[發(fā)明專(zhuān)利]陣列基板、陣列基板的測(cè)試方法及顯示面板

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110571611.1
• 申請(qǐng)日: 2021-05-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113539085B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許傳志;謝正芳;李曼曼;張露;胡思明
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 昆山國(guó)顯光電有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09F9/30
• 分類(lèi)號(hào): G09F9/30;G09G3/00
• 代理公司: 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51310
• 代理人: 陳萬(wàn)藝

本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種陣列基板、顯示面板及測(cè)試方法，陣列基板包括：與有效顯示區(qū)對(duì)應(yīng)的陣列區(qū)；位于陣列區(qū)一側(cè)的信號(hào)短接區(qū)，信號(hào)短接區(qū)包括將陣列區(qū)的至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線短接的短接端點(diǎn)；位于信號(hào)短接區(qū)一側(cè)的覆晶薄膜連接區(qū)，覆晶薄膜連接區(qū)包括多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)引腳及多個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳，數(shù)據(jù)信號(hào)引腳用于與陣列區(qū)的數(shù)據(jù)線連接，第一測(cè)試信號(hào)引腳用于與短接端點(diǎn)連接。通過(guò)設(shè)置信號(hào)短接區(qū)將至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線短接后接入覆晶薄膜連接區(qū)的第一測(cè)試信號(hào)引腳，如此，在二次切割區(qū)被去除后，也能通過(guò)覆晶薄膜連接區(qū)設(shè)置的少數(shù)幾個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳顯示面板的整體測(cè)試，不會(huì)占用覆晶薄膜連接區(qū)過(guò)多空間。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種陣列基板、陣列基板的測(cè)試方法及顯示面板。

背景技術(shù)

為了盡量提高屏占比，在一些顯示面板的封裝方案中采用了覆晶薄膜(Chip OnFlex，COF)封裝方式，將集成電路(IC)芯片固定在柔性的晶粒軟膜上，運(yùn)用軟質(zhì)附加電路板作為IC芯片載體將IC芯片與軟性基板電路結(jié)合，從而可以將設(shè)置IC芯片部分彎折到屏幕模組顯示面的背面，避免IC芯片占用顯示面的空間。

發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的這種封裝方式中，后續(xù)可能難以通過(guò)檢測(cè)篩選出損壞的顯示面板，損壞的顯示面板進(jìn)入后續(xù)裝配環(huán)節(jié)后會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)能和材料的浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述技術(shù)背景中所提及的技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括：

與有效顯示區(qū)對(duì)應(yīng)的陣列區(qū)；

位于所述陣列區(qū)一側(cè)的信號(hào)短接區(qū)，所述信號(hào)短接區(qū)包括將所述陣列區(qū)的至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線短接的短接端點(diǎn)；

位于所述信號(hào)短接區(qū)一側(cè)的覆晶薄膜連接區(qū)，所述覆晶薄膜連接區(qū)包括多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)引腳及多個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳，所述數(shù)據(jù)信號(hào)引腳用于與所述陣列區(qū)的數(shù)據(jù)線連接，所述第一測(cè)試信號(hào)引腳用于與所述短接端點(diǎn)連接。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述信號(hào)短接區(qū)還包括分別與所述至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)短接開(kāi)關(guān)單元，所述數(shù)據(jù)線通過(guò)所述短接開(kāi)關(guān)單元與所述短接端點(diǎn)連接。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一測(cè)試信號(hào)引腳包括與所述短接開(kāi)關(guān)單元連接的第一子引腳以及與所述短接端點(diǎn)連接的第二子引腳。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述陣列基板為薄膜晶體管陣列基板，所述短接開(kāi)關(guān)單元為薄膜晶體管。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述信號(hào)短接區(qū)包括多個(gè)所述短接端點(diǎn)，每個(gè)所述短接端點(diǎn)用于短接驅(qū)動(dòng)同種顏色的像素的至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述多個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳分別分布于所述多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)引腳兩側(cè)。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述陣列區(qū)的數(shù)據(jù)線通過(guò)扇出線連接至所述信號(hào)短接區(qū)。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述陣列基板還包括：

位于所述覆晶薄膜連接區(qū)遠(yuǎn)離所述陣列區(qū)一側(cè)的二次切割區(qū)，所述二次切割區(qū)包括第二測(cè)試信號(hào)引腳及測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路，所述第二測(cè)試信號(hào)引腳和測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路用于獲取測(cè)試信號(hào)并發(fā)送至所述陣列區(qū)，以對(duì)所述陣列區(qū)的像素進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)還提供一種顯示面板，包括本申請(qǐng)?zhí)峁┑乃鲫嚵谢濉?/p>

本申請(qǐng)還提供一種測(cè)試方法，用于本申請(qǐng)?zhí)峁┑娘@示面板進(jìn)行測(cè)試，所述方法包括：

通過(guò)所述信號(hào)短接區(qū)的第一測(cè)試信號(hào)引腳輸入測(cè)試信號(hào)，使所述測(cè)試信號(hào)經(jīng)與所述第一測(cè)試信號(hào)引腳連接所述短接端點(diǎn)傳輸至短接至所述短接端點(diǎn)的數(shù)據(jù)線；

檢測(cè)所述顯示面板的整體顯示效果。