[發(fā)明專利]一種安檢包裹識(shí)別方法、系統(tǒng)、儲(chǔ)存介質(zhì)及設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110583761.4
• 申請(qǐng)日: 2021-05-27
• 公開（公告）號(hào): CN113570543A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏煌帥;葉希立;李站;仝帥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江大華技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/73;G06T7/77
• 代理公司: 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33250
• 代理人: 李洋

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N安檢包裹識(shí)別方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)及設(shè)備，方法包括：獲取安檢機(jī)采集的連續(xù)安檢圖像；統(tǒng)計(jì)各時(shí)刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到第一直方圖；根據(jù)第一直方圖的峰谷特征，確定待分析的安檢圖像的橫坐標(biāo)值區(qū)間；根據(jù)橫坐標(biāo)值區(qū)間，從連續(xù)安檢圖像中獲取待分析的安檢圖像；對(duì)待分析的安檢圖像進(jìn)行違禁品分析，得到與待分析的安檢圖像對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果。上述安檢包裹識(shí)別方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)及設(shè)備，通過確定待分析的安檢圖像，進(jìn)行違禁品分析，避免了安檢機(jī)內(nèi)物品分析芯片做無用功，降低了損耗，解決了現(xiàn)有技術(shù)中物品分析芯片持續(xù)工作，導(dǎo)致性能消耗嚴(yán)重，降低了使用壽命的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及物品識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種安檢包裹識(shí)別方法、系統(tǒng)、 儲(chǔ)存介質(zhì)及設(shè)備。

背景技術(shù)

安檢機(jī)作為一種安防設(shè)備，在各種公共場(chǎng)合廣泛運(yùn)用，一般安檢機(jī)通過傳送帶將需要案件的物品送到安檢機(jī)內(nèi)部，

通過X射線對(duì)行李物品進(jìn)行成像，然后由操作人員觀察顯示器上的行李X射線圖像快速判斷行李內(nèi)是否有違禁物品。

現(xiàn)有技術(shù)當(dāng)中，安檢機(jī)的安檢方法一般為無論掃描區(qū)域上是否有包裹，安 檢機(jī)內(nèi)的物品分析芯片都對(duì)掃描區(qū)域進(jìn)行物品識(shí)別，即物品分析芯片持續(xù)在實(shí) 行檢測(cè)工作，這對(duì)物品分析芯片的性能消耗很大，降低了物品分析芯片的使用 壽命，間接的降低了安檢機(jī)的使用壽命。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，本發(fā)明的目的是提供一種安檢包裹識(shí)別方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)及 設(shè)備，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中物品分析芯片持續(xù)實(shí)行檢測(cè)工作，導(dǎo)致物品分析芯 片性能消耗嚴(yán)重，降低了安檢機(jī)的使用壽命的技術(shù)問題。

本申請(qǐng)一方面提供一種安檢包裹識(shí)別方法，所述方法包括：

獲取安檢機(jī)采集的連續(xù)安檢圖像，所述連續(xù)安檢圖像由各時(shí)刻的X光掃描 線圖組成；

統(tǒng)計(jì)各時(shí)刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到以各時(shí)刻為橫坐標(biāo)值、以 各時(shí)刻的X光掃描線圖的亮度值分布為縱坐標(biāo)值的第一直方圖；

根據(jù)所述第一直方圖的峰谷特征，確定待分析的安檢圖像的橫坐標(biāo)值區(qū)間；

根據(jù)所述橫坐標(biāo)值區(qū)間，從所述連續(xù)安檢圖像中獲取所述待分析的安檢圖 像；

對(duì)所述待分析的安檢圖像進(jìn)行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像 對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果。

上述安檢包裹識(shí)別方法，通過獲取安檢機(jī)采集的連續(xù)安檢圖像；統(tǒng)計(jì)各時(shí) 刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到以各時(shí)刻為橫坐標(biāo)值、以各時(shí)刻的X光 掃描線圖的亮度值分布為縱坐標(biāo)值的第一直方圖；根據(jù)所述第一直方圖的峰谷 特征，確定待分析的安檢圖像的橫坐標(biāo)值區(qū)間；根據(jù)所述橫坐標(biāo)值區(qū)間，從所 述連續(xù)安檢圖像中獲取所述待分析的安檢圖像；對(duì)所述待分析的安檢圖像進(jìn)行 違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果。從而根據(jù)第一直 方圖的峰谷特征確定待分析的安檢圖像，對(duì)待分析的安檢圖像進(jìn)行違禁品分析， 提高物品分析芯片對(duì)包裹分析的有效性，提高了安檢機(jī)的使用壽命，避免了安 檢機(jī)內(nèi)物品分析芯片做無用功，降低了損耗，解決了現(xiàn)有技術(shù)中物品分析芯片 持續(xù)實(shí)行檢測(cè)工作，導(dǎo)致物品分析芯片性能消耗嚴(yán)重，降低了安檢機(jī)的使用壽 命的技術(shù)問題。

本申請(qǐng)另一方面提供一種安檢包裹識(shí)別系統(tǒng)，包括：

第一獲取模塊，用于獲取安檢機(jī)采集的連續(xù)安檢圖像，所述連續(xù)安檢圖像 由各時(shí)刻的X光掃描線圖組成；

統(tǒng)計(jì)模塊，用于統(tǒng)計(jì)各時(shí)刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到以各時(shí)刻 為橫坐標(biāo)值、以各時(shí)刻的X光掃描線圖的亮度值分布為縱坐標(biāo)值的第一直方圖；

確定模塊，用于根據(jù)所述第一直方圖的峰谷特征，確定待分析的安檢圖像 的橫坐標(biāo)值區(qū)間；

第二獲取模塊，用于根據(jù)所述橫坐標(biāo)值區(qū)間，從所述連續(xù)安檢圖像中獲取 所述待分析的安檢圖像；