[發明專利]集成電路的布局分析方法、裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202110563836.2
• 申請日: 2021-05-24
• 公開（公告）號: CN113283207A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 程畫;晉大師;王毓千
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F30/392
• 分類號: G06F30/392;G06F30/398
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云;侯鑒玻

一種集成電路的布局分析方法、布局分析裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質。該布局分析方法包括：獲取集成電路的布局中的至少一個目標數據路徑，目標數據路徑為數據信號在集成電路中傳播時依次經過的多個器件所形成的路徑，數據信號依次經過第一器件、目標器件和第二器件；確定目標器件與第一器件之間的第一距離以及目標器件與第二器件之間的第二距離，并且確定第二器件與第一器件之間的第三距離；基于第一距離、第二距離和第三距離，確定目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值；基于迂回特征值，生成集成電路的布局分析結果。該方法能夠降低分析集成電路的布局所消耗的時間成本和人力成本，提高布局分析的量化程度，提升布局分析的準確性。

技術領域

本公開的實施例涉及一種集成電路的布局分析方法、裝置、電子設備和存儲介質。

背景技術

在集成電路設計領域，后端實現的過程中，分析數據路徑的時序是極其重要的。一般而言，較短的數據路徑意味著時鐘建立時間要求能夠更好地滿足，較長的數據路徑意味著時鐘建立時間要求不能很好地滿足。因此，在進行布局設計時，需要對數據路徑進行分析。

發明內容

本公開至少一個實施例提供一種集成電路的布局分析方法，包括：獲取集成電路的布局中的至少一個目標數據路徑，目標數據路徑為數據信號在集成電路中傳播時依次經過的多個器件所形成的路徑，多個器件包括第一器件、目標器件和第二器件，數據信號依次經過第一器件、目標器件和第二器件；針對至少一個目標數據路徑中每個目標數據路徑，確定目標器件與第一器件之間的第一距離以及目標器件與第二器件之間的第二距離，并且確定第二器件與第一器件之間的第三距離；基于第一距離、第二距離和第三距離，確定目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值；以及基于每個目標器件的迂回特征值，生成集成電路的布局分析結果。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，基于第一距離、第二距離和第三距離，確定目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值，包括：計算第一距離與第二距離之和與第三距離的差值；以及計算差值與第三距離的比值，并且將比值作為迂回特征值。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，基于每個目標器件的迂回特征值，生成集成電路的布局分析結果，包括：根據集成電路的布局建立二維坐標圖，并且至少確定每個目標器件在二維坐標圖中的目標位置；根據每個目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值，確定每個目標器件對應的顯示圖像元素；以及在每個目標器件位于二維坐標圖中的目標位置，顯示每個目標器件對應的顯示圖像元素。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，顯示圖像元素為單一顏色或者圖案。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，迂回特征值的數值與迂回特征值對應的顯示圖像元素的顏色的色度負相關。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，根據每個目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值，確定每個目標器件對應的顯示圖像元素，包括：確定每個目標器件在目標數據路徑中的迂回特征值所屬的迂回特征值區間；以及將迂回特征值區間對應的顯示圖像元素作為目標器件對應的顯示圖像元素。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，迂回特征值區間的平均數值與迂回特征值區間對應的顯示圖像元素的顏色的色度負相關。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，還包括：獲取至少一個目標數據路徑的時序緊張程度表征參數；以及根據時序緊張程度表征參數確定迂回特征值區間的寬度，時序緊張程度表征參數的數值與迂回特征值區間的寬度負相關。

例如，在本公開一實施例提供的布局分析方法中，獲取集成電路的布局中的至少一個目標數據路徑包括：從集成電路的時序報告中獲取集成電路的布局中的至少一個時序違例路徑，并將至少一個時序違例路徑作為至少一個目標數據路徑。