[發明專利]LED封裝外觀檢測圖像的提取方法、裝置、電子設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202110571748.7
• 申請日: 2021-05-25
• 公開（公告）號: CN113192061B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 別曉輝;皇雅坤;別偉成;單書暢
• 申請（專利權）人: 安徽睿微信息科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T3/40;G06N3/08
• 代理公司: 合肥中博知信知識產權代理有限公司 34142
• 代理人: 李金標

1.一種LED封裝外觀檢測圖像的提取方法，其特征在于，所述的方法包括：

采用目標檢測方法初步檢測出圖像數據中單顆料片的位置，并通過檢出的單顆料片的位置對圖像進行旋轉矯正；

通過目標檢測方法再次檢測出旋轉矯正后的單顆料片位置；

然后通過異常檢測篩掉異常點位和偏離較多的點位；

通過點集匹配的方法將空位或破損嚴重料片中心補齊；

最后計算單顆料片的全局坐標，并將單顆料片圖片通過固定切割尺寸提取出來；

所述的旋轉矯正是使用目標檢測方法檢測出單顆料片的中心點坐標，

(x₁,y₁),(x₂,y₂)...(x_n,y_n)為通過目標檢測方法檢出的料片中心點坐標，其旋轉矯正角度計算公式為：

其中，θ為旋轉矯正角度，n為檢出料片的個數；

所述點集匹配的方法包括點集的制作和根據點集進行匹配和補位；

其中，點集的制作包括尋找完整的圖片保證全部單顆料片能夠通過目標檢測出所有中心點，將料片所有中心點位置按照先行后列的排序方式進行排列，并將所有中心點記錄在點集文件中；

根據點集進行匹配和補位時，首先加載點集文件中的點集，通過對比點集模板與檢測出的中心點的首行首列坐標，將點集模板移動到與檢出中心點同樣的位置，其移動公式如下所示，其中(x_template,y_template)為點集模板的坐標，(x_pos,y_pos)為檢測圖片中所有已經檢出坐標；D_x為模板與檢出中心點的橫坐標距離，D_y為模板與檢出中心點的縱坐標距離；

將檢出的點集與點集模板同樣先行后列的方式進行排序，遍歷點集模板和檢出的點集，對比點集模板和檢出的點集，如果點集模板上的點和檢出的點距離小于兩顆料片的距離就篩除，否則認為此點位存在漏檢，將點集模板中漏檢的料片中心填補上；

最后通過已檢出的料片中心點位置對補位的中心點進行矯正，(x_i,y_i)為未檢出料片的中心點坐標，(x_i-1,y_i),(x_i+1,y_i),(x_i,y_i-1),(x_i,y_i+1)為未檢出料片中心點附近的料片中心點坐標，其矯正公式為：

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，初步檢測單顆料片位置前，對圖像數據進行縮放處理，以加快圖像處理速度。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的目標檢測方法包括使用深度學習網絡訓練出能夠識別料片模型，對縮放處理后的圖像進行檢測以識別出單顆料片的中心位置；

具體的，先收集一定原始數據，接著對目標數據進行圖像增強、濾波處理；然后使用軟件將圖片中的料片進行數據標注，同時標注易混淆的目標，在標注時，對圖像進行剪裁縮放，標注處理過的圖片；最后進行數據訓練，得到可以穩定檢測出目標外接矩形的模型，模型使用YoloV5網絡結構，訓練時所使用的損失函數為回歸框誤差和類別誤差之和。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的異常檢測步驟中，先將圖像中ROI區域外的點篩選掉，接著，將ROI以內的所有中心點位置根據橫坐標和縱坐標分別進行排序，當兩點之間的縱坐標小于1/4行間距則認為在同一行，兩點之間的橫坐標小于1/4列間距則認為在同一列，分別將同一行、同一列中的坐標取均值，將同一行中偏離1/10單顆料片寬度的點位去除。