[發明專利]芯片中硬件模塊的測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質有效

申請號：	202110551292.8	申請日：	2021-05-20
公開（公告）號：	CN113297020B	公開（公告）日：	2023-02-28
發明（設計）人：	沈欣舞;裴江華;王金富	申請（專利權）人：	山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
主分類號：	G06F11/22	分類號：	G06F11/22
代理公司：	北京集佳知識產權代理有限公司 11227	代理人：	侯珊
地址：	250001 山東省濟南市自由貿易試驗***	國省代碼：	山東;37
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摘要：
搜索關鍵詞：	芯片硬件模塊測試方法裝置設備可讀存儲介質
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【說明書】：

本發明公開了一種芯片中硬件模塊的測試方法，該方法包括以下步驟：對接收到的芯片測試請求進行解析，得到待測試的目標硬件模塊和目標信號位；將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為芯片測試請求所選中各目標信號位；利用各目標信號位對目標硬件模塊進行測試操作。應用本發明所提供的芯片中硬件模塊的測試方法，當不需要進行硬件模塊測試時，不存在信號跳變，降低了芯片功耗。本發明還公開了一種芯片中硬件模塊的測試裝置、設備及存儲介質，具有相應技術效果。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，特別是涉及一種芯片中硬件模塊的測試方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

在芯片生成完成之后，由于芯片內部信號極多，但芯片的外部引腳確相對很少，因此監測芯片中硬件模塊通常十分困難。

現有的芯片中硬件模塊測試方案是采用一組軟件可編程、通過寄存器控制的多路選擇器(Multiplexer，MUX)，一側連接芯片內部信號，另一側連接芯片外部引腳。在對硬件模塊測試時，按照用戶配置將芯片內部選通至外部引腳，以使用示波器，邏輯分析儀等進行直接測量。當不需要進行芯片中硬件模塊測試時，控制寄存器會隨機選中一個信號位，當選中的為類似時鐘、狀態機等頻繁跳變的信號時，不論是否需要進行硬件模塊測試，均存在信號跳變，增加了芯片的功耗。

綜上所述，如何有效地解決現有的芯片中硬件模塊測試方案，不論是否需要進行硬件模塊測試，均存在信號跳變，增加了芯片的功耗等問題，是目前本領域技術人員急需解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種芯片中硬件模塊的測試方法，該方法當不需要進行硬件模塊測試時，不存在信號跳變，降低了芯片功耗；本發明的另一目的是提供一種芯片中硬件模塊的測試裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

為解決上述技術問題，本發明提供如下技術方案：

一種芯片中硬件模塊的測試方法，包括：

對接收到的芯片測試請求進行解析，得到待測試的目標硬件模塊和目標信號位；

將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位；

利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作。

在本發明的一種具體實施方式中，將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位，包括：

將所述控制寄存器原默認選取的所述目標硬件模塊對應的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位。

在本發明的一種具體實施方式中，在利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作之后，還包括：

當達到硬件模塊斷電觸發條件時，控制所述目標硬件模塊的供電電路斷開，以使預置于所述目標硬件模塊的電源域內的各多路選擇器進行斷電操作。