[發(fā)明專利]一種基于400G光模塊的測試方法及測試電路

有效

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• 申請日: 2021-05-10
• 公開（公告）號: CN113242089B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂利平
• 申請（專利權(quán)）人: 上海劍橋科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/077
• 分類號: H04B10/077;G01R31/00
• 代理公司: 上海港慧專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31402
• 代理人: 卞小婷

1.一種基于400G光模塊的測試方法，其特征在于：包括：

通過第一預(yù)定指令形成偽隨機(jī)碼產(chǎn)生控制指令，于所述偽隨機(jī)碼產(chǎn)生控制指令的作用下控制標(biāo)準(zhǔn)光電模塊工作于偽隨機(jī)碼模式，其中，所述400G光模塊內(nèi)部的DSP芯片中集成有偽隨機(jī)碼發(fā)射和誤碼檢測功能，將所述400G光模塊設(shè)置為工作于偽隨機(jī)碼產(chǎn)生和誤碼檢測模式以形成所述標(biāo)準(zhǔn)光電模塊；控制溫控臺工作于第一溫度狀態(tài)下，對待測光電模塊做校準(zhǔn)操作；

上位機(jī)設(shè)置溫控臺工作于第二溫度狀態(tài)下，通過第二預(yù)定指令形成第一測試控制指令，于所述第一測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第一測試結(jié)果、第二測試結(jié)果輸出；

上位機(jī)設(shè)置溫控臺工作于第三溫度狀態(tài)下，通過第三預(yù)定指令形成第三測試控制指令，于所述第三測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第三測試結(jié)果、第四測試結(jié)果輸出；

上位機(jī)設(shè)置溫控臺工作于第一溫度狀態(tài)下，通過第四預(yù)定指令形成第四測試控制指令，于所述第四測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第五測試結(jié)果、第六測試結(jié)果輸出；

根據(jù)第一測試結(jié)果、第二測試結(jié)果、第三測試結(jié)果、第四測試結(jié)果、第五測試結(jié)果、第六測試結(jié)果形成一檢測結(jié)果；

其中，所述第一測試控制指令、所述第三測試控制指令、所述第四測試控制指令分別為控制所述標(biāo)準(zhǔn)光電模塊對待測光電模塊的至少以下內(nèi)容進(jìn)行測試：接收靈敏度，光功率監(jiān)測精度，溫度監(jiān)測，電壓監(jiān)測，接收無光告警電平和消除電平。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于400G光模塊的測試方法，其特征在于：通過第一預(yù)定指令形成偽隨機(jī)碼產(chǎn)生控制指令，于所述偽隨機(jī)碼產(chǎn)生控制指令的作用下控制標(biāo)準(zhǔn)光電模塊工作于偽隨機(jī)碼模式，所述標(biāo)準(zhǔn)光電模塊產(chǎn)生偽隨機(jī)碼并發(fā)送；控制溫控臺工作于第一溫度狀態(tài)下，對所述待測光電模塊做校準(zhǔn)操作具體包括：

于待測光電模塊插入預(yù)定位置的狀態(tài)，上位機(jī)讀取并記錄待測光電模塊的類型、P/N信息和S/N信息；上位機(jī)通過I2C指令配置標(biāo)準(zhǔn)光電模塊為誤碼檢測模式，并設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)光電模塊的發(fā)射端輸出SSPRQ模式的偽隨機(jī)碼；

上位機(jī)設(shè)置溫控臺的工作于第一溫度狀態(tài)下，使待測光電模塊的外殼溫度保持在40℃，

上位機(jī)通過I2C指令對待測光電模塊進(jìn)行校準(zhǔn)操作，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)至少包括發(fā)射端眼圖，發(fā)射光功率，發(fā)射光功率監(jiān)測，接收光功率監(jiān)測，溫度監(jiān)測，電壓監(jiān)測，接收無光告警電平和消除電平。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于400G光模塊的測試方法，其特征在于：上位機(jī)設(shè)置溫控臺工作于第二溫度狀態(tài)下，通過第二預(yù)定指令形成第一測試控制指令，于所述第一測試控制指令的作用下控制待測光電模塊做測試以形成第一測試結(jié)果、第二測試結(jié)果輸出具體包括：

上位機(jī)設(shè)置溫控臺工作于第二溫度狀態(tài)下，使待測光電模塊的外殼溫度保持在0℃，設(shè)置待測光電模塊的3.3V電壓使之為3.3V*(100％-5％)V，

上位機(jī)對待測光電模塊進(jìn)行測試，第一測試數(shù)據(jù)至少包括發(fā)射端眼圖，發(fā)射光功率，發(fā)射光功率監(jiān)測精度，根據(jù)第一所述測試數(shù)據(jù)形成第一測試結(jié)果，所述第一測試結(jié)果通過GPIB接口輸出至檢測裝置；

上位機(jī)通過I2C指令配置標(biāo)準(zhǔn)光電模塊為誤碼檢測模式，并設(shè)置發(fā)射端輸出為PRBS31模式類型的偽隨機(jī)碼，同時控制標(biāo)準(zhǔn)光電模塊的接收端處于工作狀態(tài)；

上位機(jī)對DUT待測的待測光電模塊進(jìn)行測試，第二測試數(shù)據(jù)至少包括接收靈敏度，光功率監(jiān)測精度，溫度監(jiān)測，電壓監(jiān)測，接收無光告警電平和消除電平，根據(jù)所述第二測試數(shù)據(jù)形成第二測試結(jié)果，所述第二測試結(jié)果通過GPIB接口輸出至標(biāo)準(zhǔn)光電模塊。