[發明專利]芯片設計方法、裝置、設備、可讀存儲介質以及程序產品

有效

• 申請號: 202110579520.2
• 申請日: 2021-05-26
• 公開（公告）號: CN113361084B
• 公開（公告）日: 2023-02-07
• 發明（設計）人: 欒曉琨;蔣劍鋒;鄧宇;黃薇;王翠娜;孫永豐;邊少鮮
• 申請（專利權）人: 飛騰信息技術有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 萬里晴

1.一種芯片設計方法，包括：

通過編譯器確定滿足約束條件的M個候選時序器件，其中，M為大于1的整數；

至少基于時鐘周期、時序器件的建立時間和保持時間，利用時序分析條件，對所述M個候選時序器件進行篩選，以從中確定滿足所述時序分析條件的N個待測試時序器件，其中，N為大于或等于1且小于M的整數；

對所述N個待測試時序器件進行最終篩選過程，以確定最終時序器件。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述時序器件包括存儲器，所述約束條件包括所述存儲器的容量、端口類型中的至少一個。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述至少基于時鐘周期、時序器件的建立時間和保持時間間，利用時序分析條件，對所述M個候選時序器件進行篩選包括：

基于以下時序分析公式，對所述M個候選時序器件進行時序分析條件的約束，以從中確定滿足所述時序分析公式的N個待測試時序器件，

T-2*TuTs+Th，

其中，T表示所述時鐘周期，其中，所述時鐘周期為設計頻率的倒數，Tu表示設計缺省時間，Ts表示時序器件的建立時間，Th表示時序器件的保持時間。

4.根據權利要求3所述的方法，還包括：

對于所述M個候選時序器件中的候選時序器件，通過所述編譯器獲取該候選時序器件不同工藝角下的建立時間和保持時間。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，對所述N個待測試時序器件進行最終篩選過程，以確定最終時序器件包括：

對于所述N個待測試時序器件中的待測試時序器件，基于所述待測試時序器件的參數進行所述測試過程以確定所述最終時序器件，其中，所述參數包括以下中的至少一種：形狀、面積、時序、功耗。

6.一種芯片設計裝置，包括編譯單元、時序分析單元和最終篩選單元，其中，

所述編譯單元配置成：通過編譯器確定滿足約束條件的M個候選時序器件，其中，M為大于1的整數；

所述時序分析單元配置成：至少基于時鐘周期、時序器件的建立時間和保持時間，利用時序分析條件，對所述M個候選時序器件進行篩選，以從中確定滿足所述時序分析條件的N個待測試時序器件，其中，N為大于或等于1且小于M的整數；

所述最終篩選單元配置成：對所述N個待測試時序器件進行最終篩選過程，以確定最終時序器件。

7.根據權利要求6所述的裝置，其中，所述時序器件包括存儲器，所述約束條件包括所述存儲器的容量、端口類型中的至少一個。

8.根據權利要求6所述的裝置，其中，為了確定所述N個待測試時序器件，所述時序分析單元配置成：

基于以下時序分析公式，對所述M個候選時序器件進行時序分析條件的約束，以從中確定滿足所述時序分析公式的N個待測試時序器件，

T-2*TuTs+Th，

其中，T表示所述時鐘周期，其中，所述時鐘周期為設計頻率的倒數，Tu表示設計缺省時間，Ts表示時序器件的建立時間，Th表示時序器件的保持時間。

9.根據權利要求8所述的裝置，其中，所述編譯單元還配置成：

對于所述M個候選時序器件中的候選時序器件，通過所述編譯器獲取該候選時序器件不同工藝角下的建立時間和保持時間。

10.根據權利要求6所述的裝置，其中，為了確定所述最終時序器件，所述最終篩選單元配置成：

對于所述N個待測試時序器件中的待測試時序器件，基于所述待測試時序器件的參數進行所述測試過程以確定所述最終時序器件，其中，所述參數包括以下中的至少一種：形狀、面積、時序、功耗。

11.一種芯片設計設備，包括：

處理器；和存儲器，其中，所述存儲器中存儲有計算機可讀代碼，所述計算機可讀代碼在由所述處理器運行時，執行如權利要求1-5中任一項所述的芯片設計方法。

12.一種非暫時性計算機可讀存儲介質，其上存儲有指令，所述指令在被處理器執行時，使得所述處理器執行如權利要求1-5中任一項所述的芯片設計方法。