[發明專利]一種屏幕缺陷的檢測方法

有效

• 申請號: 202110588028.1
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113390611B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 徐博超;張蓮蓮;李偉;田永軍;陶平;靳松;陳永超;陳晨
• 申請（專利權）人: 北京兆維科技開發有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/95;G01N21/01
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 李昆蔚

1.一種屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

將屏幕處于黑畫面和亮畫面狀態下拍攝，獲得黑畫面圖像和亮畫面圖像，確定缺陷位置和確定缺陷處于黑畫面或亮畫面中；

當在黑畫面存在缺陷時，根據黑畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，即為缺陷信息A；

當在亮畫面存在缺陷時，根據亮畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級,即為缺陷信息B；

根據亮畫面圖像，獲得屏幕表面灰塵臟污的干擾缺陷；

將缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干擾缺陷，即檢測出屏幕缺陷；

所述根據黑畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級，

包括以下步驟：

對黑畫面圖像的CF層及其附近層的圖像檢測，獲取區域特征，將區域特征與預設值比較，當區域特征大于預設值時，確定為疑似缺陷；

將疑似缺陷帶入清晰度評價函數中，計算得到清晰度分數，得到的清晰度分數的數值大的為具有疑似缺陷層級，即為疑似缺陷所在層級；將疑似缺陷所在層級進行顏色判定，確定疑似缺陷顏色，再進行亮度判定，得到疑似缺陷單一顏色亮度，將疑似缺陷單一顏色亮度與預設標準值比較，若疑似缺陷單一顏色亮度大于預設標準值，則判定為缺陷，則得到缺陷所在層級，反之，則判定為不是缺陷；

所述清晰度評價函數為：Score＝S+∑G(x,y)-S*G(layer)；

其中，(x,y)為缺陷區域,G為缺陷區域的灰度值，S為缺陷區域的缺陷面積，G(layer)為各層灰度矯正常數。

2.根據權利要求1所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述對黑畫面圖像的CF層及其附近層的圖像檢測，獲取區域特征，包括以下步驟：

將黑畫面圖像的CF層及其附近層按照RGB三原色進行三個通道分層，得到單色圖像；

將得到的單色圖像進行形態學操作，確實缺陷區域，對缺陷區域測量，即得到區域特征。

3.根據權利要求2所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述區域特征包括缺陷面積、凸度、主骨架長度、等效橢圓各主軸長度或離散度。

4.根據權利要求1所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述根據亮畫面圖像對缺陷提取，并對缺陷檢測，確定缺陷所在層級,包括以下步驟：

將亮畫面圖像的CF層及其附近層的缺陷像素提取，根據缺陷像素計算出圖像矯正角度，并矯正亮畫面圖像，得到矯正亮畫面圖像；

將矯正亮畫面圖像進行區域分割，得到多個單元集，對多個單元集中的單個單元進行逐一檢測是否存在缺陷，若有缺陷，則為異常單元；

對異常單元內的缺陷分割，得到單元缺陷區域，確定單元缺陷區域的所在層級的信息；

將單元缺陷區域合并，即得到缺陷所在層級。

5.根據權利要求4所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述將亮畫面圖像的CF層及其附近層的缺陷像素提取，根據缺陷像素計算出圖像矯正角度，包括以下步驟：

對亮畫面圖像的CF層及其附近層的缺陷像素粗提取，得到多個完整像素；

將多個完整像素的中心按照每行進行直線擬合，得到多行直線段，測出多行直線段與水平軸的夾角，取平均值，得到圖像矯正夾角。

6.根據權利要求5所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述對異常單元內的缺陷分割，得到單元缺陷區域，包括以下步驟：

將異常單元內的缺陷按照RGB三原色進行分離，得到子像素，將子像素生成對應的點灰度閾值分布函數，利用水漫填充，即得到完整單元缺陷區域。

7.根據權利要求1所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述根據亮畫面圖像，獲得屏幕表面灰塵臟污的干擾缺陷，包括以下步驟：

對亮畫面圖像的CG蓋板層圖像進行檢測，采用均值濾波預處理，并與亮畫面圖像進行絕對值相減，得到灰塵臟污的基礎區域，即得到干擾缺陷。

8.根據權利要求1-7任一項所述的屏幕缺陷的檢測方法，其特征在于，所述屏幕缺陷包括麻點類缺陷、亮點類缺陷或兩點類缺陷。