[發明專利]芯片中硬件模塊的測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202110551292.8
• 申請日: 2021-05-20
• 公開（公告）號: CN113297020B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發明（設計）人: 沈欣舞;裴江華;王金富
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 侯珊

1.一種芯片中硬件模塊的測試方法，其特征在于，包括：

對接收到的芯片測試請求進行解析，得到待測試的目標硬件模塊和目標信號位；

將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位；其中，當不需芯片測試時，預先設置控制寄存器選取的各多路選擇器中的默認信號位為接地信號位；

利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作。

2.根據權利要求1所述的芯片中硬件模塊的測試方法，其特征在于，將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位，包括：

將所述控制寄存器原默認選取的所述目標硬件模塊對應的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位。

3.根據權利要求2所述的芯片中硬件模塊的測試方法，其特征在于，在利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作之后，還包括：

當達到硬件模塊斷電觸發條件時，控制所述目標硬件模塊的供電電路斷開，以使預置于所述目標硬件模塊的電源域內的各多路選擇器進行斷電操作。

4.根據權利要求2所述的芯片中硬件模塊的測試方法，其特征在于，在利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作之后，還包括：

當達到子系統斷電觸發條件時，控制所述目標硬件模塊所屬的目標子系統的供電電路斷開，以使預置于所述目標子系統的電源域內的各多路選擇器進行斷電操作。

5.根據權利要求1至4任一項所述的芯片中硬件模塊的測試方法，其特征在于，在得到待測試的目標硬件模塊和目標信號位之后，將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位之前，還包括：

統計各所述目標信號位的目標個數；

分別獲取所述目標硬件模塊與各所述多路選擇器之間的信號連接個數；

判斷是否存在小于所述目標個數的信號連接個數；

若是，則將與所述目標硬件模塊的信號連接個數小于所述目標個數的多路選擇器確定為目標多路選擇器；

對所述目標多路選擇器與所述目標硬件模塊之間的連接總線進行擴展操作。

6.一種芯片中硬件模塊的測試裝置，其特征在于，包括：

請求解析單元，用于對接收到的芯片測試請求進行解析，得到待測試的目標硬件模塊和目標信號位；

信號位選取單元，用于將控制寄存器原默認選取的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位；其中，當不需芯片測試時，預先設置控制寄存器選取的各多路選擇器中的默認信號位為接地信號位；

模塊測試單元，用于利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作。

7.根據權利要求6所述的芯片中硬件模塊的測試裝置，其特征在于，所述信號位選取單元具體為將所述控制寄存器原默認選取的所述目標硬件模塊對應的各多路選擇器中的接地信號位，切換為所述芯片測試請求所選中各所述目標信號位的單元。

8.根據權利要求7所述的芯片中硬件模塊的測試裝置，其特征在于，還包括：

第一供電控制單元，用于在利用各所述目標信號位對所述目標硬件模塊進行測試操作之后，當達到硬件模塊斷電觸發條件時，控制所述目標硬件模塊的供電電路斷開，以使預置于所述目標硬件模塊的電源域內的各多路選擇器進行斷電操作。

9.一種芯片中硬件模塊的測試設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至5任一項所述芯片中硬件模塊的測試方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至5任一項所述芯片中硬件模塊的測試方法的步驟。