[發明專利]用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺在審
| 申請號： | 202110563225.8 | 申請日： | 2021-05-21 |
| 公開（公告）號： | CN113155871A | 公開（公告）日： | 2021-07-23 |
| 發明（設計）人： | 林君浩;趙爾鼎 | 申請（專利權）人： | 南方科技大學 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04;G01N23/2251;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N21/84 |
| 代理公司： | 深圳市創富知識產權代理有限公司 44367 | 代理人： | 曾敬 |
| 地址： | 518055 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 透射 樣品 規格 顯微鏡 聯動 分析 | ||
1.用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺，其特征在于包括單元體，儀器兼容外殼，裝配器(10)；
所述單元體包括TEM grid固定核心(1)，TEM grid(2)，墊圈(3)，空心固定螺絲(4)，內螺紋盲孔(5)，通孔(6)，其中，在TEM grid固定核心(1)的下端開設有內螺紋盲孔(5)，在內螺紋盲孔(5)的頂端開設有通孔(6)，通孔(6)的直徑小于內螺紋盲孔(5)的直徑，TEM grid(2)位于內螺紋盲孔(5)頂端，空心固定螺絲(4)擰在內螺紋盲孔(5)中將TEM grid(2)壓緊固定，在空心固定螺絲(4)與TEM grid(2)之間墊置有墊圈(3)；
在所述儀器兼容外殼上開設有與TEM grid固定核心(1)外形相配合的插槽；
在裝配器(10)上開設有與TEM grid固定核心(1)外形相配合的單元體固定槽(11)，開設有與TEM grid(2)外形相配合的TEM grid固定槽(12)，開設有與所述儀器兼容外殼外形相配合的儀器兼容外殼固定槽(13)。
2.根據權利要求1所述的用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺，其特征在于，所述儀器兼容外殼為二維材料轉移外殼(7)，二維材料轉移外殼(7)的外形與二維材料轉移平臺相適配。
3.根據權利要求1所述的用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺，其特征在于，所述儀器兼容外殼為AFM測試兼容外殼(8)，AFM測試兼容外殼(8)的外形與AFM相適配。
4.根據權利要求1所述的用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺，其特征在于，所述儀器兼容外殼為SEM測試兼容外殼(9)，SEM測試兼容外殼(9)的外形與SEM相適配。
5.根據權利要求1所述的用于透射電鏡樣品的多規格顯微鏡聯動分析樣品臺，其特征在于，還包括定位螺絲(14)，所述單元體插接在儀器兼容外殼的所述插槽中，定位螺絲(14)將單元體和儀器兼容外殼緊固連接。
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