[發明專利]一種安檢包裹識別方法、系統、儲存介質及設備

在審

• 申請號: 202110583761.4
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113570543A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 夏煌帥;葉希立;李站;仝帥
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/73;G06T7/77
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 李洋

1.一種安檢包裹識別方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取安檢機采集的連續安檢圖像，所述連續安檢圖像由各時刻的X光掃描線圖組成；

統計各時刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到以各時刻為橫坐標值、以各時刻的X光掃描線圖的亮度值分布為縱坐標值的第一直方圖；

根據所述第一直方圖的峰谷特征，確定待分析的安檢圖像的橫坐標值區間；

根據所述橫坐標值區間，從所述連續安檢圖像中獲取所述待分析的安檢圖像；

對所述待分析的安檢圖像進行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對應的分析結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述橫坐標值區間，從所述連續安檢圖像中獲取待分析的安檢圖像的步驟包括：

截取所述連續安檢圖像中與所述橫坐標值區間對應的片段安檢圖像；

統計所述片段安檢圖像中各像素行號對應的線圖的亮度值分布，得到以各像素行號為橫坐標值，以各像素行號對應的線圖的亮度值分布為縱坐標值的第二直方圖；

根據所述第二直方圖的峰谷特征，確定所述待分析的安檢圖像的縱坐標值區間；

截取所述片段安檢圖像中與所述縱坐標值區間對應的安檢圖像，即為所述待分析的安檢圖像。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

在對所述待分析的安檢圖像進行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對應的分析結果的步驟之前，所述方法還包括：根據所述第一直方圖和/或所述第二直方圖的特征信息，生成所述待分析的安檢圖像的標識信息，并以所述標識信息為索引存儲與所述待分析的安檢圖像相關的包裹屬性信息，所述包裹屬性信息包括所述橫坐標值區間和所述縱坐標值區間；根據所述待分析的安檢圖像的標識信息，判斷所述待分析的安檢圖像是否為新的安檢圖像；

對所述待分析的安檢圖像進行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對應的分析結果包括：在所述待分析的安檢圖像為新的安檢圖像的情況下，對所述待分析的安檢圖像進行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對應的分析結果。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在對所述待分析的安檢圖像進行違禁品分析，得到與所述待分析的安檢圖像對應的分析結果之后，所述方法還包括：

以所述標識信息為索引存儲所述分析結果，所述分析結果包括：所述待分析的安檢圖像中的物品的類別信息和坐標信息。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

在根據所述待分析的安檢圖像的標識信息，判斷所述待分析的安檢圖像是否為新的安檢圖像之前，所述方法還包括：統計各時刻的X光掃描線圖的色度值分布，得到以各時刻為橫坐標值、以各時刻的X光掃描線圖的色度值分布為縱坐標值的第三直方圖；統計所述待分析的安檢圖像中各像素行號對應的線圖的色度值分布，得到以各像素行號為橫坐標值，以各像素行號對應的線圖的色度值分布為縱坐標值的第四直方圖；獲取所述第三直方圖和/或所述第四直方圖的特征信息，并以所述標識信息為索引，存儲所述第三直方圖和/或所述第四直方圖的特征信息；

根據所述待分析的安檢圖像的標識信息，判斷所述待分析的安檢圖像是否為新的安檢圖像還包括：根據所述待分析的安檢圖像的標識信息，以及所述第三直方圖和/或所述第四直方圖的特征信息，判斷所述待分析的安檢圖像是否為新的安檢圖像。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，統計各時刻的X光掃描線圖的亮度值分布，得到以各時刻為橫坐標值、以各時刻的X光掃描線圖的亮度值分布為縱坐標值的第一直方圖包括：

確定亮度值統計區間；

統計各時刻的X光掃描線圖中目標像素的個數或目標像素占該X光掃描線圖總像素的比值，將該像素個數或比值作為亮度值分布的值，得到以各時刻為橫坐標值、以各時刻的X光掃描線圖的亮度值分布為縱坐標值的第一直方圖，其中，所述目標像素為亮度值處于所述亮度值統計區間內的像素。