[發明專利]內部導線延遲的測量

在審

• 申請號: 202110495549.2
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113674793A
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發明（設計）人: 佐藤敏行
• 申請（專利權）人: 美光科技公司
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 王艷嬌

1.一種設備，其包括：

存儲器單元陣列；

存儲體邏輯電路，其與所述存儲器單元陣列相鄰布置；和

外圍電路，其遠離所述存儲器單元陣列和所述存儲體邏輯電路中的每一個布置，其中所述外圍電路包含經由第一總線連接到所述存儲體邏輯電路的命令解碼器和經由第二總線連接到所述存儲體邏輯電路并經由所述第一總線連接到所述命令解碼器的測試電路；

其中在測試操作模式下，所述命令解碼器被配置成通過所述第一總線和通過所述第二總線將測試命令信號傳輸到所述測試電路。

2.根據權利要求1所述的設備，其中在正常操作模式下，所述命令解碼器進一步被配置成通過所述第一總線將內部命令信號傳輸到所述存儲體邏輯電路。

3.根據權利要求2所述的設備，其中所述存儲體邏輯電路包括邏輯電路，所述邏輯電路被配置成在所述正常操作模式下響應于所述內部命令信號而引起存儲器陣列的存儲體的激活。

4.根據權利要求1所述的設備，其中在所述測試操作模式下，所述測試電路被配置成基于接收到經由第三總線從所述命令解碼器接收到的所述測試命令信號與經由所述第二總線接收到的所述測試命令信號之間的時間差來確定延遲值。

5.根據權利要求4所述的設備，其中在所述測試操作模式下，所述測試電路包括過程監視器，所述過程監視器被配置成響應于接收到經由所述第三總線接收到的所述測試命令信號開始對計數時鐘的振蕩進行計數和響應于接收到經由所述第三總線接收到的所述測試命令信號停止對所述計數時鐘的振蕩進行計數，其中所述延遲值基于所述計數值。

6.根據權利要求5所述的設備，其中所述測試電路包括環形振蕩器，所述環形振蕩器被配置成提供所述計數時鐘。

7.根據權利要求5所述的設備，其中在所述測試操作模式下，所述過程監視器被配置成將所述延遲值提供為所述計數值的一半。

8.根據權利要求4所述的設備，其中所述測試電路被配置成在所述輸出信號為所述RASACTWire信號時提供所述延遲值以指示所述命令解碼器與所述存儲體邏輯電路之間的內部信號傳播延遲。

9.根據權利要求1所述的設備，其中所述存儲體邏輯電路包含多路復用器，所述多路復用器被配置成基于操作的模式是正常操作模式還是測試操作模式來選擇性地提供所述內部命令信號或所述測試命令信號中的一個作為所述輸出信號。

10.根據權利要求1所述的設備，其進一步包括熔絲存儲體或反熔絲存儲體，所述熔絲存儲體或所述反熔絲存儲體被配置成響應于程序命令基于所述延遲值來存儲延遲參數。

11.根據權利要求1所述的設備，其進一步包括數據端子，所述數據端子被配置成將所述延遲值提供給數據總線。

12.一種設備，其包括：

測試電路，其被配置成基于直接從命令解碼器接收到測試命令信號與接收到通過存儲體邏輯電路路由的所述測試命令信號的時間之間的時間來測量所述命令解碼器和所述存儲體邏輯電路之間的信號傳播延遲。

13.根據權利要求12所述的設備，其中所述測試電路被配置成通過從接收到所述測試命令信號的時間到接收到通過所述存儲體邏輯電路路由的所述測試命令信號的時間對計數時鐘的振蕩進行計數來測量所述信號傳播延遲以提供計數值，其中所述信號傳播延遲基于所述計數值。

14.根據權利要求11所述的設備，其中所述測試電路被配置成基于所述命令解碼器與所述存儲體邏輯電路之間的第一距離與所述存儲體邏輯電路與所述測試電路之間的第二距離之間的差來調整所述計數值，以測量所述信號傳播延遲。