[發明專利]一種基于FPGA的偽隨機序列周期檢測方法

有效

• 申請號: 202110497805.1
• 申請日: 2021-05-08
• 公開（公告）號: CN113255261B
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 丁群;余龍飛;丁威;張仁秀
• 申請（專利權）人: 黑龍江大學
• 主分類號: G06F30/331
• 分類號: G06F30/331
• 代理公司: 哈爾濱市哈科專利事務所有限責任公司 23101
• 代理人: 吳振剛

1.一種基于FPGA的偽隨機序列周期檢測方法，其特征在于，步驟如下：

步驟一：對于有限精度的位寬為m位的數字化混沌系統，首先定義一個一維數組C＝{C₁,C₂,…,C_i}，用于計數，對該數組元素進行相關的初始化操作，即

C_i＝2ⁱ,i∈{1,2,3,…,m}

步驟二：定義一個三維變量數組A，在初始化時，需要將所有的數組元素均取為0，如下式所示：

式中，A_1i用于存儲參考值，A_2i則對輸入進行計數，A_3i則判斷是否達到周期狀態；

步驟三：將步驟一和步驟二中分別定義的數組C和A以及確定迭代初始值之后混沌系統輸出的狀態序列 D={D₁ ， D₂ ，…， D_i ，…， D₂^m_-1} 分別代入定時更換參考值算法ACR中，并且將C和A拆分成m組，分別為{C₁,A₁₁,A₂₁,A₃₁}，{C₂,A₁₂,A₂₂,A₃₂}，… ，{C_m,A_1m,A_2m,A_3m}，這m組同時代入到ACR算法中執行，ACR算法為：首先初始化第一個參考值A_1i為D₀，將m位輸入d_in按順序取D值輸入系統，其次，將每次輸入的數值d_in與參考值A_1i作比較，判斷兩者是否相等，若相等，則表明系統進入到周期中，否則，將寄存器進行累加操作，接著，對新的輸入進行對比操作，最后，當寄存器數值A_2i＝C_i時，重新更換參考值A_1i為下一拍的輸入的數值，即A_1i＝d_in；

步驟四：在步驟三中，m組同時執行，對于每一組，將每一次的輸入D同A_1i進行對比，如果A_1i＝d_in，表明系統進入了周期狀態，且此時在周期態中至少迭代了一輪，給出標志信號，即A_3i＝1；

步驟五：在第二次檢測到A_1i＝d_in時，即輸入數值等于參考值，使用新的寄存器開始計數，且輸出序列，在第三次檢測到A_1i＝d_in時為止，此時完整的周期狀態均被輸出，并且此時給出寄存器的數值，即也給了周期的長度。