[發明專利]一種屏幕缺陷的檢測方法

有效

• 申請號: 202110588028.1
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113390611B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 徐博超;張蓮蓮;李偉;田永軍;陶平;靳松;陳永超;陳晨
• 申請（專利權）人: 北京兆維科技開發有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/95;G01N21/01
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 李昆蔚

本發明涉及一種屏幕缺陷的檢測方法，屬于屏幕缺陷檢測技術領域。本檢測方法包括以下步驟：將屏幕處于黑畫面和亮畫面狀態下拍攝，獲得黑畫面圖像和亮畫面圖像，確定缺陷位置；當在黑畫面存在缺陷時，根據黑畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，即為缺陷信息A；當在亮畫面存在缺陷時，根據亮畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，即為缺陷信息B；根據亮畫面圖像，獲得屏幕表面灰塵臟污的干擾缺陷；將缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干擾缺陷，即檢測出屏幕缺陷。本檢測方法可以獲取缺陷所在層級，從而確定缺陷是否為可修復缺陷，提高產量，并能判別出表面臟污與內部真實缺陷，降低了過檢率。

技術領域

本發明屬于屏幕缺陷檢測技術領域，具體涉及一種屏幕缺陷的檢測方法。

背景技術

隨著手機屏幕需求量日益增大、質量要求日益提高，對屏幕缺陷檢測的需求也日益提高。為了滿足客戶質量需求，需要盡可能降低屏幕漏檢率，同時，為滿足出貨數量需求，需要盡可能降低過檢率以及提高可修復屏幕的檢出率。

其中，液晶顯示屏分為CG蓋板層、上偏光片層、CF層、下偏光片層和背光層等，其中，如果缺陷不在CF層內部時，均可以通過將缺陷所在的附近層取出，再更換為無缺陷的層進行修復，即可得到合格的手機屏幕。

目前，手機屏幕檢測方法多采用低分辨率相機對手機屏幕整體進行拍攝，用以檢測。

但是，目前使用這種方法缺點表現在以下四方面：

一、無法確定缺陷所在屏幕層級，即無法判斷可修復屏幕與不可修復屏幕，導致存在可修復缺陷的屏幕全部報廢；

二、屏幕表面臟污(如灰塵，水漬)與真實缺陷容易混淆，增加了過檢率和漏檢率。

發明內容

本發明為了解決上述技術問題提供一種屏幕缺陷的檢測方法，可以獲取缺陷所在層級，從而確定缺陷是否為可修復缺陷，提高產量，并能判別出表面臟污與內部真實缺陷，降低了過檢率。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種屏幕缺陷的檢測方法，包括以下步驟：

將屏幕處于黑畫面和亮畫面狀態下拍攝，獲得黑畫面圖像和亮畫面圖像，確定缺陷位置確定缺陷處于黑畫面或亮畫面中；

當在黑畫面存在缺陷時，根據黑畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，即為缺陷信息A；

當在亮畫面存在缺陷時，根據亮畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，即為缺陷信息B；

根據亮畫面圖像，獲得屏幕表面灰塵臟污的干擾缺陷；

將缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干擾缺陷，即檢測出屏幕缺陷。

本發明的有益效果是：(1)通過對灰塵、臟污進行檢測，降低了因為臟污而所造成的過檢率；

(2)利用亮畫面和黑畫面缺陷提取方法，獲取了更加精準的缺陷，同時降低了過檢率、漏檢率。

(3)利用對缺陷所在層進行判斷的方法，獲取了缺陷所在層級信息，為屏幕的修復提供了依據，能盡可能的修復屏幕，避免屏幕的浪費，增加了屏幕的出貨量。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以做如下改進。

進一步，所述根據黑畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，包括以下步驟：

對黑畫面圖像的CF層及其附近層的圖像檢測，獲取區域特征，將區域特征與預設值比較，當區域特征大于預設值時，確定為疑似缺陷；

將疑似缺陷帶入清晰度評價函數中，計算得到清晰度分數，得到的清晰度分數的數值大的為具有疑似缺陷層級，即為疑似缺陷所在層級；