[發明專利]探測器調整模型的訓練方法和裝置有效
| 申請號: | 202110497692.5 | 申請日: | 2021-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN112989714B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發明(設計)人: | 周培濤;張麗;唐虎;鄧智;邢宇翔;孫運達;焦凌云;李波;金鑫;李新斌;張桂慶;杜迎帥;張萌;竇建清 | 申請(專利權)人: | 同方威視技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/27 | 分類號: | G06F30/27;G06K9/62;G06N3/08 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 張雷;方亮 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探測器 調整 模型 訓練 方法 裝置 | ||
本公開涉及一種探測器調整模型的訓練方法和裝置,涉及計算機技術領域。該訓練方法包括:采集探測器的相關信息、性能要求信息、探測器生成的圖像作為訓練集數據;利用機器學習模型處理訓練數據,輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果;根據機器學習模型的輸出和訓練集數據的標注結果,訓練機器學習模型。
技術領域
本公開涉及計算機技術領域,特別涉及一種探測器調整模型的訓練方法、探測器調整模型的訓練裝置、探測器的調整方法、探測器的調整裝置、探測器系統和非易失性計算機可讀存儲介質。
背景技術
紅外探測器生成的圖像中的不規則條紋或斑點、斑塊是紅外焦平面陣列像元不一致性的體現。紅外焦平面陣列像元不一致性也稱非均勻性。
非均勻性產生的原因十分復雜,來源主要有:探測器中各陣列元的響應特性的非一致性;1?
而且,由于存在各種非線性的影響因素,所以在圖像生成時完全消除非均勻性是不現實的。另外,由于生產制造工藝和誤差的細微差異,導致探測器個體也存在一定程度的不一致性。
在相關技術中,可以利用圖像濾波和增強算法,對紅外探測器的圖像進行調整;或者在紅外探測器出廠前對探測器參數進行兩點定標校正。
發明內容
本公開的發明人發現上述相關技術中存在如下問題:探測器的調整效果差,導致生成圖像的質量差。
鑒于此,本公開提出了一種探測器調整模型的訓練技術方案,能夠通過訓練完畢的機器學習模型,提高探測器調整的效果和生成圖像的質量。
根據本公開的一些實施例,提供了一種探測器調整模型的訓練方法包括:采集探測器的相關信息、性能要求信息、探測器生成的圖像作為訓練集數據;利用機器學習模型處理訓練數據,輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果;根據機器學習模型的輸出和訓練集數據的標注結果,訓練機器學習模型。
在一些實施例中,利用機器學習模型處理訓練數據,輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果包括:利用機器學習模型,消除探測器生成的圖像中探測器像元不一致性造成的干擾,輸出第一圖像處理結果;利用機器學習模型,對第一圖像處理結果進行壞元檢測處理和像素值填充處理,得到第二圖像處理結果。
在一些實施例中,利用機器學習模型,對第一圖像處理結果進行壞元檢測處理和像素值填充處理,得到第二圖像處理結果包括:根據第一圖像處理結果中各像素與其周圍像素的差異,檢測各壞元像素;分別以每一個壞元像素為中心,利用不同半徑內的周圍像素的像素值,填充每一個壞元像素的像素值。
在一些實施例中,訓練方法還包括:利用訓練后的機器學習模型處理測試集數據,輸出測試結果,測試結果包括測試集數據相應的調整后的探測器參數、圖像處理結果;根據測試結果相應的探測器的工作狀態和顯示效果,確定需要重新調整的探測器參數;根據需要重新調整的探測器參數,再次訓練機器學習模型。
在一些實施例中,探測器的相關信息包括探測器所處的環境條件、調整前的探測器參數,性能要求信息包括幀頻要求、SITF(Signal Transfer Function,信號傳遞函數)要求、顯示要求、NETD(Noise-Equivalent Temperature Difference,噪聲等效溫差)、MRTD(Minimum Resolvable Temperature Difference,最小可分辨溫差)中的至少一項。
在一些實施例中,利用機器學習模型處理訓練數據,輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果包括:利用機器學習模型處理探測器的相關信息、性能要求信息,輸出與調整后的探測器參數相應的探測器最優狀態類型。
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