[發明專利]探測器調整模型的訓練方法和裝置

有效

• 申請號: 202110497692.5
• 申請日: 2021-05-08
• 公開（公告）號: CN112989714B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 周培濤;張麗;唐虎;鄧智;邢宇翔;孫運達;焦凌云;李波;金鑫;李新斌;張桂慶;杜迎帥;張萌;竇建清
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G06F30/27
• 分類號: G06F30/27;G06K9/62;G06N3/08
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張雷;方亮

1.一種探測器調整模型的訓練方法，包括：

采集探測器的相關信息、探測器的性能要求信息、探測器生成的圖像作為訓練集數據，所述探測器的相關信息包括探測器所處的環境條件、調整前的探測器參數；

利用機器學習模型處理所述訓練集數據，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果；

根據所述機器學習模型的輸出和所述訓練集數據的標注結果，訓練所述機器學習模型；

所述利用機器學習模型處理所述訓練集數據，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果包括：

利用所述機器學習模型，消除所述探測器生成的圖像中探測器像元不一致性造成的干擾，輸出第一圖像處理結果；

利用所述機器學習模型，對所述第一圖像處理結果進行壞元檢測處理和像素值填充處理，得到第二圖像處理結果。

2.根據權利要求1所述的訓練方法，其中，所述利用所述機器學習模型，對所述第一圖像處理結果進行壞元檢測處理和像素值填充處理，得到第二圖像處理結果包括：

根據所述第一圖像處理結果中各像素與其周圍像素的差異，檢測各壞元像素；

分別以每一個壞元像素為中心，利用不同半徑內的周圍像素的像素值，填充所述每一個壞元像素的像素值。

3.根據權利要求1所述的訓練方法，還包括：

利用訓練后的所述機器學習模型處理測試集數據，輸出測試結果，所述測試結果包括所述測試集數據相應的調整后的探測器參數、圖像處理結果；

根據所述測試結果相應的探測器的工作狀態和顯示效果，確定需要重新調整的探測器參數；

根據所述需要重新調整的探測器參數，再次訓練所述機器學習模型。

4.根據權利要求1所述的訓練方法，其中，

所述性能要求信息包括幀頻要求、信號傳遞函數SITF要求、顯示要求、噪聲等效溫差NETD、最小可分辨溫差MRTD中的至少一項。

5.根據權利要求1所述的訓練方法，其中，所述利用機器學習模型處理所述訓練集數據，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果包括：

利用所述機器學習模型處理所述探測器的相關信息、性能要求信息，輸出與所述調整后的探測器參數相應的探測器最優狀態類型。

6.根據權利要求5所述的訓練方法，其中，

所述探測器最優狀態類型包括動態范圍最佳狀態、SITF最大狀態、非均勻性最佳狀態、線性度最佳狀態、NETD最佳狀態、MRTD最佳狀態中的至少一項。

7.根據權利要求1-6任一項所述的訓練方法，還包括：

利用完成訓練的所述機器學習模型處理待調整探測器的相關信息、性能要求信息、待調整探測器生成的圖像，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果。

8.一種探測器的調整方法，包括：

采集探測器的相關信息、探測器的性能要求信息、探測器生成的圖像作為訓練集數據，所述探測器的相關信息包括探測器所處的環境條件、調整前的探測器參數；

利用機器學習模型處理所述訓練集數據，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果；

根據所述機器學習模型的輸出和所述訓練集數據的標注結果，訓練所述機器學習模型；

利用完成訓練的所述機器學習模型處理待調整探測器的相關信息、性能要求信息、待調整探測器生成的圖像，輸出所述待調整探測器的調整后的探測器參數、所述待調整探測器的圖像處理結果；

利用所述待調整探測器的調整后的探測器參數，調整所述待調整探測器；

所述利用機器學習模型處理所述訓練集數據，輸出調整后的探測器參數、圖像處理結果包括：

利用所述機器學習模型，消除所述探測器生成的圖像中探測器像元不一致性造成的干擾，輸出第一圖像處理結果，利用所述機器學習模型，對所述第一圖像處理結果進行壞元檢測處理和像素值填充處理，得到第二圖像處理結果。