[發明專利]陣列基板、陣列基板的測試方法及顯示面板有效
| 申請號： | 202110571611.1 | 申請日： | 2021-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN113539085B | 公開（公告）日： | 2023-10-24 |
| 發明（設計）人： | 許傳志;謝正芳;李曼曼;張露;胡思明 | 申請（專利權）人： | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號： | G09F9/30 | 分類號： | G09F9/30;G09G3/00 |
| 代理公司： | 成都極刻智慧知識產權代理事務所(普通合伙) 51310 | 代理人： | 陳萬藝 |
| 地址： | 215000 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 陣列 測試 方法 顯示 面板 | ||
1.一種陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括：
與有效顯示區對應的陣列區；
位于所述陣列區一側的信號短接區，所述信號短接區包括將所述陣列區的至少兩個數據線短接的短接端點；
位于所述信號短接區一側的覆晶薄膜連接區，所述覆晶薄膜連接區包括多個數據信號引腳及多個第一測試信號引腳，所述數據信號引腳用于與所述陣列區的數據線連接，所述第一測試信號引腳用于與所述短接端點連接。
2.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號短接區還包括分別與所述至少兩個數據線對應的至少兩個短接開關單元，所述數據線通過所述短接開關單元與所述短接端點連接。
3.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述第一測試信號引腳包括與所述短接開關單元連接的第一子引腳以及與所述短接端點連接的第二子引腳。
4.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板為薄膜晶體管陣列基板，所述短接開關單元為薄膜晶體管。
5.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號短接區包括多個所述短接端點，每個所述短接端點用于短接驅動同種顏色的像素的至少兩個數據線。
6.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述多個第一測試信號引腳分別分布于所述多個數據信號引腳兩側。
7.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列區的數據線通過扇出線連接至所述信號短接區。
8.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板還包括：
位于所述覆晶薄膜連接區遠離所述陣列區一側的二次切割區，所述二次切割區包括第二測試信號引腳及測試驅動電路，所述第二測試信號引腳和測試驅動電路用于獲取測試信號并發送至所述陣列區，以對所述陣列區的像素進行測試。
9.一種顯示面板，其特征在于，包括權利要求1-8任意一項的陣列基板。
10.一種測試方法，其特征在于，用于對權利要求9所述的顯示面板進行測試，所述方法包括：
通過所述信號短接區的第一測試信號引腳輸入測試信號，使所述測試信號經與所述第一測試信號引腳連接所述短接端點傳輸至通過所述短接端點短接的數據線；
檢測所述顯示面板的整體顯示效果。
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