[發明專利]用于速度振動組合式傳感器性能測試的測試方法及裝置在審
| 申請號: | 202110534449.6 | 申請日: | 2021-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN113405584A | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發明(設計)人: | 賈愷;丁澄;梁亞飛;宋志華 | 申請(專利權)人: | 上海德意達電子電器設備有限公司 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 北京中索知識產權代理有限公司 11640 | 代理人: | 陳江 |
| 地址: | 200135 上海市浦東新區中國(上海)*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 速度 振動 組合式 傳感器 性能 測試 方法 裝置 | ||
1.用于速度振動組合式傳感器性能測試的測試方法,其特征在于,包括如下步驟:
CPLD主控芯片對振動信號與速度信號進行采集計算后,存入存儲單元;
采樣結束后,通過上位機產生的控制信號控制電機停止轉動;
對所述存儲單元的測試數據與理論值進行比較以進行測試;
其中,所述速度信號以及振動信號由所述電機帶動速度振動組合式傳感器產生,所述振動信號先通過數模轉換器轉換為脈沖信號后傳遞給所述CPLD主控芯片,速度信號直接傳遞給所述CPLD主控芯片。
2.根據權利要求1所述的測試方法,其特征在于,速度信號和振動信號在傳遞給CPLD主控芯片之前,先將所述速度信號和振動信號進行濾波處理。
3.根據權利要求1所述的測試方法,其特征在于,進行所述測試的過程中,所述CPLD主控芯片包括用于提供不同的時鐘輸入信號的分頻器,以實現采樣頻率可選。
4.根據權利要求1所述的測試方法,其特征在于,進行所述測試的過程中,所述CPLD主控芯片內包括有負延遲計數器,所述負延遲計數器通過計數的方式抵消掉采樣延遲和讀寫延遲。
5.根據權利要求1所述的測試方法,其特征在于,進行所述測試的過程中,采用所述速度振動組合式傳感器的軸向加速度進行觸發而停止采樣,具體觸發的方法包括:連續十個點的采樣值大于觸發值才判定為滿足觸發條件。
6.用于速度振動組合式傳感器性能測試的測試裝置,其特征在于,包括:
采集模塊:CPLD主控芯片對速度信號與振動信號進行采集計算后,存入存儲單元;
其中,所述速度信號與振動信號由所述電機模塊帶動速度振動組合式傳感器產生,所述振動信號先經過數模轉換,轉換為脈沖信號后傳遞給所述CPLD主控芯片,速度信號直接傳遞給所述CPLD主控芯片;
測試模塊:對測試數據與理論值進行比較以進行測試;
電機模塊:接收CPLD主控芯片的信號,帶動待測設備產生速度信號和振動信號。
7.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述程序執行時實現權利要求1-5任一項所述方法的步驟。
8.一種計算機設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1-5任一項所述方法的步驟。
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