[發(fā)明專利]—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110515623.2
• 申請日: 2021-05-12
• 公開（公告）號: CN113376458A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魏冉冉;雷治衛(wèi)
• 申請（專利權(quán)）人: 魏冉冉
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明公開的屬于晶體振蕩器加工技術(shù)領(lǐng)域，具體為—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)，包括桌面，所述桌面的頂部設(shè)置有測試機構(gòu)，所述桌面的后側(cè)設(shè)置有與測試機構(gòu)配合使用的調(diào)節(jié)組件，所述桌面頂部的右側(cè)設(shè)置有與測試機構(gòu)配合使用的第一電動伸縮桿，解決了現(xiàn)有的晶體振蕩器在進(jìn)行測試分類時，需要人工手動對晶體振蕩器進(jìn)行測試，將晶體振蕩器的兩腳與測試器的連接口進(jìn)行連接，然后等待上一個晶體振蕩器測試完成后再對下一個晶體振蕩器進(jìn)行測試，由于手動對晶體振蕩器進(jìn)行測試的工作效率低，使得晶體振蕩器的測試效率低，導(dǎo)致晶體振蕩器的測試費事費力，從而耗費使用者大量的時間和精力的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及晶體振蕩器加工技術(shù)領(lǐng)域，具體為—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)。

背景技術(shù)

石英晶體諧振器簡稱石英晶體或晶振，是利用石英晶體的壓電效應(yīng)，用來產(chǎn)生高精度振蕩頻率的一種電子元件，屬于被動元件，該元件主要由石英晶片、基座、外殼、銀膠、銀等成分組成，根據(jù)引線狀況可分為直插與表面貼裝兩種類型，當(dāng)前常見的主要封裝型號有HC-49U、HC-49/S、GLASS、UM-1、UM-4、UM-5與SMD。

晶體振蕩器在生產(chǎn)加工后，需要對晶體振蕩器進(jìn)行性能測試，現(xiàn)有的晶體振蕩器在進(jìn)行測試分類時，需要人工手動對晶體振蕩器進(jìn)行測試，將晶體振蕩器的兩腳與測試器的連接口進(jìn)行連接，然后等待上一個晶體振蕩器測試完成后再對下一個晶體振蕩器進(jìn)行測試，由于手動對晶體振蕩器進(jìn)行測試的工作效率低，使得晶體振蕩器的測試效率低，導(dǎo)致晶體振蕩器的測試費事費力，從而耗費使用者大量的時間和精力。

發(fā)明內(nèi)容

本部分的目的在于概述本發(fā)明的實施方式的一些方面以及簡要介紹一些較佳實施方式，在本部分以及本申請的說明書摘要和發(fā)明名稱中可能會做些簡化或省略以避免使本部分、說明書摘要和發(fā)明名稱的目的模糊，而這種簡化或省略不能用于限制本發(fā)明的范圍。

鑒于現(xiàn)有晶體振蕩器測試分類裝置中存在的問題，提出了本發(fā)明。

為解決上述技術(shù)問題，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案：一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)，包括桌面，所述桌面的頂部設(shè)置有測試機構(gòu)，所述桌面的后側(cè)設(shè)置有與測試機構(gòu)配合使用的調(diào)節(jié)組件，所述桌面頂部的右側(cè)設(shè)置有與測試機構(gòu)配合使用的第一電動伸縮桿，所述桌面的頂部開設(shè)有與測試機構(gòu)配合使用的開口，所述桌面的底部設(shè)置有與開口配合使用的收集倉，所述桌面的底部固定連接有與收集倉配合使用的支撐腿；

所述測試機構(gòu)包括測試組件、固定組件、定位組件、活動組件、連接桿、安裝架、第二電動伸縮桿和推塊，所述測試組件與調(diào)節(jié)組件配合使用，所述測試組件和固定組件的數(shù)量均為若干個，且均勻分布于桌面的頂部，所述測試組件位于固定組件的左側(cè)，所述定位組件位于固定組件的前側(cè)，所述活動組件與固定組件配合使用，所述固定組件分別與連接桿和安裝架配合使用，所述第二電動伸縮桿的數(shù)量為若干個，且與測試組件配合使用。

作為本發(fā)明所述的—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)的一種優(yōu)選方案，其中：所述調(diào)節(jié)組件包括固定架，所述固定架的底部設(shè)置有與測試組件配合使用的連接板，所述連接板的頂部固定連接有與固定架配合使用的電動氣缸，所述連接板頂部的兩側(cè)均固定連接有與固定架配合使用的限位桿，所述固定架的頂部開設(shè)有與限位桿配合使用的限位孔，所述限位桿的頂部穿過限位孔并延伸至固定架的外側(cè)。

作為本發(fā)明所述的—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統(tǒng)的一種優(yōu)選方案，其中：所述測試組件包括固定板，所述固定板的頂部設(shè)置有與連接板配合使用的活動板，所述固定板的頂部開設(shè)有定位槽，所述活動板的底部固定連接有與定位槽配合使用的定位桿，所述固定板右側(cè)的頂部固定連接有第一測試塊，所述活動板右側(cè)的底部固定連接有與第一測試塊配合使用的第二測試塊，所述第一測試塊和第二測試塊均與固定組件配合使用，所述固定板的底部與桌面固定連接，所述活動板的頂部與連接板固定連接，所述定位桿靠近定位槽內(nèi)壁的一側(cè)與定位槽的內(nèi)壁固定連接。