[發明專利]一種基于400G光模塊的測試方法及測試電路

有效

• 申請號: 202110505103.3
• 申請日: 2021-05-10
• 公開（公告）號: CN113242089B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 呂利平
• 申請（專利權）人: 上海劍橋科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/077
• 分類號: H04B10/077;G01R31/00
• 代理公司: 上海港慧專利代理事務所(普通合伙) 31402
• 代理人: 卞小婷

本發明公開了一種基于400G光模塊的測試方法，其中：包括，上位機控制標準光電模塊工作于偽隨機碼模式和誤碼檢測模式，通過標準光電模塊替代高端誤碼儀，同時標準光電模塊和待測光電模塊均設置于同一個生產測試板上，采用16對高速電差分信號組即可連接，無需32個昂貴的射頻連接線，通過上述連接方式，實現對400G光模塊的生產測試，既節省了高端誤碼儀、32個昂貴的射頻連接線，也大大降低了測試板的更換成本。

技術領域

本發明涉及光電測試領域，具體涉及一種基于400G光模塊的測試方法及測試電路。

背景技術

隨著數據中心規模的擴大和升級，400G?QSFP-DD/OSFP光模塊越來越普及。400G光模塊的生產測試需要專業的高端誤碼儀，如圖1所示，將400G光模塊待測模塊插裝于400G生產測試板上，然后通過16根射頻線接收高端誤碼儀發送的差分信號，400G光模塊接收該差分信號，同時對該差分信號做電光轉化，轉化完成后再通過光纖自環從400G光模塊待測模塊的光發射端口送給400G光模塊待測模塊的光接收端口，400G光模塊接收該光信號并做光電轉化為8對差分電信號，然后通過16根射頻線發送至高端誤碼儀，高端誤碼儀根據接收的信號做分析處理以得到一個測試結果。目前一臺高端誤碼儀通常需要幾十萬到上百萬元，同時測試板需要有32路昂貴的射頻連接線，每路射頻連接線需要近千元人民幣，測試板的光模塊連接器有一定的插拔次數壽命限制，生產測試過程中需要定期不斷更換測試板，成本非常高。基于現有的測試裝置，其具體的測試方法為：高端誤碼儀發送相應的誤碼信號，待測光電模塊接收到相應的誤碼信號，并將誤碼信號回轉至高端誤碼儀，高端誤碼儀根據接收的信號做分析處理以得到一個測試結果。

發明內容

基于上述技術缺點，一種基于400G光模塊的測試方法及測試電路，具體地：

一方面，本發明提供一種基于400G光模塊的測試方法，其中：包括，

通過第一預定指令形成偽隨機碼產生控制指令，于所述偽隨機碼產生控制指令的作用下控制標準光電模塊工作于偽隨機碼模式，所述標準光電模塊產生偽隨機碼并發送；控制溫控臺工作于第一溫度狀態下，對所述待測光電模塊做校準操作；

上位機設置溫控臺工作于第二溫度狀態下，通過第二預定指令形成第一測試控制指令，于所述第一測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第一測試結果、第二測試結果輸出；

上位機設置溫控臺工作于第三溫度狀態下，通過第三預定指令形成第三測試控制指令，于所述第三測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第三測試結果、第四測試結果輸出；

上位機設置溫控臺工作于第一溫度狀態下，通過第四預定指令形成第四測試控制指令，于所述第四測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第五測試結果、第六測試結果輸出；

根據第一測試結果、第二測試結果、第三測試結果、第四測試結果、第五測試結果、第六測試結果形成一檢測結果。

優選地，上述的一種基于400G光模塊的測試方法，其中：通過第一預定指令形成偽隨機碼產生控制指令，于所述偽隨機碼產生控制指令的作用下控制標準光電模塊工作于偽隨機碼模式，所述標準光電模塊產生偽隨機碼并發送；控制溫控臺工作于第一溫度狀態下，對所述待測光電模塊做校準操作具體包括：

于待測光電模塊插入預定位置的狀態，上位機讀取并記錄待測光電模塊的類型、P/N信息和S/N信息；上位機通過I2C指令配置標準光電模塊為誤碼檢測模式，并設置標準光電模塊的發射端輸出SSPRQ模式的偽隨機碼；

上位機設置溫控臺的工作于第一溫度狀態下，使待測光電模塊的外殼溫度保持在40℃，

上位機通過I2C指令對待測光電模塊進行校準操作，校準數據至少包括發射端眼圖，發射光功率，發射光功率監測，接收光功率監測，溫度監測，電壓監測，接收無光告警電平和消除電平。