[發明專利]用于對LCD模組進行檢測的方法、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110496483.9
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113295710A
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 李國曉;李良灣;蘇達順;王巧彬
• 申請（專利權）人: 高視科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/94;G01N21/88
• 代理公司: 北京維昊知識產權代理事務所(普通合伙) 11804
• 代理人: 李波;王穎慧

1.一種用于對LCD模組進行檢測的方法，其特征在于，包括：

提供第一光波與第二光波，所述第一光波為表面打光光源發出的光波，所述第一光波為三基色光中的任意一種基色光，基色濾光片為濾光裝置內的三基色濾光片中的任意一種濾光片，所述第二光波是由背光光源所發出，所述第二光波包含至少一種與所述第一光波不一樣的基色光；

根據所述第一光波的基色切換第一基色濾光片；

通過黑白工業相機透過所述第一基色濾光片對LCD模組進行拍攝，得到第一LCD模組圖像；

根據所述第二光波的基色切換第二基色濾光片；

通過所述黑白工業相機透過所述第二基色濾光片對所述LCD模組進行拍攝，得到第二LCD模組圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

對各LCD模組圖像分別進行感興趣區域提取，得到相應的LCD待測圖像，所述LCD待測圖像中包括至少一個響應亮點；

獲取所述LCD待測圖像中至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值；

使用灰度閾值對至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值進行閾值分割，確定各LCD模組圖像中至少一個響應亮點對應的異物類型，所述異物類型包括灰塵和異物缺陷。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據第二光波的基色切換第二基色濾光片，包括：

若所述第二光波為三種基色組合的光，則切換所述第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與所述第一光波的基色不一樣的濾光片；

若所述第二光波為任意兩種基色組合的光，則切換所述第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與所述第一光波的基色不一樣且與所述第二光波的任意一種基色一致的濾光片；

若所述第二光波為一種基色光，則切換所述第二基色濾光片為三基色濾光片中顏色與所述第二光波的基色一致的濾光片。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

所述灰度閾值根據在同一LCD待測圖像中的至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值的數值范圍確定；

所述使用灰度閾值對至少一個響應亮點分別對應的亮點灰度值進行閾值分割，包括：

分別將各個亮點灰度值與所述灰度閾值對比。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，

所述確定各LCD模組圖像中至少一個響應亮點對應的異物類型，包括：

若當前亮點灰度值小于所述灰度閾值，則判定當前亮點灰度值對應的響應亮點的異物類型為所述灰塵；

若當前亮點灰度值大于所述灰度閾值，則判定當前亮點灰度值對應的響應亮點的異物類型為所述異物缺陷。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，

所述確定各LCD模組圖像中至少一個響應亮點對應的異物類型之后，包括：

在所述LCD待測圖像中將判斷為所述灰塵的響應亮點濾除。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

在通過黑白工業相機對LCD模組進行拍攝之前，所述方法還包括：

通過所述背光光源以及所述表面打光光源打亮所述LCD模組；

所述表面打光光源以照射角度為α照射所述LCD模組，所述照射角度為所述表面打光光源發出的光波與水平面法線所形成的夾角，所述α大于零。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述通過黑白工業相機透過所述第一基色濾光片或者所述第二級色濾光片對LCD模組進行拍攝，包括：

通過所述黑白工業相機透過所述第一基色濾光片或者所述第二基色濾光片拍攝所述LCD模組的屏幕表面正視圖。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：

處理器；以及

存儲器，其上存儲有可執行代碼，當所述可執行代碼被所述處理器執行時，使所述處理器執行如權利要求1-8中任一項所述的方法。

10.一種非暫時性機器可讀存儲介質，其上存儲有可執行代碼，當所述可執行代碼被電子設備的處理器執行時，使所述處理器執行如權利要求1-8中任一項所述的方法。