[發(fā)明專利]陣列基板、陣列基板的測(cè)試方法及顯示面板

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110571611.1
• 申請(qǐng)日: 2021-05-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113539085B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許傳志;謝正芳;李曼曼;張露;胡思明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山國(guó)顯光電有限公司
• 主分類號(hào): G09F9/30
• 分類號(hào): G09F9/30;G09G3/00
• 代理公司: 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51310
• 代理人: 陳萬(wàn)藝

1.一種陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括：

與有效顯示區(qū)對(duì)應(yīng)的陣列區(qū)；

位于所述陣列區(qū)一側(cè)的信號(hào)短接區(qū)，所述信號(hào)短接區(qū)包括將所述陣列區(qū)的至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線短接的短接端點(diǎn)；

位于所述信號(hào)短接區(qū)一側(cè)的覆晶薄膜連接區(qū)，所述覆晶薄膜連接區(qū)包括多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)引腳及多個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳，所述數(shù)據(jù)信號(hào)引腳用于與所述陣列區(qū)的數(shù)據(jù)線連接，所述第一測(cè)試信號(hào)引腳用于與所述短接端點(diǎn)連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號(hào)短接區(qū)還包括分別與所述至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)短接開(kāi)關(guān)單元，所述數(shù)據(jù)線通過(guò)所述短接開(kāi)關(guān)單元與所述短接端點(diǎn)連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述第一測(cè)試信號(hào)引腳包括與所述短接開(kāi)關(guān)單元連接的第一子引腳以及與所述短接端點(diǎn)連接的第二子引腳。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板為薄膜晶體管陣列基板，所述短接開(kāi)關(guān)單元為薄膜晶體管。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號(hào)短接區(qū)包括多個(gè)所述短接端點(diǎn)，每個(gè)所述短接端點(diǎn)用于短接驅(qū)動(dòng)同種顏色的像素的至少兩個(gè)數(shù)據(jù)線。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述多個(gè)第一測(cè)試信號(hào)引腳分別分布于所述多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)引腳兩側(cè)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列區(qū)的數(shù)據(jù)線通過(guò)扇出線連接至所述信號(hào)短接區(qū)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板還包括：

位于所述覆晶薄膜連接區(qū)遠(yuǎn)離所述陣列區(qū)一側(cè)的二次切割區(qū)，所述二次切割區(qū)包括第二測(cè)試信號(hào)引腳及測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路，所述第二測(cè)試信號(hào)引腳和測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路用于獲取測(cè)試信號(hào)并發(fā)送至所述陣列區(qū)，以對(duì)所述陣列區(qū)的像素進(jìn)行測(cè)試。

9.一種顯示面板，其特征在于，包括權(quán)利要求1-8任意一項(xiàng)的陣列基板。

10.一種測(cè)試方法，其特征在于，用于對(duì)權(quán)利要求9所述的顯示面板進(jìn)行測(cè)試，所述方法包括：

通過(guò)所述信號(hào)短接區(qū)的第一測(cè)試信號(hào)引腳輸入測(cè)試信號(hào)，使所述測(cè)試信號(hào)經(jīng)與所述第一測(cè)試信號(hào)引腳連接所述短接端點(diǎn)傳輸至通過(guò)所述短接端點(diǎn)短接的數(shù)據(jù)線；

檢測(cè)所述顯示面板的整體顯示效果。