顯示區，所述測試信號線和所述裂紋檢測線均連接所述第一焊盤；所述第一控制信號線連接所述第一開關和所述第二開關的控制端，所述第一開關連接于所述測試信號線和所述數據連接線之間，所述第二開關連接于所述裂紋檢測線和所述數據連接線之間，不同所述第一開關和所述第二開關連接的所述數據連接線不同；所述第一開關用于響應于所述第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開所述測試信號線和所述數據連接線，所述第二開關用于響應于所述第一控制信號線上的控制信號而導通或斷開所述裂紋檢測線和所述數據連接線；

其中，在所述顯示面板的屏體段和模組段的測試階段中，通過向所述第一控制信號線施加控制信號，控制所述第一開關和所述第二開關同時導通，并向所述第一焊盤施加測試信號，以根據所述第一開關和所述第二開關對應的所述像素單元的發光情況，在對各所述像素單元進行點亮測試的同時，測試所述顯示面板是否出現裂紋；

所述顯示面板還包括第三開關、第四開關、第二控制信號線和第三控制信號線，所述第二控制信號線連接所述第三開關的控制端，所述第三控制信號線連接所述第四開關的控制端；

每條所述數據連接線均通過一個所述第三開關連接一條所述數據線，并通過一個所述第四開關連接另一條所述數據線，不同所述數據連接線對應的所述第三開關、所述第四開關和所述數據線均不同；

所述第三開關用于響應于所述第二控制信號線上的控制信號而導通或斷開對應的所述數據連接線和所述數據線；所述第四開關用于響應于所述第三控制信號線上的控制信號而導通或斷開對應的所述數據連接線和所述數據線。

2.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述測試信號線和所述裂紋檢測線均位于所述非顯示區，所述顯示面板包括兩個所述第二開關，所述裂紋檢測線包括第一裂紋檢測線和第二裂紋檢測線；

所述第一裂紋檢測線的一端連接所述第一焊盤，所述第一裂紋檢測線的另一端連接一個所述第二開關，且所述第一裂紋檢測線圍繞所述顯示面板的顯示區的一側延伸；

所述第二裂紋檢測線的一端連接所述第一焊盤，所述第一裂紋檢測線的另一端連接另一個所述第二開關，且所述第二裂紋檢測線圍繞所述顯示區的另一側延伸。

3.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述非顯示區還設置有第二焊盤，所述第一控制信號線連接所述第二焊盤。

4.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第一開關包括第一晶體管，所述第一晶體管的柵極連接所述第一控制信號線，所述第一晶體管的第一極連接所述測試信號線，所述第一晶體管的第二極連接對應的所述數據連接線；

所述第二開關包括第二晶體管，所述第二晶體管的柵極連接所述第一控制信號線，所述第二晶體管的第一極連接所述裂紋檢測線，所述第二晶體管的第二極連接對應的所述數據連接線。

5.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第三開關包括第三晶體管，所述第三晶體管的柵極連接所述第二控制信號線，所述第三晶體管的第一極連接對應的所述數據連接線，所述第三晶體管的第二極連接對應的所述數據線；

所述第四開關包括第四晶體管，所述第四晶體管的柵極連接所述第三控制信號線，所述第四晶體管的第一極連接對應的所述數據連接線，所述第四晶體管的第二極連接對應的所述數據線。