[發(fā)明專利]LED封裝外觀檢測圖像的提取方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110571748.7
• 申請(qǐng)日: 2021-05-25
• 公開（公告）號(hào): CN113192061B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 別曉輝;皇雅坤;別偉成;單書暢
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽睿微信息科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T5/00;G06T3/40;G06N3/08
• 代理公司: 合肥中博知信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34142
• 代理人: 李金標(biāo)

本發(fā)明涉及圖像檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種LED封裝外觀檢測圖像的提取方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)；所述的方法包括采用目標(biāo)檢測方法初步檢測出圖像數(shù)據(jù)中單顆料片的位置，并通過檢出的單顆料片的位置對(duì)圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)矯正；通過目標(biāo)檢測方法再次檢測出旋轉(zhuǎn)矯正后的單顆料片位置；然后通過異常檢測篩掉異常點(diǎn)位和偏離較多的點(diǎn)位；通過點(diǎn)集匹配的方法將空位或破損嚴(yán)重料片中心補(bǔ)齊；最后計(jì)算單顆料片的全局坐標(biāo)，并將單顆料片圖片通過固定切割尺寸提取出來；本發(fā)明避免了現(xiàn)有方法在缺陷存在的情況下，對(duì)于單顆料片中心位置的檢測變得不夠穩(wěn)定，存在偏離中心位置較多，甚至檢測不出的情況；提高了LED封裝外觀檢測圖像提取的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種LED封裝外觀檢測圖像的提取方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

LED(Light-emitting?diode)由于壽命長、能耗低等優(yōu)點(diǎn)被廣泛地應(yīng)用于指示、顯示等領(lǐng)域。可靠性、穩(wěn)定性及高出光率是LED取代現(xiàn)有照明光源必須考慮的因素。封裝工藝是影響LED功能作用的主要因素之一，封裝工藝關(guān)鍵工序有裝架、壓焊、封裝。由于封裝工藝本身的原因，導(dǎo)致LED封裝過程中存在諸多缺陷。其中外觀表面缺陷通常通過視覺檢測和人工檢測完成。傳統(tǒng)的視覺對(duì)復(fù)雜紋路的情況難以解決，并且漏檢誤報(bào)率高，檢測不穩(wěn)定；人工檢測往往都是主觀判斷瑕疵缺陷，一旦檢測時(shí)間過長就會(huì)產(chǎn)生疲勞、誤檢及漏檢等情況發(fā)生，從而導(dǎo)致工作效率和準(zhǔn)確率下降。深度學(xué)習(xí)在特征提取和定位上取得了非常好的效果，對(duì)于缺陷檢測領(lǐng)域能夠更加準(zhǔn)確，并且穩(wěn)定性較好。其中對(duì)于單顆料片的提取是深度學(xué)習(xí)在缺陷檢測應(yīng)用的重要一步，能夠準(zhǔn)確的找到所有單顆小料的位置并提取出來對(duì)缺陷檢測有著重要的意義。

目前，通過閾值分割和模板匹配能夠找到料片的中心位置，但是準(zhǔn)確率和穩(wěn)定性都存在固有缺陷。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本發(fā)明的目的在于提供一種LED封裝外觀檢測圖像的提取方法，該方法能夠穩(wěn)定、準(zhǔn)確的提取LED封裝外觀檢測圖像中單顆料片的圖片。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)：

一種LED封裝外觀檢測圖像的提取方法，所述的方法包括：

采用目標(biāo)檢測方法初步檢測出圖像數(shù)據(jù)中單顆料片的位置，并通過檢出的單顆料片的位置對(duì)圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)矯正；

通過目標(biāo)檢測方法再次檢測出旋轉(zhuǎn)矯正后的單顆料片位置；

然后通過異常檢測篩掉異常點(diǎn)位和偏離較多的點(diǎn)位；

通過點(diǎn)集匹配的方法將空位或破損嚴(yán)重料片中心補(bǔ)齊；

最后計(jì)算單顆料片的全局坐標(biāo)，并將單顆料片圖片通過固定切割尺寸提取出來。

在進(jìn)一步的技術(shù)方案中，初步檢測單顆料片位置前，對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行縮放處理，以加快圖像處理速度。

在進(jìn)一步的技術(shù)方案中，所述的目標(biāo)檢測方法包括使用深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練出能夠識(shí)別料片模型，對(duì)縮放處理后的圖像進(jìn)行檢測以識(shí)別出單顆料片的中心位置；

具體的，先收集一定原始數(shù)據(jù)，接著對(duì)目標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像增強(qiáng)、濾波處理；然后使用軟件圖片中的料片進(jìn)行數(shù)據(jù)標(biāo)注，同時(shí)標(biāo)注易混淆的目標(biāo)，在標(biāo)注時(shí)，對(duì)圖像進(jìn)行剪裁縮放，標(biāo)注處理過的圖片；最后進(jìn)行數(shù)據(jù)訓(xùn)練，得到可以穩(wěn)定檢測出目標(biāo)外接矩形的模型，模型使用YoloV5網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，訓(xùn)練時(shí)所使用的損失函數(shù)為回歸框誤差和類別誤差之和，其中損失函數(shù)OD_loss、回歸框誤差I(lǐng)OU_loss、類別誤差CLS_loss對(duì)應(yīng)公式為公式(1)(2)(3)所示：

OD_loss＝IOU_loss+CLS_loss???(1)