[發明專利]用于對LCD模組進行檢測的方法、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110496483.9
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113295710A
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 李國曉;李良灣;蘇達順;王巧彬
• 申請（專利權）人: 高視科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/94;G01N21/88
• 代理公司: 北京維昊知識產權代理事務所(普通合伙) 11804
• 代理人: 李波;王穎慧

本申請涉及一種用于對LCD模組進行檢測的方法、電子設備及存儲介質。該方法包括：提供第一光波與第二光波，第一光波為表面打光光源發出的光波，第一光波為三基色光中的任意一種基色光，基色濾光片為濾光裝置內的三基色濾光片中的任意一種濾光片，第二光波是由背光光源所發出，第二光波包含至少一種與第一光波不一樣的基色光；根據第一光波的基色切換第一基色濾光片；通過黑白工業相機透過第一基色濾光片對LCD模組進行拍攝，得到第一LCD模組圖像；根據第二光波的基色切換第二基色濾光片；通過黑白工業相機透過第二基色濾光片對LCD模組進行拍攝，得到第二LCD模組圖像。本申請提供的方案，能夠實現對LCD模組的缺陷檢測和區分。

技術領域

本申請涉及缺陷檢測技術領域，尤其涉及一種用于對LCD模組進行檢測的方法、電子設備及存儲介質。

背景技術

LCD模組通常為一種多層結構，在生產制造LCD模組的過程中，存在著多種貼膜、壓合的工藝，在加工過程中難免會引入一些灰塵、雜質等異物，從而造成LCD模組的成品存有缺陷。傳統的解決辦法是采用人工檢測方式，然而隨著機器視覺行業的快速發展，機器視覺缺陷檢測已經在諸多行業取代了舊有的人工檢測方式，極大地提高的了檢測效率。機器視覺缺陷檢測通常會利用高分辨率的黑白工業相機對LCD模組畫面進行成像檢測，分別拍攝兩張產品畫面，一張為背光點亮時的LCD模組的成像畫面，另一張為表面打光的LCD模組成像畫面，通過檢測算法對比兩個圖像之間亮點的位置從而區分和識別異物缺陷。

在現有技術中，公開號為CN110445921A的專利(一種基于機器視覺的手機屏背光異物缺陷診斷方法及裝置)中，提出了一種異物缺陷診斷方法，在灰塵干擾因素的去除上設計了一種灰塵側光裝置，能排除灰塵對背光異物缺陷的干擾，并針對整個背光異物缺陷的檢測設計了一套檢測算法能識別手機屏中是否含有缺陷。

上述現有技術存在以下缺點：

在灰塵側光裝置對灰塵進行打亮和成像時，容易把異物缺陷也成像出來，缺陷可能被誤判為表面灰塵而被過濾出去，造成了異物缺陷漏檢的問題。因此，需要研發一種在待測圖像中根據灰度值區分表面灰塵和異物缺陷的方法。

發明內容

為克服相關技術中存在的問題，本申請提供一種用于對LCD模組進行檢測的方法，該方法能夠提升LCD模組異物缺陷檢測的準確度，提高檢測效率。

本申請第一方面提供一種用于對LCD模組進行檢測的方法，包括：提供第一光波與第二光波，所述第一光波為表面打光光源發出的光波，所述第一光波為三基色光中的任意一種基色光，基色濾光片為濾光裝置內的三基色濾光片中的任意一種濾光片，所述第二光波是由背光光源所發出，所述第二光波包含至少一種與所述第一光波不一樣的基色光；根據所述第一光波的基色切換第一基色濾光片；通過黑白工業相機透過所述第一基色濾光片對LCD模組進行拍攝，得到第一LCD模組圖像；根據所述第二光波的基色切換第二基色濾光片；通過所述黑白工業相機透過所述第二基色濾光片對所述LCD模組進行拍攝，得到第二LCD模組圖像。

在一種實施方式中，所述方法還包括：對各LCD模組圖像分別進行感興趣區域提取，得到相應的LCD待測圖像，所述LCD待測圖像中包括至少一個響應亮點；獲取所述LCD待測圖像中至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值；使用灰度閾值對至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值進行閾值分割，確定各LCD模組圖像中至少一個響應亮點對應的異物類型，所述異物類型包括灰塵和異物缺陷。

在一種實施方式中，根據第二光波的基色切換第二基色濾光片，包括：若第二光波為三種基色組合的光，則切換第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與第一光波的基色不一樣的濾光片；若第二光波為任意兩種基色組合的光，則切換第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與第一光波的基色不一樣且與第二光波的任意一種基色一致的濾光片；若第二光波為一種基色光，則切換第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與第二光波的基色一致的濾光片。