[發明專利]—種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統

在審

• 申請號: 202110515623.2
• 申請日: 2021-05-12
• 公開（公告）號: CN113376458A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發明（設計）人: 魏冉冉;雷治衛
• 申請（專利權）人: 魏冉冉
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統，包括桌面(1)，其特征在于，所述桌面(1)的頂部設置有測試機構(2)，與測試機構(2)配合使用的調節組件(3)，第一電動伸縮桿(4)帶動放置板(2022)朝向/背離測試機構(2)滑動，所述桌面(1)的頂部開設有與測試機構(2)配合使用的開口(5)，開口(5)下側設置有收集倉(6)，所述桌面(1)的底部固定連接有與收集倉(6)配合使用的支撐腿(7)。

2.根據權利要求1所述一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統，其特征在于：所述調節組件(3)包括中的固定架(301)的底部設置有與測試組件(201)配合使用的連接板(302)，所述連接板(302)的頂部固定連接有與固定架(301)配合使用的電動氣缸(303)，所述連接板(302)頂部的兩側均固定連接有與固定架(301)配合使用的限位桿(304)，所述固定架(301)的頂部開設有與限位桿(304)配合使用的限位孔(305)，所述限位桿(304)的頂部穿過限位孔(305)并延伸至固定架(301)的外側。

3.根據權利要求2所述一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統，其特征在于：所述測試組件(201)中的固定板(2011)的頂部設置有與連接板(302)配合使用的活動板(2012)，所述固定板(2011)的頂部開設有定位槽(2013)，所述活動板(2012)的底部固定連接有與定位槽(2013)配合使用的定位桿(2014)，所述固定板(2011)右側的頂部固定連接有第一測試塊(2015)，所述活動板(2012)右側的底部固定連接有與第一測試塊(2015)配合使用的第二測試塊(2016)，所述第一測試塊(2015)和第二測試塊(2016)均與固定組件(202)配合使用，所述固定板(2011)的底部與桌面(1)固定連接，所述活動板(2012)的頂部與連接板(302)固定連接，所述定位桿(2014)靠近定位槽(2013)內壁的一側與定位槽(2013)的內壁固定連接。

4.根據權利要求3所述一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統，其特征在于：所述測試機構(2)中的測試組件(201)與調節組件(3)配合使用，所述測試組件(201)和固定組件(202)的數量均為若干個，且均勻分布于桌面(1)的頂部，所述測試組件(201)位于固定組件(202)的左側，所述定位組件(203)位于固定組件(202)的前側，所述活動組件(204)與固定組件(202)配合使用，所述固定組件(202)分別與連接桿(205)和安裝架(206)配合使用，所述第二電動伸縮桿(207)的數量為若干個，且與測試組件(201)配合使用，所述固定組件(202)包括安裝板(2021)，所述安裝板(2021)分別與安裝架(206)、活動組件(204)和第一電動伸縮桿(4)配合使用，所述安裝板(2021)的左側設置有與定位組件(203)配合使用的放置板(2022)，所述放置板(2022)的左側固定連接有與第一測試塊(2015)和第二測試塊(2016)配合使用的放置塊(2023)，所述放置板(2022)右側的底部開設有燕尾槽(2024)，所述安裝板(2021)的左側固定連接有與燕尾槽(2024)配合使用的燕尾塊(2025)。

5.根據權利要求4所述一種多工位晶體振蕩器智能測試分類系統，其特征在于：所述定位組件(203)包括第一定位環(2031)，所述第一定位環(2031)的頂部設置有按板(2032)，所述按板(2032)的底部固定連接有與第一定位環(2031)配合使用的豎桿(2033)，所述豎桿(2033)的表面套設有彈簧(2034)，所述豎桿(2033)的底部穿過第一定位環(2031)并活動連接有調節板(2035)，所述調節板(2035)頂部的左側固定連接有定位柱(2036)，所述定位柱(2036)的表面套設有與放置板(2022)配合使用的第二定位環(2037)。